贴电磁屏蔽膜线路测试方法、系统、设备及可读存储介质技术方案

本申请公开了一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法，包括：获取整段贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据；在整段线路中，按照贴电磁屏蔽膜线路段与无电磁屏蔽膜线路段的长度比例和位置关系，将第一阻抗测量数据分为N组测量数据，计算其中每一组测量数据在规定取值范围内的平均值，得到N个评测值，并判断是否超出规定阻抗范围，当任一评测值超出规定阻抗范围，则判定线路不合格。由于本发明专利技术测试线路阻抗时，分别测试了每段线路阻抗，准确判断每一段线路是否合格，避免现有技术中漏掉局部线路不合格，判定整体线路合格的情况出现，进而提高了线路测试方法的准确度。本申请还相应公开了贴电磁屏蔽膜线路阻抗测试系统、设备及可读存储介质。

Test method, system, equipment and readable storage medium for electromagnetic shielding film

Including the impedance test method, the invention discloses an electromagnetic shielding film with line impedance measurement data acquisition: the first paragraph with the electromagnetic shielding film line; in the whole section of the line, in accordance with the attached electromagnetic shielding film line segment and no electromagnetic shielding film line sections than the length and the position of the first cases. The impedance measurement data were divided into N group measurement data, calculated for each group, the measurement data in the provisions of the average value in the range of N, evaluation value, and determine whether beyond the prescribed impedance range, when any evaluation value exceeds the prescribed impedance range, determine the line failure. Since the invention of the line impedance test, were tested every section of the line impedance, accurate judgment of every line is qualified in the prior art is avoided missing local circuit failure, determine the overall qualified line situation, thus improving the accuracy of line test method. The application also discloses the impedance test system, equipment and readable storage medium of electromagnetic shielding film line.

【技术实现步骤摘要】
贴电磁屏蔽膜线路测试方法、系统、设备及可读存储介质
本专利技术涉及线路板阻抗管理，特别涉及一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法、系统、设备及可读存储介质。
技术介绍
线路板用于传输信号，是一种将固定的电路集中化、批量化生产的电路元件板，在电子类产品中起重要作用。随着电子类产品的飞速发展，线路板的质量要求也越来越高。目前线路的检测方法包括开短路测试、飞针测试等，这些方法只能得到整体线路的阻抗值。而贴电磁屏蔽膜的线路板中，电磁屏蔽膜区域的阻抗值下降，用当前方法检测阻抗时，很容易忽略局部线路阻抗不在允许范围内的情况，直接判断整段线路阻抗合格，导致整段线路合格，实际局部线路不合格的产品流出。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法、系统、设备及可读存储介质，以测量线路每部分的阻抗，不忽略局部线路阻抗差异，提高线路测试的准确度。其具体方案如下：一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法，包括：获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据；其中，所述第一阻抗测量数据与所述线路中阻抗测试点的位置一一对应；在整段所述线路中，按照贴电磁屏蔽膜线路段与无电磁屏蔽膜线路段的长度比例和位置关系，将所述第一阻抗测量数据分为N组测量数据；其中，N为不小于2的整数；计算所述N组测量数据中每一组测量数据在规定取值范围内的平均值，得到与N组测量数据一一对应的N个评测值，并判断所述N个评测值是否超出规定阻抗范围，如果有任一评测值超出所述规定阻抗范围，则判定所述线路不合格，如果所述N个评测值均处于所述规定阻抗范围，则判定所述线路合格。优选的，所述获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据的过程包括：通过网络分析仪对所述线路进行阻抗测试，得到由完整阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测量值为起点，所述测试阻抗曲线上结束区域上升一半处的测量值为终点；确认所述起点到所述终点区间的所述测试阻抗曲线上的阻抗测量数据为所述第一阻抗测量数据。优选的，所述贴有电磁屏蔽膜的线路包括：差分阻抗线路。优选的，所述通过网络分析仪对所述线路进行阻抗测试的过程包括：通过放置在所述差分阻抗线路的差分线对上的两个阻抗测试探头，对所述线路进行阻抗测试。优选的，所述将所述第一阻抗测量数据分为N组测量数据的过程之前，还包括：计算所述第一阻抗测量数据在所述规定取值范围内的平均值，得到第一测量值；判断所述第一测量值是否超出所述规定阻抗范围，如果是，则判定所述线路不合格，如果否，则进行下一步。优选的，所述计算所述N组测量数据中每一组测量数据在规定取值范围内的平均值，得到与N组测量数据一一对应的N个评测值，并判断所述N个评测值是否超出规定阻抗范围的过程，包括：计算所述N组测量数据中任一组的测量数据在规定取值范围内的平均值，得到对应的评测值；判断该评测值是否超出规定阻抗范围，如果是，则判定所述线路不合格，如果否，则进行下一组测量数据的计算和判断，当所述N个评测值的判定结果均为否，则判定所述线路合格。相应的，本专利技术公开了一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试系统，包括：数据获取模块，用于获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据；其中，所述第一阻抗测量数据与所述线路中阻抗测试点的位置一一对应；数据分组模块，用于在整段所述线路中，按照贴电磁屏蔽膜线路段与无电磁屏蔽膜线路段的长度比例和位置关系，将所述第一阻抗测量数据分为N组测量数据；其中，N为不小于2的整数；计算模块，用于计算所述N组测量数据中每一组测量数据在规定取值范围内的平均值，得到与N组测量数据一一对应的N个评测值；判断模块，用于判断所述N个评测值是否超出规定阻抗范围，如果有任一评测值超出所述规定阻抗范围，则判定所述线路不合格，如果所述N个评测值均处于所述规定阻抗范围，则判定所述线路合格。优选的，所述阻抗测试系统还包括：总计算模块，用于计算所述第一阻抗测量数据在所述规定取值范围内的平均值，得到第一测量值；预判断模块，用于判断所述第一测量值是否超出所述规定阻抗范围，如果是，则判定所述线路不合格，如果否，则进行下一步。相应的，本专利技术公开了一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现上文所述贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法的步骤。相应的，本专利技术还公开了一种可读存储介质，应用于计算机，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上文所述贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法的步骤。本专利技术公开了一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法，包括：获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据；其中，所述第一阻抗测量数据与所述线路中阻抗测试点的位置一一对应；在整段所述线路中，按照贴电磁屏蔽膜线路段与无电磁屏蔽膜线路段的长度比例和位置关系，将所述第一阻抗测量数据分为N组测量数据；其中，N为不小于2的整数；计算所述N组测量数据中每一组测量数据在规定取值范围内的平均值，得到与N组测量数据一一对应的N个评测值，并判断所述N个评测值是否超出规定阻抗范围，如果有任一评测值超出所述规定阻抗范围，则判定所述线路不合格，如果所述N个评测值均处于所述规定阻抗范围，则判定所述线路合格。由于本专利技术中测试线路阻抗时，分别测试了贴电磁屏蔽膜线路段和无电磁屏蔽膜线路段，准确判断了每一段线路是否合格，避免了现有技术中漏掉局部线路不合格，判定整体线路合格的情况出现，进而提高了线路测试方法的准确度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法的步骤流程图；图2为一种具体的贴有电磁屏蔽膜的线路的实物示意图；图3为一种具体的贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法的阻抗测量曲线图；图4a为一种具体的贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法的分段测量曲线图；图4b为一种具体的贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法的分段测量曲线图；图4c为一种具体的贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法的分段测量曲线图；图5为一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试系统的结构示意图；图6为一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例公开了一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法，参见图1所示，包括：S11：获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据；其中，所述第一阻抗测量数据与所述线路中阻抗测试点的位置一一对应；这里贴有电磁屏蔽膜的线路可以为差分阻抗线路，第一阻抗测量数据通过放在差分阻抗线对上的阻抗测试探头得到；上述线路也可以单端阻抗线路，阻抗测试探头获取对应的第一阻抗测量数据时，一点放在待测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法，其特征在于，包括：获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据；其中，所述第一阻抗测量数据与所述线路中阻抗测试点的位置一一对应；在整段所述线路中，按照贴电磁屏蔽膜线路段与无电磁屏蔽膜线路段的长度比例和位置关系，将所述第一阻抗测量数据分为N组测量数据；其中，N为不小于2的整数；计算所述N组测量数据中每一组测量数据在规定取值范围内的平均值，得到与N组测量数据一一对应的N个评测值，并判断所述N个评测值是否超出规定阻抗范围，如果有任一评测值超出所述规定阻抗范围，则判定所述线路不合格，如果所述N个评测值均处于所述规定阻抗范围，则判定所述线路合格。

【技术特征摘要】
1.一种贴有电磁屏蔽膜的线路的阻抗测试方法，其特征在于，包括：获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据；其中，所述第一阻抗测量数据与所述线路中阻抗测试点的位置一一对应；在整段所述线路中，按照贴电磁屏蔽膜线路段与无电磁屏蔽膜线路段的长度比例和位置关系，将所述第一阻抗测量数据分为N组测量数据；其中，N为不小于2的整数；计算所述N组测量数据中每一组测量数据在规定取值范围内的平均值，得到与N组测量数据一一对应的N个评测值，并判断所述N个评测值是否超出规定阻抗范围，如果有任一评测值超出所述规定阻抗范围，则判定所述线路不合格，如果所述N个评测值均处于所述规定阻抗范围，则判定所述线路合格。2.根据权利要求1所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述获取整段所述贴有电磁屏蔽膜的线路的第一阻抗测量数据的过程包括：通过网络分析仪对所述线路进行阻抗测试，得到由完整阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测量值为起点，所述测试阻抗曲线上结束区域上升一半处的测量值为终点；确认所述起点到所述终点区间的所述测试阻抗曲线上的阻抗测量数据为所述第一阻抗测量数据。3.根据权利要求2所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述贴有电磁屏蔽膜的线路包括：差分阻抗线路。4.根据权利要求3所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述通过网络分析仪对所述线路进行阻抗测试的过程包括：通过放置在所述差分阻抗线路的差分线对上的两个阻抗测试探头，对所述线路进行阻抗测试。5.根据权利要求1至4任一项所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述将所述第一阻抗测量数据分为N组测量数据的过程之前，还包括：计算所述第一阻抗测量数据在所述规定取值范围内的平均值，得到第一测量值；判断所述第一测量值是否超出所述规定阻抗范围，如果是，则判定所述线路不合格，如果否，则进行下一步。6.根据权利要求5所述的阻抗测试方法，其特征在于，所述计算所述N组测量数据中每一组测量数据在规定...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹斌，严小超，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44