基于交流阻抗的接触检查方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于交流阻抗的接触检查方法和装置，包括控制单元MCU、交流信号源单元、高频变压器、阈值设置单元、测量单元和检测单元；控制单元连接交流信号源单元、阈值设置单元和检测单元；交流信号源单元作为输入连接到高频变压器的原边，高频变压器的副边作为输出连接到测量单元；测量单元连接检测单元，从测量单元中两处拾取电压信号作为检测单元的输入；检测单元将测量单元的输入和阈值设置单元的输入进行比较，检测单元将比较结果送至控制单元MCU。本发明专利技术不仅可以对测量端子的测试引线的连接可靠性进行检查，而且可以对被动元器件与仪器测量端子及夹具的连接可靠性进行检查，同时，还能够自动分辨被动元器件的类别。

Contact inspection method and device based on AC impedance

The invention relates to a contact inspection method and apparatus based on AC impedance, AC signal source comprises a control unit MCU, unit, high frequency transformer, threshold setting unit, a measuring unit and a detection unit; the control unit is connected with the AC signal source unit, threshold setting unit and the detecting unit; AC signal source as the input unit connected to the primary side high frequency transformer, the secondary side of the high-frequency transformer is connected to the output measurement unit; measurement unit is connected with the detection unit, the measuring unit two pickup voltage signal as the input detection unit; a detection unit will measure the input and threshold setting unit of the input detection unit are compared, the results will be compared to the MCU control unit. The invention can not only check the connection reliability of the test lead of the measuring terminal, but also check the connection reliability between the passive components and the instrument measuring terminal and the fixture, and automatically distinguish the categories of passive components.

【技术实现步骤摘要】
基于交流阻抗的接触检查方法和装置
本专利技术涉及电子测量和仪器仪表领域，尤其是一种应用于被动电子元件电感、电容和电阻进行参数测量过程中的接触可靠性检查方法和装置。
技术介绍
电子测量仪器仪表广泛应用于现代化生产和生活的各个领域，测量仪器通过测量端子及夹具与被测元件连接，然后测量仪器才能正常开始发挥测试测量功能。通常对被动元器件进行测量时采用开尔文四线检测，如图1所示，它采用分离的电流和电压测量线路，相比于两端的传感能够进行更加精确的测量。在现实自动化生产线上采用仪器仪表进行测量和产品规格分选，由于夹具接触不良或者测试引线断线造成仪器测量结果误差，进一步地可能会将合格品判断为不合格品，不合格品判断为合格品，这就会导致产品规格误判。针对生产实践的需要，“专利CN201120409003”提出了一种用于仪表测试线接触不良检测装置，如图2所示，基于交流频率法旨在检查测试线的通断状况。如图2所示，该方法虽然能够检测HC和HP之间接触可靠与否，也能检查LP与LC之间接触可靠与否；但是并不能检查HC与LC之间接触可靠性。于是，它的缺点是：并不能检查被测件是否与仪器测量端子及夹具之间的连接可靠性。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：提出一种基于交流阻抗的接触检查装置及检查方法，不仅可以对测量端子的测试引线的连接可靠性进行检查，而且可以对被动元器件与仪器测量端子及夹具的连接可靠性进行检查，实现更加全面和有效的连接可靠性检查，同时，还能够自动分辨被动元器件的类别是属于电感、电容或者电阻。本专利技术所采用的技术方案为：一种基于交流阻抗的接触检查装置，包括控制单元MCU、交流信号源单元、高频变压器、阈值设置单元、测量单元和检测单元；所述的控制单元连接交流信号源单元、阈值设置单元和检测单元；所述的交流信号源单元作为输入连接到高频变压器的原边，高频变压器的副边作为输出连接到测量单元；所述的测量单元连接检测单元，从测量单元中两处拾取电压信号作为检测单元的输入；所述的检测单元将测量单元的输入和阈值设置单元的输入进行比较，接着，所述的检测单元将比较结果送至控制单元MCU。进一步的说，本专利技术所述的阈值设置单元包括阈值产生器单元、隔离放大器单元以及阈值调整单元；所述的控制单元MCU控制阈值产生器单元产生直流电压，隔离放大器单元对直流电压进行放大后，所述阈值调整单元再次对直流电压进行适当的衰减，并将衰减后的直流电压送到比较器单元的同相输入端。再进一步的说，本专利技术所述的测量单元包括第一标准组件、第二耦合电容、第二标准组件、第三标准组件、保险丝单元和接触检查部件。再进一步的说，本专利技术所述的检测单元包括第一电压采样单元、第二电压采样单元、减法器单元、检波器单元、比较器单元和光耦单元。再进一步的说，本专利技术所述控制单元MCU控制交流信号源单元以生成交流正弦波，所述高频变压器将此交流正弦波耦合到测量单元，所述检测单元拾取监测点电压，由减法器单元作减法获取差值电压，再由检波器单元将交流正弦波电压转换为直流电压，将转换后的直流电压送至比较器单元的反相输入端。再进一步的说，本专利技术所述比较器单元对从测量电路中拾取的电压经检波器转换成的直流电压与来自阈值设置单元的输出电压进行比较，并将比较的结果经过光耦送到控制单元，所述的控制单元MCU根据光耦的输出状态来判断接触检查部件的连接可靠性。再进一步的说，本专利技术所述控制单元MCU连接交流信号源单元的输入、阈值产生器单元的输入和光耦单元的输出，交流信号源单元的输出连接第一耦合电容的一端、第一耦合电容的另一端连接高频变压器原边的一端，高频变压器原边的另一端连接1号参考地基准SGND1，高频变压器副边的一端连接第一标准组件的一端，高频变压器副边的另一端连接2号参考地基准SGND2，第一标准组件的另一端连接第二耦合电容的一端和第一电压采样单元的输入端，第一电压采样单元的输出端连接减法器单元的一个输入端，第二耦合电容的另一端连接第二标准组件的一端，第二标准组件的另一端连接接触检查部件，接触检查部件的另一端连接第三标准组件的一端，第三标准组件的另一端连接保险丝的一端和第二电压采样单元的输入端，保险丝单元的另一端连接高频变压器副边的另一端和2号参考地基准SGND2，第二电压采样单元的输出端连接减法器单元另一个输入端，减法器单元的输出端连接检波器单元的输入端，检波器单元的输出端连接比较器单元的另一个输入端，比较器单元的输出端连接光耦单元的输入端。再进一步的说，本专利技术所述控制单元MCU、交流信号源单元、第一耦合电容、阈值产生器单元、高频变压器原边、隔离放大器的输入端和光耦单元的输出端以1号参考地基准SGND1为接地参考；高频变压器副边、第一标准组件、第二标准组件、第三标准组件、保险丝单元、接触检查部件、第二耦合电容、第一电压采样单元、第二电压采样单元、减法器单元、检波器单元、比较器单元、阈值调整单元、隔离放大器输出端和光耦输入端以2号参考地基准SGND2为接地参考。一种基于交流阻抗的接触检查方法，包括以下步骤：第一步，接触检查部件连接到接触检查电路中；第二步，控制单元MCU控制交流信号源单元生成一个频率的交流正弦信号，控制单元MCU同时控制阈值设置单元生成阈值电平送至检波器单元中比较器单元的同相输入端作为设置电压；第三步，交流正弦信号通过变压器耦合到测量电路，电压采样电路从采样点拾取电压并送至检测电路单元中减法器；第三步，检测电路中的减法器对两处采样电压进行相减生成差值电压，相减的结果差值电压送至检波器单元；第四步，检波器单元将差值进行绝对值转换，并且提取相应的直流电压值送至比较器单元的反相输入端；第五步，比较器单元将两字检波器单元的直流电压和设置电压进行比较，并将比较的结果送至控制单元MCU；第六步，控制单元MCU根据检测单元的输出结果，结合比较算法，来判断接触检查部件的连接可靠性；第七步，将被测件连接到以上所述的接触检查部件的位置，由控制单元MCU控制交流信号单元生成不同频率的两个交流正弦波，将此不同频率的交流正弦波施加到被测件上；第八步，控制单元控制MCU控制阈值设置单元和检测单元中的比较器可组成逐次逼近型模数转换器，对采样点的电压差值进行模数转换，并记录结果；第九步，控制单元MCU依据被动元件的幅频特性的特点，根据不同频率下，电压采样点的电压差值来判断被测件的类别。本专利技术的有益效果是：不仅可以对测量端子的测试引线的连接可靠性进行检查，而且可以对被动元器件与仪器测量端子及夹具的连接可靠性进行检查，实现更加全面和有效的连接可靠性检查，同时，还能够自动分辨被动元器件的类别是属于电感、电容或者电阻。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1是开尔文四线检测原理图；图2是仪表测试线接触不良检测装置图；图3是本专利技术装置的结构示意图；图4是本专利技术装置的电路原理框图；图5是本专利技术装置的信号流径图；图6是本专利技术装置的测量原理简图。具体实施方式现在结合附图和优选实施例对本专利技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。如图3-6所示，一种基于交流阻抗的接触检查装置，包括控制单元MCU、交流信号源单元、高频变压器、阈值设置单元、测量单元和检测单元；所述的阈值设置单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：包括控制单元MCU、交流信号源单元、高频变压器、阈值设置单元、测量单元和检测单元；所述的控制单元连接交流信号源单元、阈值设置单元和检测单元；所述的交流信号源单元作为输入连接到高频变压器的原边，高频变压器的副边作为输出连接到测量单元；所述的测量单元连接检测单元，从测量单元中两处拾取电压信号作为检测单元的输入；所述的检测单元将测量单元的输入和阈值设置单元的输入进行比较，接着，所述的检测单元将比较结果送至控制单元MCU。

【技术特征摘要】
1.一种基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：包括控制单元MCU、交流信号源单元、高频变压器、阈值设置单元、测量单元和检测单元；所述的控制单元连接交流信号源单元、阈值设置单元和检测单元；所述的交流信号源单元作为输入连接到高频变压器的原边，高频变压器的副边作为输出连接到测量单元；所述的测量单元连接检测单元，从测量单元中两处拾取电压信号作为检测单元的输入；所述的检测单元将测量单元的输入和阈值设置单元的输入进行比较，接着，所述的检测单元将比较结果送至控制单元MCU。2.如权利要求1所述的基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：所述的阈值设置单元包括阈值产生器单元、隔离放大器单元以及阈值调整单元；所述的控制单元MCU控制阈值产生器单元产生直流电压，隔离放大器单元对直流电压进行放大后，所述阈值调整单元再次对直流电压进行适当的衰减，并将衰减后的直流电压送到比较器单元的同相输入端。3.如权利要求1所述的基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：所述的测量单元包括第一标准组件、第二耦合电容、第二标准组件、第三标准组件、保险丝单元和接触检查部件。4.如权利要求1所述的基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：所述的检测单元包括第一电压采样单元、第二电压采样单元、减法器单元、检波器单元、比较器单元和光耦单元。5.如权利要求1所述的基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：所述控制单元MCU控制交流信号源单元以生成交流正弦波，所述高频变压器将此交流正弦波耦合到测量单元，所述检测单元拾取监测点电压，由减法器单元作减法获取差值电压，再由检波器单元将交流正弦波电压转换为直流电压，将转换后的直流电压送至比较器单元的反相输入端。6.如权利要求4所述的基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：所述比较器单元对从测量电路中拾取的电压经检波器转换成的直流电压与来自阈值设置单元的输出电压进行比较，并将比较的结果经过光耦送到控制单元，所述的控制单元MCU根据光耦的输出状态来判断接触检查部件的连接可靠性。7.如权利要求1所述的基于交流阻抗的接触检查装置，其特征在于：所述控制单元MCU连接交流信号源单元的输入、阈值产生器单元的输入和光耦单元的输出，交流信号源单元的输出连接第一耦合电容的一端、第一耦合电容的另一端连接高频变压器原边的一端，高频变压器原边的另一端连接1号参考地基准SGND1，高频变压器副边的一端连接第一标准组件的一端，高频变压器副边的另一端连接2号参考地基准SGND2，第一标准组件的另一端连接第二耦合电容的一端和第一电压采样...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵浩华，高志齐，孙伯乐，王恒斌，王怒，苏金锋，江泽梧，赵志坚，
申请(专利权)人：常州同惠电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32