线路上位置点阻抗测试方法、系统、装置及可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种线路上位置点阻抗测试方法，包括：所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测试点M(a,b)为起点，设置所述测试阻抗曲线上最后一段上升曲线上上升一半的测试点N(c,d)为终点；获取所述线路的全长l；对任一位置点，当已获取所述位置点和所述线路的测试起始端的距离s，按照公式

Location point impedance test method, system, device and readable storage medium on line

The invention discloses a point line impedance test method, including: the line impedance test, for testing the impedance curve data of the line impedance measurement; setting the test impedance curve first increased trough test point at half M (a, b) as the starting point, set the the N test point up half of the impedance curve on the last stage of rising curve test (C, d) to obtain the full-length l end point; line; in any position, when the initial test has been obtained by the point and the line end distance s, according to the formula

【技术实现步骤摘要】
线路上位置点阻抗测试方法、系统、装置及可读存储介质
本专利技术涉及电子线路，特别涉及一种线路上位置点阻抗测试方法、系统、装置及可读存储介质。
技术介绍
电导线路是电子技术中重要的硬件之一，一般以线束或集成线路板的形式工作。随着电子技术的发展，对于电子线路的质量要求越来越高，其线路阻抗是检验线路质量的一项重要参数。目前线路的检测方法包括开短路测试、飞针测试等，这些方法能得到整体线路的阻抗值，但因为算法本身的缘故，只能依据得到的阻抗值判断整段线路的开断路情况，无法获取线路上某一具体位置点的阻抗情况。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种线路上位置点阻抗测试方法、系统、装置及可读存储介质。其具体方案如下：一种线路上位置点阻抗测试方法，包括：通过阻抗测试仪对所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；其中，所述测试阻抗曲线横坐标为测试时间，纵坐标为对应的阻抗；设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测试点M(a,b)为起点，设置所述测试阻抗曲线上最后一段上升曲线上上升一半的测试点N(c,d)为终点；获取所述线路的全长l；对任一位置点，当已获取所述位置点和所述线路的测试起始端的距离s，按照公式：计算得到测试阻抗曲线上对应的测试点Q的横坐标x；根据测试阻抗曲线上测试点Q的横坐标x，得到对应的点Q坐标(x,y)，从而得到所述位置点的阻抗。优选的，所述测试方法还包括：当已获取所述测试阻抗曲线上某一点P的坐标(m,n)，按照公式：得到所述点P对应的位置点与所述线路的测试起始端的距离r，确认所述点P对应的位置点和该位置点的阻抗。优选的，所述测试方法还包括：对任一测试点，计算误差区间内阻抗的平均值，获取该测试点的修正阻抗；其中，所述误差区间为该测试点的横坐标±预设误差值的取值区间，且所述线路上存在与该测试点对应的位置点。优选的，所述测试方法还包括：判断该位置点的所述修正阻抗是否在规定阻抗范围内；如果否，则判定该位置点阻抗异常。本专利技术还公开了一种线路上位置点阻抗测试系统，包括：曲线获取模块，用于通过阻抗测试仪对所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；其中，所述测试阻抗曲线横坐标为测试时间，纵坐标为对应的阻抗；端点设置模块，用于设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测试点M(a,b)为起点，设置所述测试阻抗曲线上最后一段上升曲线上上升一半的测试点N(c,d)为终点；线长获取模块，用于获取所述线路的全长l；坐标获取模块，用于对任一位置点，当已获取所述位置点和所述线路的测试起始端的距离s，按照公式：计算得到测试阻抗曲线上对应的测试点Q的横坐标x；阻抗获取模块，用于根据测试阻抗曲线上测试点Q的横坐标x，得到对应的点Q坐标(x,y)，从而得到所述位置点的阻抗。优选的，所述测试系统还包括：距离获取模块，用于当已获取所述测试阻抗曲线上某一点P的坐标(m,n)，按照公式：得到所述点P对应的位置点与所述线路的测试起始端的距离r，确认所述点P对应的位置点和该位置点的阻抗。优选的，所述测试系统还包括：阻抗修正模块，用于对任一测试点，计算误差区间内阻抗的平均值，获取该测试点的修正阻抗；其中，所述误差区间为该测试点的横坐标±预设误差值的取值区间，且所述线路上存在与该测试点对应的位置点。优选的，所述测试系统还包括：判断模块，用于判断该位置点的所述修正阻抗是否在规定阻抗范围内；如果否，则判定该位置点阻抗异常。本专利技术还公开了一种线路上位置点阻抗测试装置，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上文所述线路上位置点阻抗测试方法的步骤。本专利技术还公开了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上文所述线路上位置点阻抗测试方法的步骤。本专利技术公开了一种线路上位置点阻抗测试方法，包括：通过阻抗测试仪对所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；其中，所述测试阻抗曲线横坐标为测试时间，纵坐标为对应的阻抗；设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测试点M(a,b)为起点，设置所述测试阻抗曲线上最后一段上升曲线上上升一半的测试点N(c,d)为终点；获取所述线路的全长l；对任一位置点，当已获取所述位置点和所述线路的测试起始端的距离s，按照公式计算得到测试阻抗曲线上对应的测试点Q的横坐标x；根据测试阻抗曲线上测试点Q的横坐标x，得到对应的点Q坐标(x,y)，从而得到所述位置点的阻抗。本专利技术获取了整段线路的阻抗测试曲线，且获取了曲线上测试点与线路上位置点之间的对应关系，通过所述对应关系，可以获得线路上某一具体位置点的阻抗情况。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为一种线路上位置点阻抗测试方法的步骤流程图；图2为一具体实际线路的阻抗测量曲线；图3为一种线路上位置点阻抗测试系统的结构分布图；图4为一种线路上位置点阻抗测试装置的结构分布图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例公开了一种线路上位置点阻抗测试方法，参见图1所示，包括：S1：通过阻抗测试仪对所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；其中，所述测试阻抗曲线横坐标为测试时间，纵坐标为对应的阻抗；S2：设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测试点M(a,b)为起点，设置所述测试阻抗曲线上最后一段上升曲线上上升一半的测试点N(c,d)为终点；可以理解的是，测试阻抗曲线上曲线MN对应实际线路测试起始端到终端。S3：获取所述线路的全长l；可以理解的是，步骤S3在步骤S4之前完成即可，并不限制S3与S1或S2的动作先后。S4：对任一位置点，当已获取所述位置点和所述线路的测试起始端的距离s，按照公式：计算得到测试阻抗曲线上对应的测试点Q的横坐标x；可以理解的是，由于阻抗测试曲线上曲线MN与实际线段为线性关系一一对应，因此当已知一方，可以通过位置关系和长度比例计算得到另外一方。进一步的，当已获取所述测试阻抗曲线上某一点P的坐标(m,n)，按照公式：得到所述点P对应的位置点与所述线路的测试起始端的距离r，确认所述点P对应的位置点和该位置点的阻抗。S5：根据测试阻抗曲线上测试点Q的横坐标x，得到对应的点Q坐标(x,y)，从而得到所述位置点的阻抗。更具体的，对某一实际线路应用本方法测量，该实际线路的线长测得为66.03mm，获得的阻抗测试曲线如图2所示，其中起点为点1，横坐标111.56ps，终点为点2，横坐标790.09ps。通过上述方法对图中光标标记的点3、4、5、6、7、8、9进行测试点坐标和位置点距离的计算，例如点3的横坐标为170.89ps，通过计算得点3对应位置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种线路上位置点阻抗测试方法，其特征在于，包括：通过阻抗测试仪对所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；其中，所述测试阻抗曲线横坐标为测试时间，纵坐标为对应的阻抗；设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测试点M(a,b)为起点，设置所述测试阻抗曲线上最后一段上升曲线上上升一半的测试点N(c,d)为终点；获取所述线路的全长l；对任一位置点，当已获取所述位置点和所述线路的测试起始端的距离s，按照公式：

【技术特征摘要】
1.一种线路上位置点阻抗测试方法，其特征在于，包括：通过阻抗测试仪对所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；其中，所述测试阻抗曲线横坐标为测试时间，纵坐标为对应的阻抗；设置所述测试阻抗曲线上第一个波谷上升一半处的测试点M(a,b)为起点，设置所述测试阻抗曲线上最后一段上升曲线上上升一半的测试点N(c,d)为终点；获取所述线路的全长l；对任一位置点，当已获取所述位置点和所述线路的测试起始端的距离s，按照公式：计算得到测试阻抗曲线上对应的测试点Q的横坐标x；根据测试阻抗曲线上测试点Q的横坐标x，得到对应的点Q坐标(x,y)，从而得到所述位置点的阻抗。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括：当已获取所述测试阻抗曲线上某一点P的坐标(m,n)，按照公式：得到所述点P对应的位置点与所述线路的测试起始端的距离r，确认所述点P对应的位置点和该位置点的阻抗。3.根据权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，还包括：对任一测试点，计算误差区间内阻抗的平均值，获取该测试点的修正阻抗；其中，所述误差区间为该测试点的横坐标±预设误差值的取值区间，且所述线路上存在与该测试点对应的位置点。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，还包括：判断该位置点的所述修正阻抗是否在规定阻抗范围内；如果否，则判定该位置点阻抗异常。5.一种线路上位置点阻抗测试系统，其特征在于，包括：曲线获取模块，用于通过阻抗测试仪对所述线路进行阻抗测试，获取所述线路阻抗测量数据组成的测试阻抗曲线；其中，所述测试阻抗曲线横坐标为测试时间，纵坐标为对应的阻抗；端点设置模块，用于设置所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹斌，严小超，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44