【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示领域，尤其涉及一种液晶面板的透过变化率测试方法及制作方法。
技术介绍
1、液晶面板包括液晶盒以及上偏光片、下偏光片，所述上偏光片和下偏光片分别贴合于所述液晶盒的上下表面。由于所述液晶面板是基于液晶材料的旋光性以及偏光片的偏振性来控制光线透过与否的，因此所述液晶盒与所述上偏光片和下偏光片之间的相对角度影响着所述液晶面板的透过率。
2、在生产制作所述液晶面板时，所述液晶盒与所述上偏光片和下偏光片之间贴合角度的偏差总是无法避免的，即所述上偏光片和下偏光片在贴合后总是相对于所述液晶盒存在一定角度的旋转偏差，这导致不同液晶面板之间存在亮度不一致的问题，个别液晶面板偏亮，而个别液晶面板又偏暗。
3、为了解决上述的贴合旋转偏差问题，目前主要利用机器视觉系统来提高所述液晶盒与所述上偏光片和下偏光片之间的贴合精度，但是机器视觉系统存在成本较高、算法复杂的问题。
技术实现思路
1、为了解决上述现有技术的不足，本专利技术提供一种液晶面板的透过变化率测试方法，可计算出所述...
【技术保护点】
1.一种液晶面板的透过变化率测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的透过变化率测试方法，其特征在于，所述上偏光片和下偏光片的旋转方式包括正旋和反旋，正旋时则在步骤200中正向旋转所述上偏光片和下偏光片中至少一个，反旋时则在步骤200中反向旋转所述上偏光片和下偏光片中至少一个。
3.根据权利要求1或2所述的透过变化率测试方法，其特征在于，所述上偏光片和下偏光片的旋转方式包括单旋和双旋，单旋时则在步骤200中仅旋转所述上偏光片或下偏光片，双旋时则在步骤200中同时旋转所述上偏光片和下偏光片。
4.根据权利要求1所述...
【技术特征摘要】
1.一种液晶面板的透过变化率测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的透过变化率测试方法，其特征在于，所述上偏光片和下偏光片的旋转方式包括正旋和反旋，正旋时则在步骤200中正向旋转所述上偏光片和下偏光片中至少一个，反旋时则在步骤200中反向旋转所述上偏光片和下偏光片中至少一个。
3.根据权利要求1或2所述的透过变化率测试方法，其特征在于，所述上偏光片和下偏光片的旋转方式包括单旋和双旋，单旋时则在步骤200中仅旋转所述上偏光片或下偏光片，双旋时则在步骤200中同时旋转所述上偏光片和下偏光片。
4.根据权利要求1所述的透过变化率测试方法，其特征在于，所述上偏光片和下偏光片包括粘性可变胶，并且通过所述粘性可变胶分别贴合于所述液晶盒的上下表面。
5.根据权利要求4所述的透过变化率测试方法，其特征在于，所述粘性可变胶为热敏胶或光敏胶。
6.根据权利要求4所述的透过变化率测试方法，其特征在于，在步骤200中，将所述上偏光片和下偏光片中至少一个绕所述液晶盒的出光中轴旋转至不同角度的步骤如下：
7.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨磊，黄梦雅，林伟迪，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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