一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法技术

本发明专利技术公开了一种利用红外特性实现液晶屏对位用mark点的图像采集方法，用于检测液晶屏现有制作工艺中各材料层压制时对位偏移的缺陷。本发明专利技术包括红色点光源、发射特定波段红外光的光源，广光谱响应宽度相机，远心镜头以及市场常用液晶屏样本。通过上述部件组合成的光学系统可采集到液晶屏压制时对位用的mark点，进而判断是否发生对位偏移为改善对位工艺提供依据，对于整个液晶屏行业生产质量的提高有着重大意义。

A method for detecting offset defect of liquid crystal screen

The invention discloses an image acquisition method using the infrared characteristic to realize the LCD screen para bit with the mark point, which is used to detect the defect of the alignment of the material layer during the pressing process of the LCD screen. The invention comprises a red point light source, a light source emitting specific band infrared light, a wide spectrum response width camera, a telecentric lens and a commonly used liquid crystal screen sample in the market. The optical system composed of the above components can collect the mark point of the LCD when pressing the LCD screen, and further determine whether the alignment offsets occur. It provides a basis for improving the alignment process and has great significance for the improvement of the production quality of the LCD panel industry.

【技术实现步骤摘要】
一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法
本专利技术设计一种检测方法，具体地说，是一种为检测液晶屏制作过程中会出现的对位偏移缺陷而设计的检测方法
技术介绍
目前国内对于对位偏移的检测多是针对PCB板或者电子元件的对准，通过获取包含有基准尺或者验证圆的基板的图形图像，再获取包含测尺的欲对位板的图像，然后判断基准尺与侧尺的偏移来实现对位偏移检测。这种方法需要进行两次图像捕获，并且需要基准尺或验证圆等辅助检测，增加工序复杂度，影响检测效率。另一方面，对于非表面检测，目前常用方法是利用X光等穿透性光线获取内部图像，这对于获取反射率相差无几的物体图像是可行的，反之，对于反射率不同的两种物体，利用此原理是无法同时得到两种物体的清晰图像的。
技术实现思路
本专利技术的目的在于采用低成本的方式实现液晶屏层间对位偏移缺陷的检测，实现检测精度高，速度快的目的。本专利技术技术方案为：一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法，该方法包括：步骤1：采用红色可见光对液晶屏进行补光，获取液晶屏玻璃层可见光图像；步骤2：采用红外光对对液晶屏进行补光，获取液晶屏电极层红外光图像；步骤3：对获取的玻璃层可见光图像和电极层红外光图像，分别进行灰本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法，该方法包括：步骤1：采用红色可见光对液晶屏进行补光，获取液晶屏玻璃层可见光图像；步骤2：采用红外光对对液晶屏进行补光，获取液晶屏电极层红外光图像；步骤3：对获取的玻璃层可见光图像和电极层红外光图像，分别进行灰度处理，再采用不同的阈值进行二值化处理，用于得到玻璃层和电极层的二值化图像；步骤4：采用标准的mark标志图像对玻璃层二值化图像中各区域图像进行匹配，找到玻璃层二值化图像中mark标志，采用相同方式找到电极层二值化图像中的mark标志；步骤5：对玻璃层二值化图像中mark标志和电极层二值化图像中的mark标志分别进行轮廓提取；步骤6：分别计算出玻璃层mark...

【技术特征摘要】
1.一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法，该方法包括：步骤1：采用红色可见光对液晶屏进行补光，获取液晶屏玻璃层可见光图像；步骤2：采用红外光对对液晶屏进行补光，获取液晶屏电极层红外光图像；步骤3：对获取的玻璃层可见光图像和电极层红外光图像，分别进行灰度处理，再采用不同的阈值进行二值化处理，用于得到玻璃层和电极层的二值化图像；步骤4：采用标准的mark标志图像对玻璃层二值化图像中各区域图像进行匹配，找到玻璃层二值化图像中mark标志，采用相同方式找到电极层二值化图像中的mark标志；步骤5：对玻璃层二值化图像中mark标志和电极层二值化图像中的mark标志分别进行轮廓提取；步骤6：分别计算出玻璃层mark标志轮廓和电极层mark标志轮廓的中心点，通过两中心点的重合度来判断液晶屏对位是否偏移。2.如权利要求1所述的一种液晶屏对位偏移缺陷检测方法,其特征在于所述步骤4的匹配方法为：通过计算两图像的匹配度，找出匹配度最大的区域即mark标志；匹配度的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘霖，胡杰，刘三亚，刘笑寒，杜晓辉，倪光明，张静，刘娟秀，刘永，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51