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本发明公开了一种利用红外特性实现液晶屏对位用mark点的图像采集方法，用于检测液晶屏现有制作工艺中各材料层压制时对位偏移的缺陷。本发明包括红色点光源、发射特定波段红外光的光源，广光谱响应宽度相机，远心镜头以及市场常用液晶屏样本。通过上述部件...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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