The invention discloses a wide bandgap semiconductor power device test device, the test device includes an input interface of wide bandgap semiconductor power devices device, wide bandgap semiconductor power devices output interface device and a power supply device, data acquisition device, data storage device, data processing device and data display device, wherein the data acquisition device is the same a condition of voltage, wide bandgap semiconductor power devices resistance and inductance parameters, and these parameters are stored in a data storage device to form the band gap of semiconductor power devices wide series of test parameters. The invention can parasitized the influence of the parameters, and the measurement results are more accurate, but also the advantages of the common electrical test equipment and the fast test speed are retained.
【技术实现步骤摘要】
一种用于宽禁带半导体功率器件的测试装置
本专利技术涉及一种半导体功率器件的测试装置,具体地涉及一种用于宽禁带半导体功率器件的测试装置。
技术介绍
GaN高电子迁移率晶体管(HighElectronMobilityTransistor,简写HEMT)具有非常高的二维电子气(2-DEG)浓度、高饱和电子迁移速度和高击穿电压等优点,使得GaNHEMT器件在微波功率应用领域具有GaAs器件无法比拟的优势。但正是由于GaNHEMT具有很高的功率密度,约为GaAspHEMT器件的5~10倍,使得其在工作过程中由于功率耗散引起的自热效应十分明显,因此必须考虑自热效应对器件性能的影响。热阻Rth和热容Cth是描述器件热传输特性最常用的两个热网络参数,在已知热阻和热容的条件下,可以得到器件结温随环境温度及功耗的变化关系,从而可用于分析器件特性以及器件的可靠性。因此,GaNHEMT器件热网络参数(热阻Rth和热容Cth)的准确测试,是器件结构设计、器件建模以及器件可靠性评估的重要环节。常用的测量器件性能的方法主要有光学法和电学法。其中光学法主要有拉曼光谱法、发射式热成像法以及红外热成像法等,这类方法有几个缺点,首先光学测试设备复杂且校准困难,而且一般需要与被测器件接触(物理接触或光学接触),在测量GaNHEMT器件结温时不是很实用,另外光学法很难在测量热阻的同时测量热容。电学法的测量设备为射频微波实验室常用的测量仪器,测试方法灵活,测试速度快,主要有脉冲测试方法和频域测试方法两种。其中脉冲测试方法是利用不同温度和静态偏置条件下的窄脉冲IV测试来提取器件的热阻,测量方法简单,测 ...
【技术保护点】
一种宽禁带半导体功率器件测试装置,该测试装置包括宽禁带半导体功率器件输入接口装置、宽禁带半导体功率器件输出接口装置、电源供给装置、数据采集装置、数据存储装置、数据处理装置和数据显示装置,其特征在于:所述数据采集采集装置采集同一工况下宽禁带半导体功率器件的电压、电阻和电感参数,并将上述参数存储到数据存储装置形成待测试宽禁带半导体功率器件参数系列。
【技术特征摘要】
1.一种宽禁带半导体功率器件测试装置,该测试装置包括宽禁带半导体功率器件输入接口装置、宽禁带半导体功率器件输出接口装置、电源供给装置、数据采集装置、数据存储装置、数据处理装置和数据显示装置,其特征在于:所述数据采集采集装置采集同一工况下宽禁带半导体功率器件的电压、电阻和电感参数,并将上述参数存储到数据存储装置形成待测试宽禁带半导体功率器件参数系列。2.根据权利要求1所述的一种宽禁带半导体功率器件测试装置,其特征在于:所述数据处理装置具有虚拟等效电路模块和寄生参数模块,所述的虚拟等效电路模块能够模拟宽禁带半导体功率器件所要接入的电路,所述的寄生参数模块能够模拟待测试宽禁带半导体功率器件所要接入的电路所产生的寄生电容与寄生电感。3.根据权利要求1所述的一种宽禁带半导体功率器件测试装置,其特征在于:所述数据采集装置采集的参数包括:开通电压、门极电感、门-源电压、关断电压、漏极电感、门-漏电压、...
【专利技术属性】
技术研发人员:王文博,
申请(专利权)人:北京国联万众半导体科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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