一种电子装置封装外壳制造方法及图纸

技术编号:17171609 阅读:31 留言:0更新日期:2018-02-02 04:48
本实用新型专利技术涉及集成电路封装技术领域,尤其涉及一种电子装置封装外壳,包括LTCC基片、金属框和盖板,LTCC基片包括顶层、中间层和底层,顶层包括框体焊区和元器件区,底层在对应元器件区的位置上形成平面栅格阵列,元器件区与平面栅格阵列通过中间层连接,框体焊区包围元器件区,框体焊区与金属框的下表面焊接,金属框的上表面与盖板连接。由此本实用新型专利技术的LTCC基片作为载体成为整个封装外壳的一部分,既承担着引出脚的引出方式,又承担了电路的功能布线及表贴元器件的焊接、压焊等组装。LTCC基片多层排布,具有大功率、重量轻、小型化等特点。金属腔体能够防止电路之间的串扰和电磁干扰,并可以较好的满足集成电路高可靠性封装的要求。

An electronic package enclosure

【技术实现步骤摘要】
一种电子装置封装外壳
本技术涉及集成电路封装
,尤其涉及一种电子装置封装外壳。
技术介绍
目前平面栅格阵列(LGA)封装方式一般应用于小体积、高功率密度集成电路产品,该型封装适合表面贴装,其载体材料可为PCB印制板或陶瓷基板,其壳体材料可为环氧塑封料、金属腔体或陶瓷腔体。对于高功率密度低压大电流型DC/DC降压电路,如果采用PCB印制板和环氧塑封料进行封装,无法满足军用等高可靠应用领域需求,质量等级低。如果载体和壳体全部采用陶瓷材料封装,在结构设计上更不好满足体积小、基片多层布线等相关要求,且加工难度大,可行性低。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本技术要解决的技术问题是解决现有的平面栅格阵列封装方式可靠性低且难以满足体积小、基片多层布线的要求的问题。(二)技术方案为了解决上述技术问题,本技术提供了一种电子装置封装外壳,包括LTCC基片、金属框和盖板,所述LTCC基片包括顶层、中间层和底层,所述顶层包括框体焊区和元器件区,所述底层在对应所述元器件区的位置上形成平面栅格阵列,所述元器件区与所述平面栅格阵列通过所述中间层连接,所述框体焊区包围所述元器件区,所述框体焊区与所述金属框的下表面焊接,所述金属框的上表面与所述盖板连接。其中,所述框体焊区的宽度大于所述金属框的厚度,且所述框体焊区的边缘与其靠近的所述金属框下表面的边缘的距离在0.1~0.2mm之间。其中,所述框体焊区与所述金属框的下表面通过大于300℃的高温共熔焊连接。其中,所述盖板与所述金属框通过平行缝焊方式密封焊接。其中,所述底层通过表层印刷导体及阻焊层形成所述平面栅格阵列。其中,所述元器件区与所述平面栅格阵列通过所述中间层的过孔连接。其中,所述盖板与所述金属框均由可伐合金制成。其中,所述盖板具有边沿,所述边沿的厚度小于所述盖板的厚度,所述边沿与所述金属框的上表面对应连接。(三)有益效果本技术的上述技术方案具有如下优点:本技术电子装置封装外壳采用将金属与陶瓷结合进行焊接组装,LTCC基片的顶层表面设有元器件区,用于安装被封装的元器件和电路,LTCC基片的底层对应元器件区处设有通过中间层与元器件区连接的平面栅格阵列(LGA),从而使本技术成为具有表面贴装型引出脚方式的电子装置壳体,同时在LTCC基片顶层元器件区周围预留用于高温焊接金属框的焊区,即对LTCC基片部分区域金属化形成框体焊区,保证金属框与LTCC基片良好焊接以及防止金属框与LTCC基片错位,金属框上下两端分别与盖板和LTCC基片连接,从而使内部空间成为形成封装元器件和电路的空腔,由此本技术的LTCC基片作为载体成为整个封装外壳的一部分,既承担着引出脚的引出方式,又承担了电路的功能布线及表贴元器件的焊接、压焊等组装。本技术结构合理、加工容易、使用方便,LTCC基片多层排布,散热好、机械强度高,具有大功率、重量轻、小型化等特点。与同类环氧塑封封装结构相比,金属腔体能够防止电路之间的串扰和电磁干扰,并可以较好的满足集成电路高可靠性封装的要求。除了上面所描述的本技术解决的技术问题、构成的技术方案的技术特征以及有这些技术方案的技术特征所带来的优点之外,本技术的其他技术特征及这些技术特征带来的优点,将结合附图作出进一步说明。附图说明图1是本技术实施例电子装置封装外壳的结构示意图;图2是本技术实施例电子装置封装外壳的LTCC基片顶层的结构示意图;图3是本技术实施例电子装置封装外壳的金属框的剖面图;图4是本技术实施例电子装置封装外壳的盖板的结构示意图。图中:1:LTCC基片;2:金属框;3:盖板;11:框体焊区;12:元器件区;13:平面栅格阵列;31:边沿;a:金属框的厚度;b:框体焊区的宽度。具体实施方式为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。此外,在本技术的描述中,除非另有说明,“多个”、“多根”、“多组”的含义是两个或两个以上,“若干个”、“若干根”、“若干组”的含义是一个或一个以上。如图1和图2所示,本技术实施例提供的电子装置封装外壳,包括LTCC(低温共烧陶瓷)基片1、金属框2和盖板3,LTCC基片1包括顶层、中间层和底层,顶层包括框体焊区11和元器件区12,底层在对应元器件区12的位置上形成平面栅格阵列13,元器件区12与平面栅格阵列13通过中间层连接,框体焊区11包围元器件区12,框体焊区11与金属框2的下表面焊接,金属框2的上表面与盖板3连接。本技术电子装置封装外壳采用将金属与陶瓷结合进行焊接组装,LTCC基片的顶层表面设有元器件区,用于安装被封装的元器件和电路,LTCC基片的底层对应元器件区处设有通过中间层与元器件区连接的平面栅格阵列(LGA),从而使本技术成为具有表面贴装型引出脚方式的电子装置壳体,同时在LTCC基片顶层元器件区周围预留用于高温焊接金属框的焊区,即对LTCC基片部分区域金属化形成框体焊区,保证金属框与LTCC基片良好焊接以及防止金属框与LTCC基片错位,金属框上下两端分别与盖板和LTCC基片连接,从而使内部空间成为形成封装元器件和电路的空腔,由此本技术的LTCC基片作为载体成为整个封装外壳的一部分,既承担着引出脚的引出方式,又承担了电路的功能布线及表贴元器件的焊接、压焊等组装。本技术结构合理、加工容易、使用方便,LTCC基片多层排布,散热好、机械强度高,具有大功率、重量轻、小型化等特点。与同类环氧塑封封装结构相比,金属腔体能够防止电路之间的串扰和电磁干扰,并可以较好的满足集成电路高可靠性封装的要求。其中,如图2和图3所示,框体焊区11的宽度b大于金属框2的厚度a,且框体焊区11的边缘与其靠近的金属框2下表面的边缘的距离在0.1~0.2mm之间。要保证金属框与LTCC基片良好焊接以及防止错位,需先进行LTCC基片四周金属化,且金属化区域大小极为关键,框体焊区不宜过大或过小,焊区过大容易造成LTCC基片和金属框在高温焊接时相互错位或偏离,焊区过小容易造成LTCC基片和金属框焊接连接区面积过小,易造成两者脱离或影响产品密封性,所以将框体焊区边缘与金属框边缘焊接距离范围控制在0.1~0.2mm之间为最佳。具体的,框体焊区11与金属框2的下表面通过大于300℃的高温共熔焊连接。其中,盖板3与金属框2通过平行缝焊方式密封焊接。本技术通过LTCC基片合理设计、焊接定位控制、焊料选择、平行缝焊等控制,具有结构合理、加工容易、使用方便等特点,将金属框和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子装置封装外壳,其特征在于:包括LTCC基片、金属框和盖板,所述LTCC基片包括顶层、中间层和底层,所述顶层包括框体焊区和元器件区,所述底层在对应所述元器件区的位置上形成平面栅格阵列,所述元器件区与所述平面栅格阵列通过所述中间层连接,所述框体焊区包围所述元器件区,所述框体焊区与所述金属框的下表面焊接,所述金属框的上表面与所述盖板连接。

【技术特征摘要】
1.一种电子装置封装外壳,其特征在于:包括LTCC基片、金属框和盖板,所述LTCC基片包括顶层、中间层和底层,所述顶层包括框体焊区和元器件区,所述底层在对应所述元器件区的位置上形成平面栅格阵列,所述元器件区与所述平面栅格阵列通过所述中间层连接,所述框体焊区包围所述元器件区,所述框体焊区与所述金属框的下表面焊接,所述金属框的上表面与所述盖板连接。2.根据权利要求1所述的电子装置封装外壳,其特征在于:所述框体焊区的宽度大于所述金属框的厚度,且所述框体焊区的边缘与其靠近的所述金属框下表面的边缘的距离在0.1~0.2mm之间。3.根据权利要求2所述的电子装置封装外壳,其特征在于:所述框体焊区与所述金属框的...

【专利技术属性】
技术研发人员:于长存吴雷王夏莲
申请(专利权)人:北京七星华创微电子有限责任公司
类型:新型
国别省市:北京,11

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