一种激光干涉仪自动对光的测量方法技术

技术编号:17029982 阅读:37 留言:0更新日期:2018-01-13 17:45
本发明专利技术涉及机械工程领域,并涉及机械加工后的检测,具体涉及一种激光干涉仪自动对光的测量方法,本发明专利技术包括干涉仪,所述干涉仪包括干涉镜、反射镜、激光发生器以及连接激光发生器和反射镜的光纤,本发明专利技术中当镜组的测量角度发生改变时,只需通过伺服电机控制干涉镜和反射镜旋转相同的角度即可完成重新对光,而不用人为重新对光,实现了测量过程中激光干涉仪的自动瞄准;本发明专利技术在xy平面和yz平面均能进行对准,保证了该测量系统能够在整个空间内对机床进行测量。

【技术实现步骤摘要】
一种激光干涉仪自动对光的测量方法
本专利技术涉及机械工程领域,并涉及机械加工后的检测,具体涉及一种激光干涉仪自动对光的测量方法。
技术介绍
空间误差的补偿是提高数控机床定位精度的有效方法,阻碍该技术成熟应用的最大障碍是机床误差的测量。补偿误差的测量和机床精度检验时的误差测量有本质的区别。前者对误差的测量有完备性要求,即误差的测量要贯穿整个加工空间。激光干涉仪是满足这一要求的机床误差的最佳测量设备,它的测量范围大,测量精度高,测量的位置目标能够随意确定,在测量之前需要进行对光。中国专利公开了“一种激光干涉仪线性测长的准直调节方法”(公开号为:CN105627913A)介绍了一种激光干涉仪线性测长的光路对光方法,这种方法虽然能够使激光头、干涉镜和反射镜在一条直线上、保证测量沿一条直线进行,但它要求测量过程中激光的方向不能改变,而且干涉镜和反射镜的激光路径手工对准工作难度大,要求操作者要有相当高的熟练对光技术。这限制了它在数控机床工作空间中误差测量位置的选择,增加了误差测量的难度。目前机床误差测量的常用方法是对角线位移测量法,如22线法,但在每条测量线上都要重复进行激光干涉仪测量前的光路对本文档来自技高网...
一种激光干涉仪自动对光的测量方法

【技术保护点】
一种激光干涉仪自动对光的测量方法,包括干涉仪,所述干涉仪包括干涉镜(3)、反射镜(5)、激光发生器(6)以及连接激光发生器(6)和反射镜的光纤(7),其特征在于步骤如下:①基于激光干涉仪搭建光路测量系统并建立测量坐标;②在xy坐标平面内,对激光干涉仪的干涉镜(3)和反射镜(5)实时连续对准;③在yz坐标平面内,对激光干涉仪的干涉镜(3)和反射镜(5)实时连续对准;④基于步骤②和③对机床的空间定位误差进行测量。

【技术特征摘要】
1.一种激光干涉仪自动对光的测量方法,包括干涉仪,所述干涉仪包括干涉镜(3)、反射镜(5)、激光发生器(6)以及连接激光发生器(6)和反射镜的光纤(7),其特征在于步骤如下:①基于激光干涉仪搭建光路测量系统并建立测量坐标;②在xy坐标平面内,对激光干涉仪的干涉镜(3)和反射镜(5)实时连续对准;③在yz坐标平面内,对激光干涉仪的干涉镜(3)和反射镜(5)实时连续对准;④基于步骤②和③对机床的空间定位误差进行测量。2.根据权利要求1所述的一种激光干涉仪自动对光的测量方法,其特征在于,还包括机床主轴(1)、工作台(2)、角锥反射镜(3-1)、分光镜(3-2)和工控系统(4),所述步骤①中光路测量系统和测量坐标构建具体过程为:101所述反射镜(5)设置在机床主轴(1)上,所述干涉镜(3)设置在工作台(2)上,所述角锥反射镜(3-1)设置在分光镜(3-2)上,并形成固定长度参考光束(D),反射镜(5)相对于分光镜(3-2)移动,形成测量光束(E),从激光发生器射出的输入光束(C)到达干涉镜后,被分为参考光束(D)和测量光束(E),所述参考光束(D)和测量光束(E)分别被传送到角锥反射镜(3-1)和反射镜(5)中,然后反射回分光镜(3-2)中,形成叠加光束(F);102基于步骤101,以工作台(2)为基准建立干涉仪-工作台-机床主轴测量坐标o-x-y-z,并在机床的x、y、z轴上分别设置位置检测编码器。3.根据权利要求2所述的一种激光干涉仪自动对光的测量方法,其特征在于,所述步骤②中在xy坐标平面内,激光干涉仪的干涉镜和反射镜实时连续对准过程为:201基于步骤102,选定xy平面,反射镜(5)的位置坐标为(xB,yB),当反射镜(5)运动时,其在x、y方向产生位移增量分别为Δx和Δy,干涉镜(3)绕z转动角度为反射镜转动的角度为202重复步骤201,利用工控系统将式(1)确定的角度旋转控制量传输给干涉镜(3)和反射镜(5)绕z轴的伺服电动机,使干涉镜(3)与反射镜(5)转过相同的角度完成干涉镜(3)和反射镜(5)在xy平面内的实时连续对准。4.根据权利要求3所述的一种激光干涉仪自动对光的测量方法,其特征在于,所述步骤③中在yz坐标平面内,激光干涉仪的干涉镜和反射镜实时连续对准过程为:301基于步骤102与步骤201,选定yz平面,反射镜(5)的位置坐标为(yB,zB),当反射镜(5)运动时,其在y、z方向产生位移增量分别为Δy和Δz,干涉镜(3)和反射镜(5)绕x转动角度θA与θB关系为θA=θB=arctan[(zB+Δz)/(yB+Δy)]-arctan(zB/yB...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘志兵冷寿阳张路王西彬程继超黄涛籍永建焦黎颜培赵轲王东前杨洪建
申请(专利权)人:北京理工大学
类型:发明
国别省市:北京,11

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