一种高度测微仪及其测量方法技术

本发明专利技术公开了一种高度测微仪，包括测量台、仪表夹头座，所述测量台水平设置，仪表夹头座垂直于测量台设置，其特征在于，测量台上设有高度测量基准和外圆基准座，仪表夹头座上设有仪表，仪表的测轴上连接有测头，待测工件设于高度测量基准与测头之间，外圆基准座上设有与待测工件外表面紧贴的外圆靠山。通过上述方式，本发明专利技术是可方便测量直径Ф1mm～Ф10mm，长度3mm～50mm的滚针和小滚子的高度尺寸，更换不同精度等级的扭簧表，可精密测量各类滚针、小滚子的高度尺寸量程值，可有效避免误读、误测现象发生，特别适合测量Φl ～Φ6,长度3～25mm的小滚针。外圆靠山可使不同长短的滚针定位更准确、更稳妥，适合不同直径滚针对中心的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种高度测微仪及其测量方法
本专利技术涉及测微仪领域，特别是涉及一种高度测微仪及其测量方法。
技术介绍
轴承滚针、滚子生产厂家在国内众多，普遍水平均低于西方企业。中国的轴承相当部分不能进入欧洲主流领域，在国内轴承零件加工企业中，适用于现场的用于过程控制、监控的先进、稳定的测量仪器少之又少，其中缺乏和不能有效配置到方便、稳定、可靠的相适应的专用测量仪成为了我国生产高精度滚针及滚子的瓶颈。国内众多滚针、小滚子生产中高度尺寸的测量大部分仍采用1、高精度千分尺，问题是易误读和缺外圆靠山基准，当滚子两平面出现平行四边形时，定位不可靠；2、杠杆千分尺，同样缺外圆靠山，造成定位不可靠和误读，同时冷却水易渗入到测轴、测杆，水份蒸发后易形成结晶并卡死，使量具早期失效，缩短使用寿命。另外还有G903仪设计初衷是为滚子高度测量用的，但微调精度不方便和测量平台过大，如φ2×3、φ2×6.8滚针手动送入测台很不便，手都捏不住，且又对φ1mm、φ2mm滚针直径靠山没有，影响到定位和测量精度。这些问题看上去是小细节，却是过程监控的中的常见病，为国内轴承滚针、滚子企业提升质量，企业发展带来了不良影响。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种可以方便测量滚针和小滚子高度的高精度测微仪，能够避免误读、误测发生。为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种高度测微仪，包括测量台、仪表夹头座，所述测量台水平设置，仪表夹头座垂直于测量台设置，测量台上设有高度测量基准和外圆基准座，仪表夹头座上设有仪表，仪表的测轴上连接有测头，待测工件设于高度测量基准与测头之间，外圆基准座上设有与待测工件外表面紧贴的外圆靠山。在本专利技术一个较佳实施例中，所述高度测量基准为圆柱体，圆柱体的直径为Ф1mm～Ф10mm，圆柱体上端面为测量平台，其平面度＜0.1μm。在本专利技术一个较佳实施例中，基准座件上至少装配有2个高度测量基准，各高度测量基准的直径和高度均不相同。在本专利技术一个较佳实施例中，外圆基准座沿Z轴方向上下位置可调，外圆靠山可左右移动式装配于外圆基准座上，所述外圆靠山与待测工件紧贴的接触面呈V型。在本专利技术一个较佳实施例中，接触面的V型角度为100°-130°。在本专利技术一个较佳实施例中，所述仪表为扭簧表，扭簧表竖直设于待测工件上方。在本专利技术一个较佳实施例中，所述测头为半圆头针状测头。为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种高度测微仪的测量方法，包括以下步骤：1）选用与待测工件同规格的标准件进行零位校正；2）校正达标后，将被测工件竖直放入测量台；3）外圆靠山与待测工件紧贴；4）待测工件稳定后，仪表上的表示值则为测量值。在本专利技术一个较佳实施例中，所述零位校正包括以下步骤：1）选择标准件，取一标准件，其长度在所要求的公差范围内，选择两端面最高点为测点，把标准件放入测量台内；2）预调，先将仪表放置到标准件标定值位置，并微微锁定仪表位置，再将外圆靠山与标准件紧贴，拿出、放入标准件，复测多次，当仪表表示值能重复至标定值附近，则锁定仪表位置；3）微调，仪表表示值略偏离标定零位，通过微调零件，使指针达到标定值，达值后再重复拿出、放入标准件多次，仪表指针均能稳定达到标准零位时为校正达标。在本专利技术一个较佳实施例中，所述微调范围为±0.03mm。本专利技术的有益效果是：本专利技术是可方便测量直径Ф1mm～Ф10mm，长度3mm～50mm的滚针和小滚子的高度尺寸，更换不同精度等级的扭簧表，可精密测量各类滚针、小滚子的高度尺寸量程值，可有效避免误读、误测现象发生，特别适合测量Φl～Φ6,长度3～25mm的小滚针。外圆靠山可使不同长短的滚针定位更准确、更稳妥，适合不同直径滚针对中心的测量。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：图1是本专利技术高度测微仪一较佳实施例的结构示意图；图2是图1所示高度测微仪的左视图；图3是图1所示高度测微仪的高度测量基准的结构示意图；图4是图1所示高度测微仪的外圆靠山座的结构示意图；图5是图4中A向的结构示意图。具体实施方式下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1和图2，本专利技术实施例包括：一种高度测微仪，包括测量台1、仪表夹头座2，所述测量台1水平设置，仪表夹头座2垂直于测量台1设置。测量台1上设有高度测量基准1-1和外圆基准座1-2，仪表夹头座2上设有仪表2-1，仪表2-1的测轴上连接有测头2-2，待测工件3设于高度测量基准1-1与测头2-2之间，外圆基准座1-2上设有与待测工件3外表面紧贴的外圆靠山1-2-1，外圆靠山1-2-1对测点和采集数据、重复定位、稳定性有了可靠保证。所述高度测量基准1-1为圆柱体，圆柱体的直径为Ф1mm～Ф10mm，圆柱体上端面为测量平台，其平面度＜0.1μm。如图3所示，基准座件1-3上至少装配有2个高度测量基准1-1，各高度测量基准的直径和高度均不相同。圆柱体为高密度硬质合金。紧配压入基准座件1-3内，基准座件1-2上装有两个高度测量基准1-1，分别为Ф2.5mm与Ф4mm，或Ф6mm与Ф8mm组合，将高度测量基准1-1调整到测头2-2下方，满足Ф1～Ф4mm、Ф4～Ф10mm的不同滚针长度的测量。测量平台经磨床精磨，方便测量Ф1～Ф10mm任何细小件。外圆基准座1-2沿Z轴方向上下位置可调，外圆靠山1-2-1可左右移动式装配于外圆基准座1-2上，所述外圆靠山1-2-1与待测工件3紧贴的接触面呈V型。接触面的V型角度为100°-130°。本实施例中，如图4和图5所示，外圆靠山1-2-1采用1.8mm或4mm薄片线切割完成120°V叉，有利于直径母线定位，外圆基准座1-2沿Z轴方向上下移动时，适合不同长短滚针更稳妥、更准确的定位：外圆靠山1-2-1沿X轴方向左右移动时，适合不同直径滚针对中心的测量。所述仪表2-1为扭簧表，扭簧表2-1竖直设于待测工件3上方，避免并保护了冷却水对扭簧表渗入，防止产生早期失效。扭簧表2-1上设有细牙螺纹的微调零件2-4，可方便调零。所述测头2-2为半圆头针状测头，半圆头针状测头均采用高密度硬质合金，可减少磨损，稳定测量精度，延长使用寿命。本专利技术还涉及高度测微仪的测量方法，包括以下步骤：1）选用与待测工件3同规格的标准件进行零位校正。2）校正达标后，将待测工件3竖直放入测量台1，半圆头针状测头2-2与扭簧表2-1的测轴连接，待测工件3设于高度测量基准1-1与测头2-2之间。3）外圆靠山1-2-1与待测工件3紧贴，120°V型接触面，在竖直方向起定位作用。4）待测工件3稳定后，仪表2-1上的表示值则为测量值。其中，零位校正包括以下步骤：1）选择标准件，取一标准件，滚针或平头针，经计量室测定，一般选用其长度在所要求的公差范围内，选择两端面最高点为测点，把标准件放入测量台本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高度测微仪，包括测量台、仪表夹头座，所述测量台水平设置，仪表夹头座垂直于测量台设置，其特征在于，测量台上设有高度测量基准和外圆基准座，仪表夹头座上设有仪表，仪表的测轴上连接有测头，待测工件设于高度测量基准与测头之间，外圆基准座上设有与待测工件外表面紧贴的外圆靠山。

【技术特征摘要】
1.一种高度测微仪，包括测量台、仪表夹头座，所述测量台水平设置，仪表夹头座垂直于测量台设置，其特征在于，测量台上设有高度测量基准和外圆基准座，仪表夹头座上设有仪表，仪表的测轴上连接有测头，待测工件设于高度测量基准与测头之间，外圆基准座上设有与待测工件外表面紧贴的外圆靠山。2.根据权利要求1所述的高度测微仪，其特征在于，所述高度测量基准为圆柱体，圆柱体的直径为Ф1mm～Ф10mm，圆柱体上端面为测量平台，其平面度＜0.1μm。3.根据权利要求2所述的高度测微仪，其特征在于，基准座件上至少装配有2个高度测量基准，各高度测量基准的直径和高度均不相同。4.根据权利要求1所述的高度测微仪，其特征在于，外圆基准座沿Z轴方向上下位置可调，外圆靠山可左右移动式装配于外圆基准座上，所述外圆靠山与待测工件紧贴的接触面呈V型。5.根据权利要求1所述的高度测微仪，其特征在于，接触面的V型角度为100°-130°。6.根据权利要求1所述的高度测微仪，其特征在于，所述仪表为扭簧表，扭簧表竖直设于待测工件上方...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈奇，陈继君，
申请(专利权)人：无锡市通达滚子有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32