【技术实现步骤摘要】
一种基于激光及影像的高精度大尺寸综合测量装置
本专利技术涉及一种基于激光及影像的高精度大尺寸综合测量装置。
技术介绍
随着制造业的发展,精度要求的不断提高,大尺寸测量一直是国内外研究人员研究的热点问题,特别是对于长度达几十米的物件的高精度测量,目前还没有一套专用的设备来开展此项工作。激光干涉仪和影像测量仪是目前广泛使用的高精度测量仪器,激光干涉仪的测量范围可以达到50m以上,主要用于动态测量,如精确测量机床的位移量,但对于静止物件的尺寸却无法进行准确的测量,影像测量仪可以精确地测量静止物件的尺寸,但其测量范围有限,无法对应大尺寸物件的测量。因此,要实现大尺寸物体的测量,就需要结合激光干涉仪和影像测量仪两者的特点,开发一种集合了激光干涉仪和影像测量仪功能的综合测量装置,来开展大尺寸物件的测量工作。
技术实现思路
为了实现上述目的,本专利技术采用的技术方案是:一种基于激光及影像的高精度大尺寸综合测量装置,包括测量台主体,一号大滑台,二号大滑台和检测台,主体为导轨结构,长度一般在5-50m之间,一号大滑台和二号大滑台分别安置在主体导轨的两端,可以沿主体导轨滑动,检测台位于主体的侧方,总长度与主体相等。一号大滑台和二号大滑台上分别装有一号导轨和二号导轨,一号导轨和二号导轨的方向与主体导轨垂直,一号小滑台和二号小滑台分别安装在一号导轨和二号导轨上,可以沿一号导轨和二号导轨滑动,一号小滑台上装有激光发射器,二号小滑台上装有影像测量仪。所述检测台为多段结构,每段检测台检测台尺寸相同,处于同一平面上,每段检测台上两端分别有两个螺孔,用来安装线纹尺固定装置,线纹尺固定装置的作用 ...
【技术保护点】
一种基于激光及影像的高精度大尺寸综合测量检定装置,其特征在于:由主体,一号大滑台,二号大滑台,一号导轨,二号导轨,一号小滑台,二号小滑台,激光干涉仪,影像测量仪,检测台组成,主体为长导轨结构,长度为5‑50m,检测台位于主体的侧方,为多段结构,总长度与主体相同,在每段检测台的高度相同,处于同一平面上,主体上装有一号大滑台及二号大滑台,可以沿着主体的导轨滑动,一号大滑台和二号大滑台上分别装有一号导轨及二号导轨,一号导轨及二号导轨方向垂直于主体的导轨,一号小滑台及二号小滑台分别安装在一号导轨和二号导轨上,可以沿导轨滑动,一号小滑台上装有激光干涉仪,激光干涉仪的反射镜置于二号大滑台上,二号小滑台上装有影像测量仪,二号导轨在靠检测台的那一侧延伸出来,通过移动二号小滑台可以使影像测量仪摄像头位于检测台的正上方。
【技术特征摘要】
1.一种基于激光及影像的高精度大尺寸综合测量检定装置,其特征在于:由主体,一号大滑台,二号大滑台,一号导轨,二号导轨,一号小滑台,二号小滑台,激光干涉仪,影像测量仪,检测台组成,主体为长导轨结构,长度为5-50m,检测台位于主体的侧方,为多段结构,总长度与主体相同,在每段检测台的高度相同,处于同一平面上,主体上装有一号大滑台及二号大滑台,可以沿着主体的导轨滑动,一号大滑台和二号大滑台上分别装有一号导轨及二号导轨,一号导轨及二号导轨方向垂直于主体的导轨,一号小滑台及二号小滑台分别安装在...
【专利技术属性】
技术研发人员:王珉,沈沂,郝亮,李舒,
申请(专利权)人:南京泓天仪器仪表有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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