基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法及相关设备技术

本发明专利技术提供了一种基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法及相关设备；测试方法包括：建立扫描森林；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中；对被激活的扫描链子集置入加权伪随机信号；根据本原多项式和注入的附加变量对LFSR中的全部的确定向量进行编码，并生成伪随机测试向量；对伪随机测试向量进行压缩；根据压缩后的伪随机测试向量进行伪随机测试，计算得到伪随机测试结果。本发明专利技术能够有效地把低功耗的伪随机测试码产生(PRPG)和确定的BIST结合在一起，且硬件开销低，更不会带来额外的延迟开销、结构简单、便于工业界广泛使用，易于嵌入现有的EDA工具中，能够支持伪随机测试和确定自测试，也可独立用于确定测试压缩。

Low power weighted pseudo-random test method and related equipment based on vector compression

The invention provides a low power weighted pseudo random test vector compression based on test methods and related equipment; include: the establishment of scanning forest; the output by the same multiplexer control all scan chains are set on the same scan chain insertion; weighted pseudo random signal of scan chain is activated; according to the primitive polynomial and inject additional variables on the LFSR in all of the identified vector encoding, and generate pseudo-random test vectors; the compression of the pseudo random test vector; pseudo random test according to the pseudo random test vector compression, calculated by pseudo random test results. The invention can effectively put low power pseudo-random test pattern generation (PRPG) and the BIST together, and low hardware overhead, more will not bring additional delay overhead, simple structure and easy use in industrial applications, is easy to be embedded into the existing EDA tools, can support the pseudo-random test and determine the self test also, can be used to determine the independent test compression.

【技术实现步骤摘要】
基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法及相关设备
本专利技术涉及集成电路延迟测试可测试性
，具体涉及一种基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法及相关设备。
技术介绍
随着电路规模的增大，测试功能和测试能耗之间的差距变得越来越大。现在，电路的功能越来越复杂，芯片过热的问题也显现出来，芯片过热会导致产品寿命的缩短。但是，目前由于随机码交换活动的增多，现在的测试比之前的扫描测试需要更大的功耗。最近的研究方法主要是针对通过允许自动选择低功耗的伪随机测试模式来减少扫描切换的开关活动。然而，很多以前的低功耗自测试方法可能会导致故障覆盖率降低。因此，获取较高的故障覆盖率在低功耗自测试方案中也是非常重要的。加权伪随机测试模型可以有效地提高故障股概率，但是这些方法由于频繁的对触发器的扫描，通常会导致更多的能耗。此外，大部分之前的确定自测试方法都没有关注过低功耗的问题。因此，如何找到一种有效的低功耗的确定自测试方法是非常必要的。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供一种基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法及相关设备；能够有效地把低功耗的伪随机测试码产生(PRPG)和确定的BIST结合在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：建立扫描森林，其中，所述扫描森林中的相移器上连接有多个多路输出选择器，且每个所述多路输出选择器均用于驱动多个扫描树，每个扫描树中均包括多个扫描链；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中，其中，相同的扫描链子集中的全部扫描链均由相同的时钟信号驱动；根据触发后摘取LOC方法，对被激活的扫描链子集置入加权伪随机信号；根据本原多项式和注入的附加变量对线性反馈移位寄存器LFSR中的全部的确定向量进行编码；根据编码后的所述确定向量生成所述伪随机测试向量；对所述伪随机测试向量进行压缩；以及，根据压缩后的所述...

【技术特征摘要】
1.一种基于向量压缩的低功耗加权伪随机测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：建立扫描森林，其中，所述扫描森林中的相移器上连接有多个多路输出选择器，且每个所述多路输出选择器均用于驱动多个扫描树，每个扫描树中均包括多个扫描链；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中，其中，相同的扫描链子集中的全部扫描链均由相同的时钟信号驱动；根据触发后摘取LOC方法，对被激活的扫描链子集置入加权伪随机信号；根据本原多项式和注入的附加变量对线性反馈移位寄存器LFSR中的全部的确定向量进行编码；根据编码后的所述确定向量生成所述伪随机测试向量；对所述伪随机测试向量进行压缩；以及，根据压缩后的所述伪随机测试向量进行伪随机测试，计算得到伪随机测试结果。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在所述应用所述扫描森林进行伪随机测试测试方法之前，所述测试方法还包括：确定所述扫描森林中的难测故障子集；根据增益函数确定部分难测故障子集的测试点；以及，在逻辑电路中插入所述测试点。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述根据增益函数确定部分难测故障子集的测试点，包括：根据如公式一所示的增益函数G确定部分难测故障子集的测试点：在公式一中，F是部分难测故障子集，t是下降或上升的转换故障；所述节点l上升转换故障的可检测度det(f)1根据公式二进行估算：det(f)1＝C0(l)·C1(l')·O(l')公式二节点l下降转换故障的可检测度det(f)2根据公式三进行估算：det(f)2＝C1(l)·C0(l')·O(l')公式三在公式二和公式三中，C1(l)、C0(l)和O(l)分别为节点l的1可控度、0可控度和可观察度；其中，某一节点l在两帧电路模型中的第一帧的位置为l、在两帧电路模型中的第二帧中相应位置为l'，节点l上升和下降转换的可检测性定位为指定输入数量来检测双帧电路中的转换故障。4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试周期的数量为1000个时钟周期；且每个测试周期均包括：移位周期、启动周期和捕获周期；所述移位周期的数量小于或大于扫描链深度。5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据本原多项式和注入的附加变量对所有确定的伪随机测试向量进行编码，包括：若未包括附加变量的线性反馈移位寄存器LFSR无法编码得到全部的确定向量，则应用所述本原多项式的第一维度，在所述LFSR中加入一个附加变量；判断当前所述LFSR中是否存在未被编码的确定测试向量；若当前的所述LFSR中还存在未被编码的确定测试向量，则继续向所述LFSR中加入附加变量，再返回重新判断当前所述LFSR中是否存在未被编码的确定测试向量，直到所述LFSR中的附加变量的数量达到的预设上限值。6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述根据本原多项式和注入的附加变量对所有确定的伪随机测试向量进行编码，还包括：若所述LFSR中的附加变量的数量达到的预设上限值...

【专利技术属性】
技术研发人员：向东，刘博，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：北京,11