一种监测仪器窗口片积尘的测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种监测仪器窗口片积尘的测量装置及方法，包括测量光源、窗口片、凸透镜、光电探测器、信号处理单元和单片机芯片；所述测量光源发出的光线经过窗口片后，一部分光线经窗口片透射至测量环境，形成透射光；另一部分光线经窗口片发射后形成反射光线；其余光线由窗口片表面的积尘微粒向各个方向散射，形成散射光线；光电探测器设于凸透镜的主光轴上，且二者偏离所述反射光线的方向设置，以接收与所述反射光线的方向相偏离的散射光；部分散射光线经凸透镜聚焦后传送至光电探测器表面，光电探测器将接收到的光信号转换成电信号后传送到信号处理单元，信号处理单元对光电探测器的输出信号处理后传送到单片机芯片。本发明专利技术结构简单，测量精度高，具有很好的推广应用前景。

A measuring device and method for measuring the dust in the window of a monitoring instrument

The invention discloses a monitoring instrument window film dust measuring apparatus and method, including the measurement of light source, window film, convex lens, photoelectric detector, signal processing unit and a single chip; the measuring light source light through the window piece, a part of the light from the window to the film transmission measurement environment, the formation of transmission light; the other part of the light through the windows of launch after the formation of the reflected light; the light from the window surface of the dust particles scattering in all directions, forming light scattering; photoelectric detector on the convex lens main axis, and the two from the reflected light direction setting, scattering light and the reflected light to receive the direction of the deviation; part of light scattering by the convex lens is transmitted to the photoelectric detector surface, photoelectric detector receives the light signal into electricalsignal It is transmitted to the signal processing unit, and the signal processing unit is transmitted to the MCU chip after the output signal of the photodetector is processed. The invention has the advantages of simple structure, high measurement precision and good prospect of popularization and application.

【技术实现步骤摘要】
一种监测仪器窗口片积尘的测量装置及方法
本专利技术属于检测装置
，具体涉及一种监测仪器窗口片积尘的测量装置及方法。
技术介绍
随着科技的不断发展，各种利用光的散射、吸收、干涉、衍射等原理制备的光学检测仪器仪表层出不穷，而各种光学仪器仪表上利用最多的就是将光学元件与外界测量环境分离开来的窗口片，其主要功能为最大限度透射所用测量光源。由于测量环境中含有较多的微尘颗粒，随着时间的推移，微尘颗粒会慢慢积聚在窗口片表面形成积尘，积尘的不断增多会持续影响检测仪器仪表的测量准确性，当积尘达到一定程度会导致测量结果完全偏离实际值，最终导致仪器无法使用，或者必须经过除尘或更换窗口片才能正常工作。因而寻找一种可实时或定时检测窗口积尘的方法，以提前对可能影响实际测量的积尘进行处理是十分必要的。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提出一种监测仪器窗口片积尘的测量装置及方法，基于光的散射基本原理，在有测量光源的一侧增设聚光透镜和光电探测器，当窗口片与测量环境接触的一面出现积尘时，微尘粒子会将光线向各个方向散射出去，正对着凸透镜及光电探测器的光线将由光电探测器接收并转换为电信号后进入信号处理电路，最终经由本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种监测仪器窗口片积尘的测量装置，其特征在于：包括测量光源、窗口片、凸透镜和光电探测器；所述测量光源发出的光线经过窗口片后，一部分光线经窗口片透射至测量环境，形成透射光；另一部分光线经窗口片发射后形成反射光线；其余光线由窗口片表面的积尘微粒向各个方向散射，形成散射光线；所述光电探测器和凸透镜均与测量光源位于窗口片的同一侧，所述光电探测器设于凸透镜的主光轴上，且二者偏离所述反射光线的方向设置，以接收与所述反射光线的方向相偏离的散射光，部分散射光线经凸透镜聚焦后传送至光电探测器表面。

【技术特征摘要】
1.一种监测仪器窗口片积尘的测量装置，其特征在于：包括测量光源、窗口片、凸透镜和光电探测器；所述测量光源发出的光线经过窗口片后，一部分光线经窗口片透射至测量环境，形成透射光；另一部分光线经窗口片发射后形成反射光线；其余光线由窗口片表面的积尘微粒向各个方向散射，形成散射光线；所述光电探测器和凸透镜均与测量光源位于窗口片的同一侧，所述光电探测器设于凸透镜的主光轴上，且二者偏离所述反射光线的方向设置，以接收与所述反射光线的方向相偏离的散射光，部分散射光线经凸透镜聚焦后传送至光电探测器表面。2.根据权利要求1所述的一种监测仪器窗口片积尘的测量装置，其特征在于：还包括信号处理单元和单片机芯片，光电探测器将接收到的光信号转换成电信号后传送到信号处理单元，所述信号处理单元对光电探测器的输出信号处理后传送到单片机芯片。3.根据权利要求2所述的一种监测仪器窗口片积尘的测量装置，其特征在于：还包括报警器，所述报警器的控制端与单片机芯片对应的输出端相连。4.根据权利要求1所述的一种监测仪器窗口片积尘的测量装置，其特征在于：所述测量光源为光学检测仪器仪表中所用的测量光源。5.根据权利要求4所述的一种监测仪器窗口片积尘的测量装置，其特征在于：所述测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜英杰，陈玲华，张弘扬，肖文华，姚军，
申请(专利权)人：浙江大学昆山创新中心，
类型：发明
国别省市：江苏,32