有限区域内测量粗糙表面反射率的方法技术

本发明专利技术公开了一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法及装置，包括以下步骤：在目标区域表面正上方设置太阳辐射仪，太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H至少为0.4m；太阳辐射仪接收入射太阳辐射It和反射太阳辐射Rt，所述太阳辐射仪在接收反射太阳辐射Rt时，太阳辐射仪的日照探射器外周设置有圆环形的遮光罩；在目标区域的表面覆盖一张具有非选择性光谱且已知反射率的参照板，并记录此时入射太阳辐射Ir和反射太阳辐射Rr；计算目标区域反射率ρt。本发明专利技术能够在户外对小面积的粗糙表面测量反射率，操作简单，经济合理。

A method and device for measuring the reflectivity of rough surface in a finite area

The invention discloses a method and a device for limited area measurement of rough surface reflectivity, which comprises the following steps: setting sun radiometer is over the target area on the surface of the solar radiometer sunshine detector down the vertical distance between the H and the target area center surface of at least 0.4m; solar radiometer receiving incident solar radiation It and the reflection of solar radiation Rt, the solar radiometer in receiving the reflected solar radiation Rt, solar radiometer sunshine detector is arranged at the periphery of the annular baffle; on the surface of the target area covering a reference plate with non selective spectral reflectance and known, and record the incident solar radiation and reflected solar radiation Ir Rr; calculation of the target area reflectivity P t. The invention can measure the reflectivity on the rough surface of small area in the outdoor, and the operation is simple and the economy is reasonable.

【技术实现步骤摘要】
有限区域内测量粗糙表面反射率的方法及装置
本专利技术涉及反射率测定领域。更具体地说，本专利技术涉及一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法及装置。
技术介绍
目标和背景的光学特性，尤其是对其反射特性的研究，有着强烈的需求和应用背景。反射率的概念已经渗透到各个学科领域中，例如大气科学、地理科学、城市气候、生态植被、光学器件、建筑节能等。反射率决定着地球表面与大气之间辐射能量的分配过程，进而影响着生态系统中如地表温度、蒸腾、能量平衡、光合及呼吸作用等一系列物理、生理和生物化学过程，同时也是降低建筑围护结构表面温度最敏感参数。量化物体表面太阳吸收量的前提需要了解其表面的反射率变化规律。目前，测量物体表面反射率的方法很多，可概括为实验室检测和现场原位测试。1)实验室反射率测试主要针对小样品试样(5cm2范围内)，通常采用积分球法或光谱法。ASTMC1549方法通过使用便携式太阳反射光测定近环境温度的太阳光反射比，适用于在5cm2范围既有镜面反射，又有漫反射光学特性的材料样品，如玻璃纤维、沥青瓦等，且规定被测量表面必须干燥。相关标准《JB/T235-2014》等推荐采用的是光谱法，其原理是分光光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在目标区域表面正上方设置太阳辐射仪，太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H至少为0.4m；2)太阳辐射仪接收入射太阳辐射It和反射太阳辐射Rt，所述太阳辐射仪在接收反射太阳辐射Rt时，太阳辐射仪的日照探射器外周设置有圆环形的遮光罩；3)在目标区域的表面覆盖一张具有非选择性光谱且已知反射率的参照板，并记录此时入射太阳辐射Ir和反射太阳辐射Rr；4)计算目标区域反射率ρt，

【技术特征摘要】
2017.01.05 CN 20171000602751.一种有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在目标区域表面正上方设置太阳辐射仪，太阳辐射仪上的日照探射器朝下时与目标区域中心表面的垂直距离H至少为0.4m；2)太阳辐射仪接收入射太阳辐射It和反射太阳辐射Rt，所述太阳辐射仪在接收反射太阳辐射Rt时，太阳辐射仪的日照探射器外周设置有圆环形的遮光罩；3)在目标区域的表面覆盖一张具有非选择性光谱且已知反射率的参照板，并记录此时入射太阳辐射Ir和反射太阳辐射Rr；4)计算目标区域反射率ρt，其中，ρr为参照板的反射率，ρ2遮光罩内表面反射率，ρs周围环境介质反射率，F2→s表示周围环境介质到遮光罩内表面的视角因子，F1→2表示遮光罩内表面到日照探射器的视角因子。2.如权利要求1所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，所述太阳辐射仪包括两个日照探射器，其中一个日照探射器朝上设置，另一个日照探射器朝下设置，两个日照探射器在同一时刻分别接收当前的入射太阳辐射和反射太阳辐射。3.如权利要求2所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，所述太阳辐射仪的型号为Kipp&ZonenCMA11。4.如权利要求1所述的有限区域内测量粗糙表面反射率的方法，其特征在于，太阳辐射仪上的日照...

【专利技术属性】
技术研发人员：覃英宏，谭康豪，
申请(专利权)人：广西大学，
类型：发明
国别省市：广西,45