【技术实现步骤摘要】
一种柔性基板检测系统及方法
本专利技术涉及屏幕显示
,尤其涉及一种柔性基板检测装置及方法。
技术介绍
在柔性显示屏的设计和制造中,柔性基板的质量要求是非常严苛的。在目前的制程中,通常采用涂布-固化在玻璃基板上得到耐高温的聚酰亚胺(polymide)薄膜作为承载基板。在涂布和固化的过程中,一定需要量测聚酰亚胺柔性基板表面微结构和边缘轮廓、膜面和膜边的粗糙度、膜面和膜边的完整状况等特性参量。在通常的量测中,有接触式的,如用表面轮廓仪来量测聚酰亚胺的边缘轮廓,判断膜边的均匀性。但表面轮廓仪的探针不可避免地与聚酰亚胺表面之间产生摩擦,导致变形和磨损,量测效率也极低。另外也有用非接触式的,如用椭圆偏振仪和频谱反射仪来量测面内区的均匀性。但上述两种仪器在对微小图形进行量测时通常需要精确聚焦,增加了量测设备的复杂度,同时单点的重复量测增加了检测耗费的时间。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于,提供一种柔性基板检测系统及方法,以提高检测柔性基板表面平整度的效率。为了解决上述技术问题,本专利技术提供一种柔性基板检测系统,包括:激光光源;振动装置;固定连接在所述振动装置上的第一透镜和第二透镜;设置在所述第一透镜下方的第一半透半反分光镜,和设置在所述第二透镜下方的第二半透半反分光镜;第一光电转换器件和第二光电转换器件;以及与所述第一光电转换器件和所述第二光电转换器件电连接的检测单元;其中,所述振动装置用于带动所述第一透镜和所述第二透镜以固定的频率及振幅作上下振动;所述第一透镜用于将所述激光光源发出的第一光束经所述第一半透半反分光镜汇聚于待检测柔性基板边缘上表面,所 ...
【技术保护点】
一种柔性基板检测系统,其特征在于,包括:激光光源;振动装置;固定连接在所述振动装置上的第一透镜和第二透镜;设置在所述第一透镜下方的第一半透半反分光镜,和设置在所述第二透镜下方的第二半透半反分光镜;第一光电转换器件和第二光电转换器件;以及与所述第一光电转换器件和所述第二光电转换器件电连接的检测单元;其中,所述振动装置用于带动所述第一透镜和所述第二透镜以固定的频率及振幅作上下振动;所述第一透镜用于将所述激光光源发出的第一光束经所述第一半透半反分光镜汇聚于待检测柔性基板边缘上表面,所述第二透镜用于将所述激光光源发出的第二光束经所述第二半透半反分光镜汇聚于待检测柔性基板边缘附近的承载基板上表面;所述第一光电转换器件用于通过所述第一半透半反分光镜获得所述第一光束在所述待检测柔性基板边缘上表面的反射光并将其转换为第一电信号,所述第二光电转换器件用于通过所述第二半透半反分光镜获得所述第二光束在所述承载基板上表面的反射光并将其转换为第二电信号;所述检测单元用于根据在同一检测周期内所述第一电信号达到峰值和所述第二电信号达到峰值的时间差,获取所述待检测柔性基板表面平整性信息。
【技术特征摘要】
1.一种柔性基板检测系统,其特征在于,包括:激光光源;振动装置;固定连接在所述振动装置上的第一透镜和第二透镜;设置在所述第一透镜下方的第一半透半反分光镜,和设置在所述第二透镜下方的第二半透半反分光镜;第一光电转换器件和第二光电转换器件;以及与所述第一光电转换器件和所述第二光电转换器件电连接的检测单元;其中,所述振动装置用于带动所述第一透镜和所述第二透镜以固定的频率及振幅作上下振动;所述第一透镜用于将所述激光光源发出的第一光束经所述第一半透半反分光镜汇聚于待检测柔性基板边缘上表面,所述第二透镜用于将所述激光光源发出的第二光束经所述第二半透半反分光镜汇聚于待检测柔性基板边缘附近的承载基板上表面;所述第一光电转换器件用于通过所述第一半透半反分光镜获得所述第一光束在所述待检测柔性基板边缘上表面的反射光并将其转换为第一电信号,所述第二光电转换器件用于通过所述第二半透半反分光镜获得所述第二光束在所述承载基板上表面的反射光并将其转换为第二电信号;所述检测单元用于根据在同一检测周期内所述第一电信号达到峰值和所述第二电信号达到峰值的时间差,获取所述待检测柔性基板表面平整性信息。2.根据权利要求1所述的柔性基板检测系统,其特征在于,所述第一透镜和所述第二透镜的设置位置均满足使所述激光光源和汇聚光斑处于成像的共轭位置。3.根据权利要求1所述的柔性基板检测系统,其特征在于,所述振动装置是振动音叉,包括上下两个叉臂,所述第一透镜和所述第二透镜固定连接在所述振动音叉的上叉臂并处于同一水平位置,第三透镜和第四透镜固定连接在所述振动音叉的下叉臂并处于同一水平位置,所述第一透镜和所述第三透镜上下排列且共轴,所述第二透镜和所述第四透镜上下排列且共轴。4.根据权利要求1所述的柔性基板检测系统,其特征在于,所述第一半透半反分光镜和所述第二半透半反分光镜均为立方体型分束镜。5.根据权利要求1所述的柔性基板检测系统,其特征在于,所述振动装置的频率和振幅设置满足以下条件:在所述振幅范围内存在某一位置,使所述第一光束和所述第二光束分别聚焦于所述待检测柔性基板边缘上表面和所述承载基板上表面。6.根据权利要求5所述的柔性基板检测系统,其特征在于,所述第一光束聚焦于所述待检测柔性基板边缘上表面时,所述第一电信号达到峰值,所述第二光束聚焦于所述承载基板上表面时,所述第二电信号达到峰值。7.根据权利要求1所述的柔性基板检测系统,其特征在于,所述检测单元具体用于判断所述时间差是否处于预设阈值范围,并根据判断结...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘哲,
申请(专利权)人:武汉华星光电半导体显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:湖北,42
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。