一种平整度检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种平整度检测装置，包括一水平设置的台面和支架，所述支架通过两个支撑柱固定设置在台面上，所述支架的侧面上设置有一与台面平行的导轨，所述导轨上设置有可沿导轨左右移动的光学组件，所述光学组件包括一用于采集图像信息的CCD镜头，所述光学组件还与一上位机电性相连。通过光学原理测量同一平面上的高度差，来验证被测板材的平整度是否符合要求。水平设置的台面上放置被测板材，利用CCD镜头采集图像信息，通过Z轴的调节获取图像的最高像素来确定Z值，多次测量对比不同的高度差即可判定被测板材的平整度是否符合要求，具有结构简单和操作方便等优点，能够高效率、高精度地实现对PCB板平整度的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种平整度检测装置
本技术涉及PCB板的制作领域，尤其涉及一种平整度检测装置。
技术介绍
在组装PCB板的过程中，如果板子的平整度过低就会形成一个翘曲度，后续可能会进一步出现断板和锡裂等问题，对质量造成影响。因此，在PCB板的工艺流程中需要严格控制PCB板的平整度，对PCB板的平整度进行测量。采用传统的人工测试方法测量PCB板的平整度存在效率低和精度低等问题，数据的可信率较低，不能用作参考。因此，业界亟需提出一种平整度检测装置，以高效率、高精度地实现对PCB板平整度的测量。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本技术提供了一种结构简单、操作方便的平整度检测装置，能够高效率、高精度地实现对板材平整度的测量。本技术解决其技术问题所采用的技术方案为：一种平整度检测装置，包括一水平设置的台面和支架，所述支架通过两个支撑柱固定设置在台面上，所述支架的侧面上设置有一与台面平行的导轨，所述导轨上设置有可沿导轨左右移动的光学组件，所述光学组件包括一用于采集图像信息的CCD镜头，所述光学组件还与一上位机电性相连。进一步，所述光学组件还包括一辅助光源，所述辅助光源固定设置在CCD镜头的侧边。进一步，所述台面设置为长方形，所述支架设置为长方体，两个支撑柱分别设置在台面的任意一组对角上，支架通过两个支撑柱固定设置在台面上。进一步，所述支架设置有两个。进一步，所述台面、支架和支撑柱均为大理石材质。进一步，所述导轨的两端设置有限位块。进一步，所述上位机为一电脑。进一步，还包括一用于放置被测板材的垫块，所述垫块活动设置在台面上。进一步，所述垫块为大理石材质。本技术的有益效果有：本技术一种平整度检测装置，通过光学原理测量同一平面上的高度差，来验证被测板材的平整度是否符合要求。水平设置的台面上放置被测板材，利用CCD镜头采集图像信息，通过Z轴的调节获取图像的最高像素来确定Z值，多次测量对比不同的高度差即可判定被测板材的平整度是否符合要求，具有结构简单和操作方便等优点，能够高效率、高精度地实现对板材平整度的测量。附图说明下面结合附图及具体实施例对本技术作进一步说明，其中：图1是本技术平整度检测装置的结构示意图。具体实施方式参见图1，图1是本技术平整度检测装置的结构示意图。一种平整度检测装置，包括一水平设置的台面1和支架2，所述支架2通过两个支撑柱3固定设置在台面1上，所述支架2的侧面上设置有一与台面1平行的导轨4，所述导轨4上设置有可沿导轨4左右移动的光学组件5，所述光学组件5包括一用于采集图像信息的CCD镜头，所述光学组件5还与一上位机电性相连，所述上位机为一电脑。通过光学原理测量同一平面上的高度差，来验证被测板材的平整度是否符合要求。台面1、支架2和导轨4等均水平设置，以提供一个稳定、准确的测量平台。测量时，先在水平的台面1上放置被测板材，利用CCD镜头采集图像信息，通过上位机调节光学组件5的Z轴位置来获取图像的最高像素，从而确定一Z值。测得一Z值后，再移动到其他取样点进行测量，多次测量即可取得多组Z值。理想的情况下，被测板材是平整的，因此多组Z值之间的差值为0。但现实中多组Z值之间存在一个差值，只要把这个差值与一标准值比较，即可判定被测板材的平整度是否符合要求，具有结构简单和操作方便等优点，能够高效率、高精度地实现对板材平整度的测量，误差可以控制在微米级。同时，本平整度检测装置对测量结果的分析也十分的便捷，上位机对数据进行处理后自动化输出到Excel文档，进行有效的数据分析，明显的提高操作的效率。具体地，所述台面1设置为长方形，所述支架2设置为长方体，两个支撑柱3分别设置在台面1的任意一组对角上，支架2通过两个支撑柱3固定设置在台面1上。因大多数PCB板均为长方形的，把台面1设置为长方形，更方便放置被测板材；而把支架2设置为长方体则有利于平稳设置导轨4。另外，所述支架2设置有两个，每个支架2上均设置有导轨4和光学组件5，操作人员可以在更多位置上进行取样，进一步方便操作。一种平整度检测装置，还包括一用于放置被测板材的垫块，所述垫块活动设置在台面1上。各种PCB板有不同的厚度，因此离CCD镜头的距离也不同，当被测板材离CCD镜头过远时，可以将被测板材放置在垫块上。所述垫块、台面1、支架2和支撑柱3均为大理石材质。大理石材质硬度较高，在操作的过程中不容易被损坏变形，能够保证平面的平整，提高测量的精度。作为本技术的优选实施方式，所述光学组件5还包括一辅助光源，所述辅助光源固定设置在CCD镜头的侧边。在外部光照条件较差时，CCD镜头难以采集图像或者采集到的图像较模糊，影响测量的精度，因此，在CCD镜头的侧边固定设置有辅助光源，当光照条件较差时可以进行补光，保证测量的精度。进一步，作为本技术的优选实施方式，所述导轨4的两端设置有限位块，防止光学组件5在沿着导轨4左右移动时因误操作而掉落，保证操作的安全性。以上所述，只是本技术的较佳实施方式而已，但本技术并不限于上述实施例，只要其以任何相同或相似手段达到本技术的技术效果，都应属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平整度检测装置，其特征在于：包括一水平设置的台面（1）和支架（2），所述支架（2）通过两个支撑柱（3）固定设置在台面（1）上，所述支架（2）的侧面上设置有一与台面（1）平行的导轨（4），所述导轨（4）上设置有可沿导轨（4）左右移动的光学组件（5），所述光学组件（5）包括一用于采集图像信息的CCD镜头，所述光学组件（5）还与一上位机电性相连。

【技术特征摘要】
1.一种平整度检测装置，其特征在于：包括一水平设置的台面（1）和支架（2），所述支架（2）通过两个支撑柱（3）固定设置在台面（1）上，所述支架（2）的侧面上设置有一与台面（1）平行的导轨（4），所述导轨（4）上设置有可沿导轨（4）左右移动的光学组件（5），所述光学组件（5）包括一用于采集图像信息的CCD镜头，所述光学组件（5）还与一上位机电性相连。2.根据权利要求1所述的一种平整度检测装置，其特征在于：所述光学组件（5）还包括一辅助光源，所述辅助光源固定设置在CCD镜头的侧边。3.根据权利要求1所述的一种平整度检测装置，其特征在于：所述台面（1）设置为长方形，所述支架（2）设置为长方体，两个支撑柱（3）分别设置在台面（1）...

【专利技术属性】
技术研发人员：李凌云，万旺春，
申请(专利权)人：嘉兆电子科技珠海有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44