点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置，属于显示器领域。点灯测试电路包括多根平行布置的信号线引线、至少两根短路线以及与信号线引线一一对应设置的多个开关；每根信号线引线的一端适用于连接信号线，每根信号线引线的另一端连接至少两根短路线中的一根，每根短路线与至少两根信号线引线连接；每个开关设置在对应的信号线引线与短路线的连接点和对应的信号线引线与信号线的连接点之间，每个开关均连接有控制线。在进行点灯测试的时候，导通开关使得信号线引线导通，从而进行点灯测试，在点灯测试完，断开开关，从而不需要对短路线进行切割，省去了切割工序，杜绝了切割工序所造成的不良。

【技术实现步骤摘要】
点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置
本专利技术涉及显示器领域，特别涉及一种点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置。
技术介绍
液晶显示面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要的检验程序就是对切割完成的液晶盒进行点灯测试(Light-onTest)，测试液晶盒是否存在缺陷。该测试过程如下：先对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好。目前，点灯测试主要包括短路条(ShortingBar)点灯测试和全接触(FullContact)点灯测试两种。下面以具有阵列基板栅极驱动(GateOnArray，GOA)单元的液晶显示面板的点灯测试为例，对ShortingBar点灯测试和FullContact点灯测试进行说明：FullContact点灯测试是指，采用检测探针对液晶显示面板的阵列基板的引线(Lead)区域进行点灯测试，具体地，将检测探针与Lead区域的每根数据线引线连接，通过检测探针向其连接的数据线引线输入数据信号，进而检测对应的子像素是否存在不良(是否有亮点或亮线)。ShortingBar点灯测试则是在FullContact点灯测试的基础上，采用ShortingBar将多根数据线引线相互连接，测试时可以通过检测探针向ShortingBar输入数据信号，实现多个子像素的同时检测，在所有子像素测试完成后，需要通过切割技术将连接在数据线引线间的ShortingBar切断，从而避免ShortingBar影响液晶显示面板的正常工作。对ShortingBar进行切割，不仅会导致液晶显示面板的成本升高，而且增加了液晶显示面板的不良风险。
技术实现思路
为了解决现有技术中对ShortingBar进行切割，不仅会导致液晶显示面板的成本升高，而且增加了液晶显示面板的不良风险的问题，本专利技术实施例提供了一种点灯测试电路、阵列基板及其制作方法、显示装置。所述技术方案如下：第一方面，本专利技术实施例提供了一种点灯测试电路，所述点灯测试电路包括多根平行布置的信号线引线、至少两根短路线以及与所述信号线引线一一对应设置的多个开关；每根所述信号线引线的一端适用于连接信号线，每根所述信号线引线的另一端连接所述至少两根短路线中的一根，每根所述短路线与至少两根所述信号线引线连接；每个所述开关设置在对应的所述信号线引线与所述短路线的连接点和对应的所述信号线引线与所述信号线的连接点之间，每个所述开关均连接有控制线。在本专利技术实施例的一种实现方式中，每根所述短路线的至少一端设置有焊盘。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述焊盘为圆形焊盘或方形焊盘，所述圆形焊盘的直径或所述方形焊盘的边长为200-400um。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述至少两根短路线的位于所述多根信号线引线的同一侧的焊盘并排间隔布置。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述点灯测试电路还包括虚设焊盘，所述虚设焊盘与所述至少两根短路线的位于所述多根信号线引线的同一侧的焊盘并排间隔布置。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，各个所述开关与同一根所述控制线电连接。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述控制线的一端设置有焊盘。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述信号线引线为数据线引线。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述点灯测试电路还包括多根阵列基板栅极驱动GOA驱动线，每根所述GOA驱动线的一端适用于连接一根GOA引线，每根所述GOA驱动线的另一端设置有外引脚贴合焊盘，任意两根所述GOA驱动线连接的所述GOA引线不同；所述GOA引线用于为GOA单元提供外部输入信号。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述多根信号线引线分为N组，相邻的N根所述信号线引线分别属于N组所述信号线引线，每组所述信号线引线连接同一根所述短路线，N为大于1的整数。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述N的取值为2、3或6。在本专利技术实施例的另一种实现方式中，所述开关为半导体开关。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种阵列基板，所述阵列基板包括第一方面任一项所述的点灯测试电路。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括第二方面所述的阵列基板。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种阵列基板制作方法，所述方法包括：提供一衬底基板；在基板上制作多根平行布置的信号线引线、至少两根短路线以及与所述信号线引线一一对应设置的多个开关；每根所述信号线引线的一端适用于连接信号线，每根所述信号线引线的另一端连接所述至少两根短路线中的一根，每根所述短路线与至少两根所述信号线引线连接；每个所述开关设置在对应的所述信号线引线与所述短路线的连接点和对应的所述信号线引线与所述信号线的连接点之间，每个所述开关均连接有控制线。本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是：本专利技术通过在信号线引线上设置开关，在进行点灯测试的时候，导通开关使得信号线引线导通，从而进行点灯测试，在点灯测试完，断开开关，由于开关外侧(靠近面板边缘)的部分(部分信号线引线和短路线)处于断路状态，各信号线引线连接的信号线处于相互独立的状态，所以开关外侧(靠近面板边缘)的部分不会对后续制作工序以及最终液晶显示面板的正常工作造成任何影响，所以在后续工序中，不需要对短路线进行切割，省去了切割工序，杜绝了切割工序所造成的不良，同时大大的降低了的面板的生产成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的一种点灯测试电路的电路图；图2是本专利技术实施例提供的另一种点灯测试电路的电路图；图3是本专利技术实施例提供的一种薄膜晶体管开关的结构示意图；图4是本专利技术实施例提供的一种阵列基板制作方法的流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。图1是本专利技术实施例提供的一种点灯测试电路的电路图，参见图1，点灯测试电路包括多根平行布置的信号线引线11、至少两根短路线12以及与信号线引线11一一对应设置的多个开关13；每根信号线引线11的一端适用于连接信号线14，每根信号线引线11的另一端连接至少两根短路线12中的一根，每根短路线12与至少两根信号线引线11连接；每个开关13设置在对应的信号线引线11与短路线12的连接点和对应的信号线引线11与信号线14的连接点之间，每个开关13均连接有控制线15。控制线15用于在进行点灯测试时输出控制信号至连接的开关，使开关闭合。本专利技术通过在信号线引线11上设置开关13，在进行点灯测试的时候，导通开关13使得信号线引线11导通，从而进行点灯测试，在点灯测试完，断开开关13，由于开关13外侧(靠近面板边缘)的部分(部分信号线引线11和短路线12)处于断路状态，各信号线引线11连接的信号线处于相互独立的状态，所以开关13外侧(靠近面板边缘)的部分不会对后续制作工序以及最终液晶显示面板的正常工作造成任何影响，所以在后续工序中，不需要对短路线12进行切割，省去了切割工序，杜绝了切割工序所造成的不良，同时大大的降本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种点灯测试电路，其特征在于，所述点灯测试电路包括多根平行布置的信号线引线、至少两根短路线以及与所述信号线引线一一对应设置的多个开关；每根所述信号线引线的一端适用于连接信号线，每根所述信号线引线的另一端连接所述至少两根短路线中的一根，每根所述短路线与至少两根所述信号线引线连接；每个所述开关设置在对应的所述信号线引线与所述短路线的连接点和对应的所述信号线引线与所述信号线的连接点之间，每个所述开关均连接有控制线。

【技术特征摘要】
1.一种点灯测试电路，其特征在于，所述点灯测试电路包括多根平行布置的信号线引线、至少两根短路线以及与所述信号线引线一一对应设置的多个开关；每根所述信号线引线的一端适用于连接信号线，每根所述信号线引线的另一端连接所述至少两根短路线中的一根，每根所述短路线与至少两根所述信号线引线连接；每个所述开关设置在对应的所述信号线引线与所述短路线的连接点和对应的所述信号线引线与所述信号线的连接点之间，每个所述开关均连接有控制线。2.根据权利要求1所述的点灯测试电路，其特征在于，每根所述短路线的至少一端设置有焊盘。3.根据权利要求2所述的点灯测试电路，其特征在于，所述焊盘为圆形焊盘或方形焊盘，所述圆形焊盘的直径或所述方形焊盘的边长为200-400um。4.根据权利要求2所述的点灯测试电路，其特征在于，所述至少两根短路线的位于所述多根信号线引线的同一侧的焊盘并排间隔布置。5.根据权利要求4所述的点灯测试电路，其特征在于，所述点灯测试电路还包括虚设焊盘，所述虚设焊盘与所述至少两根短路线的位于所述多根信号线引线的同一侧的焊盘并排间隔布置。6.根据权利要求1至5任一项所述的点灯测试电路，其特征在于，各个所述开关与同一根所述控制线电连接。7.根据权利要求6所述的点灯测试电路，其特征在于，所述控制线的一端设置有焊盘。8.根据权利要求1至5任一项所述的点灯测试电路，其特征在于，所述信号线引线为数据线引线。9.根据权利要求8所述的点灯测试电路，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王勇，郭宏雁，郑尧燮，于洋，钟贵平，吴怀亮，谢宗添，汤存对，蒋增杨，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，福州京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11