一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法及对位标记技术

本发明专利技术提供一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法及对位标记，聚酰亚胺薄膜位置测量方法包括下述步骤：提供一基板，在基板上印刷对位标记，对位标记为对称的规则图形，且对位标记的中心与基板的中心重合；以对位标记的中心为原点，在对位标记上按照预设间距标注刻度；在基板上印刷有对位标记的一面制备聚酰亚胺薄膜，根据对位标记测量聚酰亚胺薄膜的位置，判断制备的聚酰亚胺薄膜是否出现偏移。本发明专利技术提供的聚酰亚胺薄膜位置测量方法及对位标记，可以精确测量到基板上制备得到的聚酰亚胺薄膜的偏移量。

【技术实现步骤摘要】
一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法及对位标记
本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法及对位标记。
技术介绍
在液晶显示面板的制作过程中，需要在基板上制备PI(PolyimideFilm，聚酰亚胺)膜。在基板上制备PI膜，一般是通过印刷设备将PI液均匀地涂布到基板上，再对基板表面的PI液进行挤压，等到PI液凝固之后形成PI膜，PI膜在基板上的位置相对于预期的位置会有偏移，当PI膜的偏移量过大，超过了规定的范围时，会对液晶显示面板的后续制成造成影响，导致生产出来的液晶显示面板不符合要求。并且，如果不知道PI膜的偏移量大小，就无法准确的调整PI膜的印刷设备，使印刷到基板上的PI膜的偏移量小于规定的误差范围。因此，在基板上制备PI膜的时候，需要知道最后制成的PI膜的偏移量的大小。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法及对位标记，可以精确测量到基板上制备得到的PI膜的偏移量。本专利技术提供的一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法，包括下述步骤：提供一基板，在所述基板上印刷对位标记，所述对位标记为对称的规则图形，且所述对位标记的中心与所述基板的中心重合；以所述对位标记的中心为原点，在所述对位标记上按照预设间距标注刻度；在所述基板上印刷有所述对位标记的一面制备聚酰亚胺薄膜，根据所述对位标记测量聚酰亚胺薄膜的位置，判断制备的聚酰亚胺薄膜是否出现偏移。优选地，所述预设间距最大值为200微米。优选地，所述对位标记由第一矩形和四个相同的第二矩形构成，所述四个相同的第二矩形分别与所述第一矩形的不同边相重合，且相对的两个所述第二矩形的中心与所述第一矩形的中心在同一直线上；其中，所述对位标记每一边的边长均为所述预设间距的整数倍。优选地，在所述对位标记上按照预设间距标注刻度，具体为：根据所述原点绘制横坐标轴和纵坐标轴，并在所述横坐标轴和所述纵坐标轴上按照所述预设间距标注刻度；其中，所述横坐标轴与一组相对的所述第二矩形的中心连线重合，所述纵坐标轴与另一组相对的所述第二矩形的中心连线重合，所述横坐标轴的长度不小于所述对位标记在所述横坐标轴方向上的长度，且所述纵坐标轴的长度不小于所述对位标记在所述纵坐标轴方向上的长度。优选地，在所述对位标记上按照预设间距标注刻度，具体为：在所述对位标记上标注所述对位标记顶点对应的刻度；当所述对位标记上相邻顶点之间的距离大于所述预设间距时，根据所述预设间距将所述相邻顶点之间的连线进行等分，且标注等分点对应的刻度。优选地，在所述对位标记的刻度包括横向刻度和纵向刻度，其中，以一组相对的所述第二矩形的中心连线方向为横向，另一组相对的所述第二矩形的中心连线方向为纵向；所述聚酰亚胺薄膜位置测量方法，还包括下述步骤：将所述等分点之间两两连线，以将所述对位标记分割成若干边长为所述预设间距的正方形。本专利技术还提供一种对位标记，用于测量基板上聚酰亚胺薄膜的位置，所述对位标记为对称的规则图形，且所述对位标记的中心与所述基板的中心重合，以所述对位标记的中心为原点，在所述对位标记上按照预设间距标注有刻度。优选地，所述对位标记由第一矩形和四个相同的第二矩形构成，所述四个相同的第二矩形分别与所述第一矩形的不同边相重合，且相对的两个所述第二矩形的中心与所述第一矩形的中心在同一直线上；其中，所述对位标记每一边的边长均为所述预设间距的整数倍，且所述预设间距最大值为200微米。优选地，所述对位标记上绘制有横坐标轴及纵坐标轴，并且所述横坐标轴及所述纵坐标轴上根据所述预设间距均标注有刻度；其中，所述横坐标轴及所述纵坐标轴均以所述对位标记的中心为原点，且所述横坐标轴与一组相对的所述第二矩形的中心连线重合，所述纵坐标轴与另一组相对的所述第二矩形的中心连线重合，所述横坐标轴的长度不小于所述对位标记在所述横坐标轴方向上的长度，且所述纵坐标轴的长度不小于所述对位标记在所述纵坐标轴方向上的长度。优选地，所述对位标记上标注有所述对位标记顶点对应的刻度；所述对位标记上大于所述预设间距的边设置有等分点，且所述对位标记上标注有所述等分点对应的刻度，所述等分点之间设置有连线，将所述对位标记分割成若干边长为所述预设间距的正方形；所述对位标记的刻度包括横向刻度和纵向刻度，其中，以一组相对的所述第二矩形的中心连线方向为横向，另一组相对的所述第二矩形的中心连线方向为纵向。实施本专利技术，具有如下有益效果：在基板上印刷了对位标记，并且在对位标记上标注了刻度，在该基板上印刷有对位标记的一面制备透明的聚酰亚胺薄膜，可以根据对位标记上标注的刻度，精确观测到聚酰亚胺薄膜的偏移量，可以精确观测到的偏移量，根据该偏移量可以判断其是否超出了规定的误差范围，如果是，则可以根据聚酰亚胺薄膜的偏移量及时调整聚酰亚胺薄膜的印刷设备，修正印刷聚酰亚胺薄膜的偏移量，使得在下一基板上印刷聚酰亚胺薄膜时，可以保证聚酰亚胺薄膜的偏移量在规定的误差范围内。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术提供的对位标记的示意图。图2是本专利技术提供的一实施例中对位标记上标注有刻度的示意图。图3是本专利技术提供的另一实施例中对位标记上标注有刻度的示意图。具体实施方式本专利技术提供一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法，该聚酰亚胺薄膜位置测量方法包括下述步骤：如图1所示，提供一基板2，在基板2上印刷对位标记1，对位标记1为对称的规则图形，且对位标记1的中心与基板2的中心重合；其中，基板2为矩形，对位标记1的长度方向与基板2的长度方向一致，对位标记1的宽度方向与基板2的宽度方向一致。以对位标记1的中心为原点，在对位标记1上按照预设间距标注刻度。在基板2上印刷有对位标记1的一面制备聚酰亚胺薄膜，根据对位标记1的刻度测量聚酰亚胺薄膜在基板2上的位置，判断制备的聚酰亚胺薄膜是否出现偏移。聚酰亚胺薄膜位于对位标记1上，便于测量其位置。在对位标记1上标注了刻度，聚酰亚胺薄膜是一种透明薄膜，可以根据对位标记1的刻度，直观的观测到聚酰亚胺薄膜的偏移量，以便可以判断聚酰亚胺薄膜的偏移量是否超过规定的误差范围，当聚酰亚胺薄膜的偏移量超过规定的误差范围，则可以在下一个基板2上制备聚酰亚胺薄膜时，调整对应的聚酰亚胺薄膜的印刷设备，以便及时调整聚酰亚胺薄膜在基板2上的位置误差，使制备的聚酰亚胺薄膜符合要求。进一步地，预设间距最大值为200微米。进一步地，如图1所示，对位标记1由第一矩形11和四个相同的第二矩形12构成，四个相同的第二矩形12分别与第一矩形11的不同边相重合，且相对的两个第二矩形12的中心与第一矩形11的中心在同一直线上。其中，第二矩形12与第一矩形11重合时，是第二矩形12的一条边与第一矩形11的一条边重合。其中，对位标记1每一边的边长均为预设间距的整数倍。一般而言，基板2的形状为矩形，上述的一组相对的第二矩形12的中心连线与基板2的长度方向平行，另一组相对的第二矩形12的中心连线与基板2的宽度方向平行。进一步地，在对位标记1上按照预设间距标注刻度，具体为：根据原点绘制横坐标轴本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法，其特征在于，包括下述步骤：提供一基板，在所述基板上印刷对位标记，所述对位标记为对称的规则图形，且所述对位标记的中心与所述基板的中心重合；以所述对位标记的中心为原点，在所述对位标记上按照预设间距标注刻度；在所述基板上印刷有所述对位标记的一面制备聚酰亚胺薄膜，根据所述对位标记测量聚酰亚胺薄膜的位置，判断制备的聚酰亚胺薄膜是否出现偏移。

【技术特征摘要】
1.一种聚酰亚胺薄膜位置测量方法，其特征在于，包括下述步骤：提供一基板，在所述基板上印刷对位标记，所述对位标记为对称的规则图形，且所述对位标记的中心与所述基板的中心重合；以所述对位标记的中心为原点，在所述对位标记上按照预设间距标注刻度；在所述基板上印刷有所述对位标记的一面制备聚酰亚胺薄膜，根据所述对位标记测量聚酰亚胺薄膜的位置，判断制备的聚酰亚胺薄膜是否出现偏移。2.根据权利要求1所述的聚酰亚胺薄膜位置测量方法，其特征在于，所述预设间距最大值为200微米。3.根据权利要求1所述的聚酰亚胺薄膜位置测量方法，其特征在于，所述对位标记由第一矩形和四个相同的第二矩形构成，所述四个相同的第二矩形分别与所述第一矩形的不同边相重合，且相对的两个所述第二矩形的中心与所述第一矩形的中心在同一直线上；其中，所述对位标记每一边的边长均为所述预设间距的整数倍。4.根据权利要求3所述的聚酰亚胺薄膜位置测量方法，其特征在于，在所述对位标记上按照预设间距标注刻度，具体为：根据所述原点绘制横坐标轴和纵坐标轴，并在所述横坐标轴和所述纵坐标轴上按照所述预设间距标注刻度；其中，所述横坐标轴与一组相对的所述第二矩形的中心连线重合，所述纵坐标轴与另一组相对的所述第二矩形的中心连线重合，所述横坐标轴的长度不小于所述对位标记在所述横坐标轴方向上的长度，且所述纵坐标轴的长度不小于所述对位标记在所述纵坐标轴方向上的长度。5.根据权利要求3所述的聚酰亚胺薄膜位置测量方法，其特征在于，在所述对位标记上按照预设间距标注刻度，具体为：在所述对位标记上标注所述对位标记顶点对应的刻度；当所述对位标记上相邻顶点之间的距离大于所述预设间距时，根据所述预设间距将所述相邻顶点之间的连线进行等分，且标注等分点对应的刻度。6.根据权利要求5所述的聚酰亚胺薄膜位置测量方法，其特征在于，在所述对位标记的刻度包括横向刻度和纵向刻度，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈君，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44