一种检测方法技术

本发明专利技术涉及光学测距装置的产品检测领域，一种检测方法，将待测测试元件对应安装在光学测距装置上，通过驱动结构驱动反射结构或光学测距装置连续运动并逐一经过设定的测试点位，所述光学测距装置在每个测试点位测量并输出测量距离，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格；或者，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格。针对测试元件进行综合的数据测量，利用了光学测距装置的光学测速快速高效的特性，比对快速准确，适用多种测试元件，节省检测设备的占用空间。

Detection method

The invention relates to the field of product testing of optical ranging device, a detection method, will be installed in the test element corresponding optical ranging device, by driving structure driven continuous motion reflection structure or optical ranging device and one by one through the test point set, the optical ranging device in each test point measurement and output measure the distance of optical ranging device and reflection structure of each test point of measuring distance and real distance comparison test, test elements are qualified; or, to measure the light intensity of optical ranging device and reflection structure of each point of the test and the true distance comparison test, test elements are qualified. Aiming at the comprehensive data measurement of the test element, the optical distance measuring device is used to speed up the optical measurement. It is fast, accurate, applicable to a variety of test components, and saves the space of the detection equipment.

【技术实现步骤摘要】
一种检测方法
本专利技术涉及光学测距装置的产品检测领域，尤其是涉及一种检测方法。
技术介绍
目前，在研发过程中，对光电产品的光学特性、电学特性及其工作具体性能参数的检测是必不可少的程序。在对光电产品光学特性的检测中，特别是对透镜装置的检测，在现有的技术中，通常使用的检测方式为根据标准镜片的尺寸进行比较。但是，通过这种方式仅仅能检测出透镜的尺寸偏差，并不能检测出透镜在应用到整体部件中的性能，比如通过透镜测出的性能参数是否在既定的光电装置光学性能要求范围内。测量偏心的方法是通过让样品旋转，通过平行光入射（透射或反射）样品的焦平面（或曲率中心）上十字叉丝的跳动来判断偏心大小。用以测量偏心的透镜检测装置有透镜定中心仪、焦距仪等，主要是通过非接触式的方式以透射式或透反式两种方式进行误差的定量测量。上述两种方式用于测量和判定透镜的各项参数误差的操作均较为复杂，对于整体的透镜的性能是否适用于测量装置还需要进一步的加权计算，加大了测量结果的误差。同理，对于测距装置的电路板、光源、接收模块往往采用专门的电路进行测量，然后经过不同的计算得出相应的参数误差，采用的测量工具较多，采取的测量方式较多，增大了测量成本，加大了测量的误差。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提供一种能够通过测出的性能参数判断待测对象是否在既定的光电测距装置对光学性能的要求范围内的检测装置，采用如下技术方案实现：一种检测装置，包括反射结构和光学测距装置，所述光学测距装置安放有至少一个可拆卸待测测试元件，所述反射结构和光学测距装置的间距可调，所述光学测距装置在每个设定的测试点位测量其与反射结构的间距并输出测量距离或测量光强，通过在每一个测试点位的光学测距装置与反射结构的真实距离和测量距离的比对或真实距离和测量光强的比对，以确定光学测距装置上的待测测试元件是否合格。作为本技术方案的优选方案之一，所述光学测距装置包括光源、电路板、用于会聚发射光束的发射光学组件、用于会聚反射光束的接收光学组件和接收模块，所述电路板驱动光源发出光束，所述光束入射到反射结构，所述接收模块接收反射结构反射后的光束，所述光源、电路板、发射光学组件、接收光学组件和接收模块中的至少一个或几个可拆卸设置于光学测距装置中。作为本技术方案的优选方案之一，还包括驱动装置和控制系统，所述控制系统通过驱动装置驱动所述光学测距装置或反射结构逐一经过测试点位。作为本技术方案的优选方案之一，所述测试点位由控制系统根据驱动装置的运行参数计算并确定；或者，所述测试点位由真实距离标定装置测量并标定后将相应的信号传输至控制系统。作为本技术方案的优选方案之一，所述驱动装置包括驱动器和步进电机，所述步进电机通过齿轮齿条结构或丝杆螺母结构与反射结构或光学测距装置相连接；或者，所述驱动装置包括驱动器和直线电机，所述直线电机的输出轴直接连接反射结构或光学测距装置。作为本技术方案的优选方案之一，所述丝杆螺母结构包括设置在所述反射结构或光学测距装置下方的螺母座，以及螺接在所述螺母座内且与螺母座相适配的丝杆，所述丝杆的固定端与步进电机的传动轴相连接，所述丝杆的另一端穿设在支撑座上。作为本技术方案的优选方案之一，所述丝杆的固定端和支撑座分别对应设置有限位开关，所述限位开关在其与对应丝杆端部的实测距离小于等于设定安全距离值时，向控制系统发出信号，收到信号后所述控制系统指令驱动装置停止移动。作为本技术方案的优选方案之一，所述检测装置还包括与反射结构或光学测距装置的设定测试路径相平行的直线光轴导轨，与驱动装置相连接的反射结构或光学测距装置套设在直线光轴导轨上，且所述反射结构或光学测距装置只可沿与直线光轴导轨相平行的设定测试路径移动。作为本技术方案的优选方案之一，所述接收模块包括感光芯片和/或计时芯片；所述光源为LED光源或者激光光源。作为本技术方案的优选方案之一，光源为两个或四个，两个或四个所述光源分别对称设置在接收模块的两侧。作为本技术方案的优选方案之一，所述检测装置还包括外壳底座，所述外壳底座上设置有用于安装光源、发射光学组件、接收光学组件、电路板和接收模块的安装槽，所述外壳底座上方还设置有用于定位发射光学组件和接收光学组件的定位透镜上盖，以及用于定位电路板的定位电路板上盖。作为本技术方案的优选方案之一，还包括沿竖直方向上下移动并在设定高度定位的升降台，所述光学测距装置或者反射结构设置在所述升降台上。作为本技术方案的优选方案之一，还包括将所述反射结构和光学测距装置封装起来的壳体，所述壳体上开设有用于更换待测测试元件的侧开门。作为本技术方案的优选方案之一，所述壳体由透明材料制成。作为本技术方案的优选方案之一，所述发射光学组件包括设置在发射光路上的发射透镜，每条发射光路上对应设置有一个发射透镜。作为本技术方案的优选方案之一，所述接收光学组件包括沿接收光路自外而内依次设置的接收外透镜和接收内透镜。本专利技术还提供了一种检测方法，将待测测试元件对应安装在光学测距装置上，通过驱动结构驱动反射结构或光学测距装置连续运动并逐一经过设定的测试点位，所述光学测距装置在每个测试点位测量并输出测量距离，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格；或者，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格。作为本技术方案的优选方案之一，采用比值法对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离An和真实距离an或者测量光强In和真实距离an进行比对：每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离An和真实距离an的比值Pn的数值范围在（k1，k2）之间时，待测测试元件合格；或者，每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强In和真实距离an的比值Qn的数值范围在（k3，k4）之间时，待测测试元件合格；其中，所述n为大于等于1的自然数，所述k1、k2、k3和k4为常数，且k2大于k1，k4大于k3。作为本技术方案的优选方案之一，所述Pn中n的取值为M，则从P1到PM这M个数值中最多有N-1个在（k1，k2）之外，则Pn所对应的待测测试元件为合格；或者，所述Qn中n的取值为M，则从Q1到QM这M个数值中最多有N-1个在（k3，k4）之外，则Qn所对应的待测测试元件为合格；M为大于1的自然数，N为大于等于1的自然数，且M大于N-1。作为本技术方案的优选方案之一，所述Pn中n的取值为80，则P1到P80这80个数值中最多有5个在设定的（k1，k2）之外，满足前述条件的待测测试元件为合格；或者，所述Qn中n的取值为80，则Q1到Q80这80个数值中最多有5个在设定的（k3，k4）之外，满足前述条件的待测测试元件为合格。本专利技术针对待测对象产品在实际使用的环境，创造一个小型系统，针对某一个或者某几个测试元件的组合进行综合的数据测量，利用了光学测距装置的光学测速快速高效的特性，比对快速准确，适用多种测试元件，一机多用，节省检测设备的占用空间。在本专利技术中由实验多次测量标定的检测标准以及误差作为判断的标准，判断透镜是否合格，同时可检测出透镜的一致性，因而增强了对透镜的甄别，并有效的建立了透镜的数据库，增强了透镜测试的可追溯性。附图说明图1为本专利技术检测装置的光路图。图2为本专利技术检测装置的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测方法，其特征在于，将待测测试元件对应安装在光学测距装置上，通过驱动结构驱动反射结构或光学测距装置连续运动并逐一经过设定的测试点位，所述光学测距装置在每个测试点位测量并输出测量距离，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格；或者，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格。

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，将待测测试元件对应安装在光学测距装置上，通过驱动结构驱动反射结构或光学测距装置连续运动并逐一经过设定的测试点位，所述光学测距装置在每个测试点位测量并输出测量距离，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格；或者，对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强和真实距离比对，判断待测测试元件是否合格。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，采用比值法对每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离An和真实距离an或者测量光强In和真实距离an进行比对：每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量距离An和真实距离an的比值Pn的数值范围在（k1，k2）之间时，待测测试元件合格；或者，每个测试点位的光学测距装置与反射结构的测量光强In和真实距离an的比值Qn的数值范围在（k3，k4）之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋佳，卢锁，疏达，李远，
申请(专利权)人：北醒北京光子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11