一种微推力测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于微推力测量技术领域，尤其涉及一种微推力测量方法，同时本发明专利技术还提供一种单摆微推力测量装置和一种三丝扭摆微推力测量装置，在保持重力方向和微推力方向垂直状态下，通过机械平衡原理，将微推力物理量转化为位移的物理量，本发明专利技术解决了现有技术存在由于推力与重力在同一个方向或对推进器的质量变化敏感等因素的影响，从而导致精度低且误差大的问题，具有消除重力的影响、摩擦力小、减震效果好的有益技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种微推力测量方法及装置
本专利技术属于微推力测量
，尤其涉及一种微推力测量方法，同时本专利技术还提供一种单摆微推力测量装置和一种三丝扭摆微推力测量装置。
技术介绍
微推力测量技术是指测量几个微牛到几个牛顿之间的推力，这门技术是电推力器推力测试的一个主要内容，微推力测试有几个特点：一、敏感程度高，推力器所产生的推力介于几个微牛和几牛顿之间，对于如此小的推力，许多在通常情况下可以忽略的因素都足以将其淹没，比如，人走过的脚步声或者一般的实验操作等都可能对测试结果产生很大的影响，二、推重比非常小，相对于安装在推力平台上的推进装置和测量装置的重量，要测的推力十分小，微波推力器系统质量约为20公斤，而所测的力为毫牛级别，若其测量误差为1%，则推力测量误差绝对值仅为1×10–2毫牛，推重比小于10-7，这二个特点与弱力测量实验特点相似，但实验条件比弱力测量还要苛刻，可见微小推力的测量十分困难，因而微推力的测量也就对实验的设计有很高的要求，归纳起来可以看出目前常用的微推力测量装置主要为天平和摆式结构，天平结构的基本原理就是利用平衡原理，先将推力器整体预先平衡，再由测量元件来平衡推力器产生的微本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微推力测量方法，其特征在于，包括在保持重力方向和微推力方向垂直状态下，通过机械平衡原理，将微推力物理量转化为位移的物理量；其中，所述通过机械平衡原理，将微推力物理量转化为位移的物理量包括推力平衡测量方法和扭矩平衡测量方法。

【技术特征摘要】
1.一种微推力测量方法，其特征在于，包括在保持重力方向和微推力方向垂直状态下，通过机械平衡原理，将微推力物理量转化为位移的物理量；其中，所述通过机械平衡原理，将微推力物理量转化为位移的物理量包括推力平衡测量方法和扭矩平衡测量方法。2.根据权利要求1所述的一种微推力测量方法，其特征在于，所述推力平衡测量方法包括在倒挂摆平衡状态下，使倒挂摆受水平的微推力作用，根据倒挂摆微推力推算数学模型，将微推力物理量转化为位移的物理量。3.根据权利要求2所述的一种微推力测量方法，其特征在于，所述推力平衡微推力推算数学模型为：；所述光斑行程：所述为摆线固定点到托盘底边的距离；所述为读数尺与竖直状态反射镜的垂直距离；所述为光斑行程。4.根据权利要求2所述的一种微推力测量方法，其特征在于，所述扭矩平衡测量方法包括将等长且对称分布的三根扭丝的扭转平台通过配重调平，在平衡状态下，使扭转平台受水平的微推力作用，根据扭矩微推力推算数学模型，将微推力物理量转化为位移的物理量。5.根据权利要求4所述的一种微推力测量方法，其特征在于，所述扭矩平衡微推力推算数学模型...

【专利技术属性】
技术研发人员：石峰，王昊，李强，徐永豪，刘小莲，王国东，
申请(专利权)人：河南理工大学，
类型：发明
国别省市：河南,41