针对滞留时间确定或确认的视窗化质谱分析数据的使用制造技术

本发明专利技术涉及针对滞留时间确定或确认的视窗化质谱分析数据的使用。对分离样本的扫描在多个间隔中的每个间隔处由质谱仪接收。所述质谱仪在每个间隔处执行一或多次质谱扫描。所述扫描具有一或多个序列质量窗口宽度以在每个间隔处横跨整个质量范围并且在所述多个间隔内产生所述整个质量范围的光谱集合。为离子碎片识别所述光谱集合中的一或多个不同间隔处的一或多个峰。在每个峰的每个间隔内检索所述整个质量范围的质谱。将所述质谱中与每个峰对应的质荷比峰的一或多个离子特征值与所述碎片离子的一或多个已知值相比较。基于比较对每个峰进行评分。

【技术实现步骤摘要】
针对滞留时间确定或确认的视窗化质谱分析数据的使用分案申请的相关信息本案是分案申请。该分案的母案是申请日为2012年12月15日、申请号为201280064280.1、专利技术名称为“针对滞留时间确定或确认的视窗化质谱分析数据的使用”的专利技术专利申请案。相关申请案的交叉参考本申请案主张2011年12月29日申请的第61/581,423号美国临时专利申请案的权益，所述申请案内容的全文以引用方式并入本文中。
本申请大体上涉及质谱分析领域，且更具体地涉及对质量光谱集合中所关注的已知化合物峰进行评分。
技术介绍
质谱仪通常与色谱分析系统或其它的分离系统耦合，以便识别和表征来自样本的所关注的洗脱化合物。在这样一个耦合系统中，洗脱剂是离子化的，并且一系列质谱在特定的时间间隔从洗脱剂中获取。这些时间间隔从(例如)1秒到100分钟(或更长)变化。这系列质谱形成色谱图。在色谱图中出现的峰用于识别或表征样本中所关注的化合物。然而在复杂的混合物中，对具有相同质荷比的其它峰的干涉可能难以确定代表所关注的化合物的峰。在一些情况中，考虑到所关注的化合物的预期滞留时间，没有有价值的信息。在其它情况中，可得知所关注本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对质量光谱集合中所关注的已知化合物峰进行评分的系统，所述系统包括：从样本混合物中分离一或多种化合物的分离装置；质谱仪，所述质谱仪通过使用一或多个序列质量窗口宽度在多个时间间隔的每个时间间隔处在分离的样本混合物上执行一或多次质谱扫描以横跨整个质量范围，从而产生在所述多个时间间隔内的质量光谱集合；以及处理器，所述处理器(a)选择已知化合物的碎片离子，(b)计算从所述质量光谱集合中提取的所述碎片离子的离子色谱图XIC，其中所述XIC包含在所述多个时间间隔的每一时间间隔的所述碎片离子的强度，以及(c)如果在所述XIC中在两个或更多个不同的时间间隔处发现对应所述碎片离子的两个或更多个XIC峰，为...

【技术特征摘要】
2011.12.29 US 61/581,4231.一种用于对质量光谱集合中所关注的已知化合物峰进行评分的系统，所述系统包括：从样本混合物中分离一或多种化合物的分离装置；质谱仪，所述质谱仪通过使用一或多个序列质量窗口宽度在多个时间间隔的每个时间间隔处在分离的样本混合物上执行一或多次质谱扫描以横跨整个质量范围，从而产生在所述多个时间间隔内的质量光谱集合；以及处理器，所述处理器(a)选择已知化合物的碎片离子，(b)计算从所述质量光谱集合中提取的所述碎片离子的离子色谱图XIC，其中所述XIC包含在所述多个时间间隔的每一时间间隔的所述碎片离子的强度，以及(c)如果在所述XIC中在两个或更多个不同的时间间隔处发现对应所述碎片离子的两个或更多个XIC峰，为了确定所述已知化合物的真实滞留时间，通过以下操作计算每一个XIC峰的得分：从每一时间间隔的所述质量光谱集合中获取整个质量范围的质量光谱，以及将每一整个质量范围的质量光谱中的所述碎片离子的质荷比(m/z)峰的一或多个离子特征值与所述碎片离子的一或多个已知值相比较。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述一或多个离子特征包括电荷状态。3.根据权利要求1所述的系统，其中所述一或多个离子特征包括同位素状态。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述一或多个离子特征包括质量精确度。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述一或多个离子特征包括与所述已知化合物的已知碎片轮廓相关联的一或多个质量差。6.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器基于所述两个或更多个XIC峰的得分进一步识别所述已知化合物的分离时间间隔。7.根据权利要求1所述的系统，其中所述质谱仪通过将相邻或重叠连续质量窗口宽度的扫描结果拼凑在一起来执行一次或多次质量光谱扫描。8.根据权利要求6所述的系统，其中所述处理器将所述已知化合物的分离时间间隔识别为具有最高得分的所述两个或更多个XIC峰中的一个XIC峰的时间间隔。9.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器进一步针对所述已知化合物的一或多个额外碎片离子执行步骤(a)到(c)，从而产生所述已知化合物的两个或更多个碎片离子的XIC峰的得分，识别所述多个时间间隔的两个或更多个不同的时间间隔，其中所述两个或更多个碎片离子中的每个碎片离子具有XIC峰，将在所述两个或更多个不同的时间间隔中每一者处来自所述两个或更多个碎片离子的XIC峰的得分组合，从而产生所述两个或更多个间隔中每一者的组合得分，以及将具有最高得分的所述两个或更多个不同的时间间隔中的一个间隔识别为所述已知化合物的分离时间间隔。10.根据权利要求9所述的系统，其中在所述分离时间间隔处来自所述质量光谱集合的所述整个质量范围的质谱用于所述已知化合物的定量。11.根据权利要求9所述的系统，其中在所述分离时间间隔处来自所述质量光谱集合的所述整个质量范围的质谱用于定位所述已知化合物的修改形式。12.一种用于对质量光谱集合中的所关注的已知化合物的峰进行评分的方法，所述方法包括：获取多个时间间隔的质量光谱集合，其中使用分离装置将一或多个化合物从样本混合物中分离，并且其中通过使用一个或多...

【专利技术属性】
技术研发人员：斯蒂芬·A·泰特，约翰·R·伯顿，
申请(专利权)人：DH科技发展私人贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：新加坡,SG