The invention discloses a display panel and a method for testing the display panel, the display panel includes a display part of the display section for displaying a variety of colors including a plurality of sub pixels, and a plurality of data lines connected to the sub pixels; the first test, the first test for each department color of the sub pixels to the plurality of data lines in the (2K 1) data line provides a test signal, wherein K is an integer greater than 0; and the second test, the second test department for providing the test signal in the first test, the 2K to the plurality of data lines in the data line test signal in accordance with each color of the sub pixels, the polarity of the test signal provided by the second test portion of the polarity and provided by the first test of the test signal on the contrary .
【技术实现步骤摘要】
显示面板及用于测试显示面板的方法本申请要求2012年11月23日提交的韩国专利申请No.10-2012-0133434的优先权,在此援引该专利申请作为参考,如同在这里完全阐述一样。
本专利技术的实施方式涉及一种显示面板以及用于测试显示面板是否正常操作的方法。
技术介绍
可通过包括显示面板的照明测试工艺在内的各种工艺来制造诸如液晶显示器(LCD)、有机照明二极管(OLED)、等离子体显示面板(PDP)和电泳显示器(EPD)这样的显示装置。更详细地说,在显示装置中包含的显示面板上显示图像。可通过向显示面板提供预定的测试信号并测试显示面板是否根据预定的测试信号正常操作,进行照明测试工艺。例如,图1是图解现有技术的显示面板的示意图,图2是图解当进行照明测试工艺时显示面板的示意图。参照图1,现有技术的显示面板10包括显示部11和测试部12。显示部11包括由多条栅极线GL1到GLn和多条数据线DL1到DLm限定的多个子像素SP,其中栅极线和数据线彼此交叉。多条数据线DL1到DLm还与测试部12连接。此外,测试部12向数据线DL1到DLm相对于公共电压Vcom交替提供正极性(+)测试信号和负极性(-)测试信号。也就是说,测试部12向数据线DL1到DLm传送从测试装置提供的正极性(+)测试信号和负极性(-)测试信号,由此正极性(+)测试信号和负极性(-)测试信号被交替提供给数据线DL1到DLm。数据线DL1到DLm通过一条连接线还与测试部12连接。在测试部12向数据线DL1到DLm交替提供正极性(+)测试信号和负极性(-)测试信号时,根据现有技术的显示面板10中包含的子像 ...
【技术保护点】
一种用于测试显示面板的方法,所述显示面板包括用于显示第一颜色的多个第一子像素、用于显示第二颜色的多个第二子像素以及用于显示第三颜色的多个第三子像素,其中所述显示面板还包括:第一测试焊盘,所述第一测试焊盘用于与测试装置接触以从所述测试装置接收第一测试信号;第二测试焊盘,所述第二测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收第二测试信号;第三测试焊盘,所述第三测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收所述第一测试信号;第一连接线,所述第一连接线连接所述第一测试焊盘和与显示第一颜色的第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K‑1)条第一数据线;第二连接线,所述第二连接线连接所述第二测试焊盘和与显示第二颜色的第二子像素连接的多条第二数据线中的第(2K‑1)条第二数据线;以及第三连接线,所述第三连接线连接所述第三测试焊盘和与显示第三颜色的第三子像素连接的多条第三数据线中的第(2K‑1)条第三数据线,所述方法包括如下步骤:向与所述第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K‑1)条第一数据线提供所述第一测试信号,其中K是大于0的整数;以及在向第(2K‑1)条第一数据线提供所述第一测试信号 ...
【技术特征摘要】
2012.11.23 KR 10-2012-01334341.一种用于测试显示面板的方法,所述显示面板包括用于显示第一颜色的多个第一子像素、用于显示第二颜色的多个第二子像素以及用于显示第三颜色的多个第三子像素,其中所述显示面板还包括:第一测试焊盘,所述第一测试焊盘用于与测试装置接触以从所述测试装置接收第一测试信号;第二测试焊盘,所述第二测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收第二测试信号;第三测试焊盘,所述第三测试焊盘用于与所述测试装置接触以从所述测试装置接收所述第一测试信号;第一连接线,所述第一连接线连接所述第一测试焊盘和与显示第一颜色的第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K-1)条第一数据线;第二连接线,所述第二连接线连接所述第二测试焊盘和与显示第二颜色的第二子像素连接的多条第二数据线中的第(2K-1)条第二数据线;以及第三连接线,所述第三连接线连接所述第三测试焊盘和与显示第三颜色的第三子像素连接的多条第三数据线中的第(2K-1)条第三数据线,所述方法包括如下步骤:向与所述第一子像素连接的多条第一数据线中的第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号,其中K是大于0的整数;以及在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时,向所述多条第一数据线中的第2K条第一数据线提供与所述第一测试信号具有相反极性的所述第二测试信号,以交替地照明与第(2K-1)条第一数据线连接的第一子像素和与第2K条第一数据线连接的第一子像素。2.根据权利要求1所述的方法,其中通过向与显示红色的第一子像素连接的第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号,执行向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号的步骤。3.根据权利要求1所述的方法,还包括如下步骤:在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时,向与所述第二子像素连接的多条第二数据线中的第(2K-1)条第二数据线提供所述第二测试信号;在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时,向第2K条第二数据线提供所述第一测试信号,以交替地照明与第(2K-1)条第二数据线连接的第二子像素和与第2K条第二数据线连接的第二子像素;在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时,向与所述第三子像素连接的多条第三数据线中的第(2K-1)条第三数据线提供所述第一测试信号;以及在向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号时,向第2K条第三数据线提供所述第二测试信号,以交替地照明与第(2K-1)条第三数据线连接的第三子像素和与第2K条第三数据线连接的第三子像素。4.根据权利要求3所述的方法,其中向第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号的步骤包括:向与显示红色的第一子像素连接的第(2K-1)条第一数据线提供所述第一测试信号,其中向第(2K-1)条第二数据线提供所述第二测试信号的步骤包括:向与显示绿色的第二子像素连接的第(2K-1)条第二数据线提供所述第二测试信号,以及其中向第(2K-1)条第三数据线提供所述第一测试信号的步骤包括:向与显示蓝色的第三子像素连接的第(2K-1)条第三数据线提供所述第一测试信号。5.根据权利要求1所述的方法,还包括:在改变所述测试信号的电压之后,重复执行提供所述第一测试信号的步骤和提供所述第二测试信号的步骤。6.一种显示面板,包括:显示部,所述显示部包括用于显示多种颜色的多个子像素、以及与所述子像素连接的多条数据线;第一测试部,所述第一测试部用于按照所述子像素的每种颜色向所述多条数据线中的第(2K-1)条数据线提供测试信号,其中K是大于0的整数;以及第二测试部,所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:朴宰彻,朴济炯,
申请(专利权)人:乐金显示有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国,KR
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。