一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置，该分析方法包括：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；将第一母面板的不良拼接图像和第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。由于不良叠加图像的不良信息是从多个母面板汇总得到，能够体现大数据量的面板不良在母面板上的表现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示面板检测
，尤其涉及一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置。
技术介绍
随着智能化制造技术的发展，在显示面板的生产检查环节中自动光学检测(AOI)使用日益广泛。AOI采用无人化自动检测的方式，检测速度快、性能稳定、可调控性好，成为替代人工检测的主要的产品缺陷检测模式。显示面板AOI是利用拍照设备对切割后的单一子显示面板进行拍摄，然后对拍摄的图像进行分析，找出单一子显示面板上的不良，并进行不良品拦截，并不能获取未切割前的母面板的不良整体形貌图，具体不良在母面板上的关联、贯穿情况等。现今高世代线显示面板生产，针对母面板上不良发生的原因分析与及时的工艺、设备调整，对于产品良率提升，改善出货品质，遏制废品损失等方面具有巨大的促进作用。现有的显示面板不良信息的分析方法是刷取子显示面板检测数据，统计出母面板上各子显示面板位置特定不良的发生率，粗略得出母面板哪些部位的特定不良发生比例高，进而追查工艺设备的对应问题点。上述分析方法效率低下，须人工从大量数据中进行甄别筛选，同时对数据进行编辑整理，最终只能得到简略抽象的不良Mapping(地图)发生率图表，且无法准确定位不良具体位置，无法直观得出母面板不良整体形貌图，无法研究具体不良在母面板上的关联、贯穿情况等，对于及时准确的不良分析有很大的局限性。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种显示面板不良信息的分析方法和分析装置，能够对未切割前的母面板的不良信息进行全面的分析。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种显示面板不良信息的分析方法，包括：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。优选地，所述将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像的步骤之后还包括：确定待解析的不良信息类型；显示加载有所述待解析的不良信息的相关内容的所述不良叠加图像。优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤之前还包括：通过自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；存储所述已检测的子显示面板的不良检测图像。优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：确定待解析的第一子显示面板，所述第一子显示面板属于所述第一母面板；从存储的所述已检测的子显示面板的不良检测图像中，提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像；对获取到的第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像，所述第一母面板的不良拼接图像对应的不良信息由所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良信息汇总得到。优选地，存储的每一所述已检测的子显示面板的不良检测图像对应一唯一编号，所述编号中包含所述已检测的子显示面板所属的母面板的标识信息；所述提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像的步骤包括：根据所述第一子显示面板的编号，检索出与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的编号；根据所述第一子显示面板和第二子显示面板的编号，提取所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良检测图像。优选地，所述编号中还包含所述已检测的子显示面板在其所属的母面板中的位置信息；所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的编号中所指示的其所述第一母面板中的位置信息，确定所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置；根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，对所述第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像。优选地，子显示面板的不良信息包括不良在子显示面板中的坐标信息，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤还包括：根据所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的不良信息的坐标，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板在所述第一母面板中的位置，所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的尺寸，所述第一母面板的尺寸和所述第一母面板在切割工艺中的切割参数，将不良在所述第一子显示面板和所述第二子显示面板中的坐标信息转换为不良在所述第一母面板上的坐标信息。优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤之前还包括：利用自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；将属于同一母面板的各已检测的子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像；存储母面板的不良拼接图像。优选地，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：确定待解析的第一母面板；从存储的母面板的不良拼接图像中，提取待解析的第一母面板的不良拼接图像。本专利技术还提供一种显示面板不良信息的分析装置，包括：获取模块，用于获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；叠加融合模块，用于将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。本专利技术的上述技术方案的有益效果如下：本专利技术实施例中，将属于同一母面板的多个子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到母面板的不良拼接图像，然后，将多个相关的母面板的不良拼接图像进行叠加，得到不良叠加图像，由于不良叠加图像对应的不良信息是由多个母面板的不良信息汇总得到，因而能够体现大数据量的面板不良在母面板上的表现。本专利技术实施例的方法简单有效，可迅速直观得出母面板的不良相貌、不良位置、不良的贯穿性、不良的浓度等信息，大大提升了不良分析效率与准确性，从而可根据不良分析结果进行及时的工艺、设备调整，提升产品良率，改善出货品质，遏制废品损失。附图说明图1为本专利技术实施例一的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例二的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例三的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例四的显示面板不良信息的分析方法的流程示意图；图5为本专利技术一实施例的子显示面板的编号示意图；图6为本专利技术一实施例的子显示面板的不良检测图像的拼接方法示意图；图7为本专利技术一实施例的不良在子显示面板上的坐标信息转换为不良在母面板上的坐标信息的示意图；图8为本专利技术一实施例的多个母面板的拼接图像进行叠加融合的示意图；图9为本专利技术一实施例的显示的不良叠加图像的示意图。具体实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，包括：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，包括：获取第一母面板的不良拼接图像，以及与所述第一母面板关联的第二母面板的不良拼接图像，其中，母面板的不良拼接图像由属于该母面板的各子显示面板的不良检测图像拼接而成，母面板的不良拼接图像对应的不良信息由属于该母面板的各子显示面板的不良信息汇总得到；将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像，所述不良叠加图像对应的不良信息由所述第一母面板和所述第二母面板的不良信息汇总得到。2.根据权利要求1所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述将所述第一母面板的不良拼接图像和所述第二母面板的不良拼接图像叠加融合，得到一不良叠加图像的步骤之后还包括：确定待解析的不良信息类型；显示加载有所述待解析的不良信息的相关内容的所述不良叠加图像。3.根据权利要求1所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤之前还包括：通过自动光学检测系统对待检测的子显示面板进行检测，得到已检测的子显示面板的不良检测图像；存储所述已检测的子显示面板的不良检测图像。4.根据权利要求3所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，所述获取第一母面板的不良拼接图像的步骤包括：确定待解析的第一子显示面板，所述第一子显示面板属于所述第一母面板；从存储的所述已检测的子显示面板的不良检测图像中，提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像；对获取到的第一子显示面板的不良检测图像和所述第二子显示面板的不良检测图像进行拼接，得到所述第一母面板的不良拼接图像，所述第一母面板的不良拼接图像对应的不良信息由所述第一子显示面板和所述第二子显示面板的不良信息汇总得到。5.根据权利要求4所述的显示面板不良信息的分析方法，其特征在于，存储的每一所述已检测的子显示面板的不良检测图像对应一唯一编号，所述编号中包含所述已检测的子显示面板所属的母面板的标识信息；所述提取存储的所述第一子显示面板的不良检测图像，以及与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的不良检测图像的步骤包括：根据所述第一子显示面板的编号，检索出与所述第一子显示面板同属于所述第一母面板的第二子显示面板的编号；根据所述第一子显示面板和第二子显示面板的编号，提取所述第一子显示面板和所述第二子显示面板...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘光耀，蒋耀华，孙平，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，重庆京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11