控制面板综合测试台制造技术

一种控制面板综合测试台，其特征在于，包括：控制器、总开关、转码电路、接头、直流检测电压表和显示器；所述控制器分别与总开关、转码电路、接头、直流检测电压表和显示器连接；所述接头和所述转码电路分别与待测电子装置连接。本实用新型专利技术的有益效果为具备对电子设备的解码、编码和励磁功能及工作状态的各项数据进行综合测试，能完全测试的电子设备各方面的功能，测试效率高，出厂产品的良品率高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子设备测试领域，具体涉及一种控制面板综合测试台。
技术介绍
现有的针对于电子设备的测试，一般只测试电子设备的工作电压是否正常来判断电子设备是否为合格品，不具备对电子设备的解码、编码和励磁功能进行测试，无法完全测试的电子设备为合格品，导致测试效率低，出厂产品的良品率较低。
技术实现思路
为解决现有的针对于电子设备的测试，一般只测试电子设备的工作电压是否正常来判断电子设备是否为合格品，不具备对电子设备的解码、编码和励磁功能进行测试，无法完全测试的电子设备为合格品，导致测试效率低，出厂产品的良品率较低的问题，本技术提出一种控制面板综合测试台。本技术提供的一种控制面板综合测试台，其特征在于，包括:控制器、总开关、转码电路、接头、直流检测电压表和显示器;所述控制器分别与总开关、转码电路、接头、直流检测电压表和显示器连接;所述接头和所述转码电路分别与待测电子装置连接。进一步的，还包括熄火开关、高温控制开关和发热装置，分别与所述控制器连接。进一步的，还包括励磁调节电压表和充电电压表，分别与所述控制器连接。进一步的，还包括风扇，与所述控制器连接。进一步的，所述转码电路包括第一至第八电阻、第一至第十电容、串口和转码芯片Ul;所述第一电容的一端与所述转码芯片Ul的VREF引脚电连接，另一端接地；所述第一电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第三电容的一端电连接，所述第三电容的另一端与所述转码芯片Ul的PAO-引脚电连接；所述第二电阻的一端与所述串口电连接，另一端与所述第四电容的一端电连接，所述第四电容的另一端与所述转码芯片Ul的PAO+引脚电连接；所述第二电容的一端电连接于所述第三电容与所述转码芯片Ul之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片Ul的PAI引脚电连接，所述第四电阻的一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片Ul之间的连接节点上，另一端与所述转码芯片Ul的RO-引脚电连接；所述第三电阻为可调电阻，一端电连接于所述第二电容与所述第三电容之间的连接节点上，另一端电连接于所述第二电容与所述转码芯片Ul之间的连接节点上；所述第五电容一端接地，另一端分别与所述转码芯片Ul的VDD和PUI引脚电连接，+3.3V电源连接于所述第五电容与所述转码芯片Ul之间的连接节点上；所述第七电容一端接地，另一端与所述转码芯片Ul的VAG引脚电连接；所述第七电阻的一端与所述转码芯片Ul的Al+引脚电连接，另一端与所述第九电容的一端电连接，所述第九电容的另一端与所述显示器电连接；所述第五电阻的两端电连接于所述转码芯片Ul的VAG引脚与Al+引脚之间；所述第六电容的两端电连接于所述转码芯片Ul的VAG引脚与Al+引脚之间；所述第八电阻的一端与所述转码芯片Ul的Al-引脚，另一端与所述第十电容的一端电连接，所述第十电容的另一端与所示显示器电连接；所述转码芯片Ul的VSS引脚和Mu/A-Law引脚都接地；所述第六电阻为可调电阻，一端与所述转码芯片Ul的AO引脚电连接，另一端与所述转码芯片Ul的Al-引脚;及所述第八电容的一端与所述转码芯片Ul的AO引脚电连接，另一端电连接于所述第八电阻与所述转码芯片Ul之间的连接节点上。进一步的，所述转码电路还包括第一至第八二极管、第九电阻至第十五电阻；所述第一二极管的正极与所述第一电阻的一端电连接，负极与所述第二二极管的正极电连接，所述第二二极管的负极与所述第二电阻的一端电连接；所述第三二极管的负极与所述第一电阻的一端电连接，正极与所述第四二极管的负极电连接，所述第四二极管的正极电连接于所述第二二极管与所述第二电阻之间的连接节点上；所述第五二极管的正极与所述第九电容的另一端电连接，负极与所述第六二极管的正极电连接，所述第六二极管的负极与所述第十电容的另一端电连接；所述第七二极管的负极与所述第九电容的另一端电连接，正极与所述第八二极管的负极电连接，所述第八二极管的正极电连接于所述第六二极管与所述第十电容之间的连接节点上；所述第九电阻的一端与所述转码芯片Ul的FSR引脚和FST引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；所述第十电阻的一端与所述转码芯片Ul的PCMT引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；所述第十一电阻的一端与所述转码芯片Ul的PCMR引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；所述第十二电阻的一端与所述转码芯片Ul的BCLKR引脚、BCLKT引脚和MCLK引脚电连接，另一端与所述控制器电连接；所述第十三电阻的一端与所述第十电容的另一端电连接，另一端接地;及所述第十五电阻的一端连接+3.3V电源，另一端与所述第十四电阻的一端电连接，所述第十四电阻的另一端与所述第九电容的另一端电连接。进一步的，所述转码芯片Ul的型号为W681310RG。本技术的有益效果为具备对电子设备的解码、编码和励磁功能及工作状态的各项数据进行综合测试，能完全测试的电子设备各方面的功能，测试效率高，出厂产品的良品率尚O【附图说明】图1为本技术控制面板综合测试台一实施方式的结构示意图。图2为图1中的转码电路一实施方式的电路图。【具体实施方式】图1为本技术控制面板综合测试台I一实施方式的结构示意图。图中，I为控制面板综合测试台，10为控制器，20为总开关，30为熄火开关，40为高温控制开关，50为转码电路，60为接头，70为直流检测电压表，80为励磁调节电压表，90为发热装置，92为充电电压表，94为风扇，96为显不器。请参阅图1，为本技术控制面板综合测试台I一实施方式的结构示意图，在本实施方式中，控制面板综合测试台I包括:控制器10、总开关20、熄火开关30、高温控制开关40、转码电路50、接头60、直流检测电压表70、励磁调节电压表80、发热装置90、充电电压表92、风扇94和显示器96。控制器10分别与控制器10、总开关20、熄火开关30、高温控制开关40、转码电路50、接头60、直流检测电压表70、励磁调节电压表80、发热装置90、充电电压表92、风扇94和显示器96连接。在本实施方式中，待测电子装置与接头60连接，通过直流检测电压表70、励磁调节电压表80和充电电压表92来对待测电子装置的工作电压、励磁量和充电电压的数据进行测量，当超过设定值范围，即判定为不良品。转码电路50用于对待测电子装置发出的信号进行转码处理，并显示在显示器96上。在本实施例中，当显示器96上显示为乱码，即判定为不良品。通过高温控制开关40控制发热装置90是否发热，以测试待测电子装置在高温环境下的励磁量是否在预设励磁量范围，从而检测是否为不良品。通过熄火开关30控制是否向待测电子装置充电，以检测待测电子装置在充电状态下的电压是否超过预设电压范围，从而检测是否为不良品。通过开启总开关20，直流检测电压表70检测待测电子装置的工作电流，以检测待测电子装置的工作电流是否超过预设电流范围，从而检测是否为不良品。风扇94用于在发热装置90关闭发热功能时，来为控制面板综合测试台I快速散热。请参阅图2，为图1中的转码电路50—实施方式的电路图，在本实施方式中，转码电路50包括第一至第八电阻R1-R8、第一至第十电容Cl-ClO和转码芯片Ul。在本实施例中，转码芯片Ul的型号为W681310RG。第一电容Cl的一端与转码芯本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种控制面板综合测试台，其特征在于，包括：控制器、总开关、转码电路、接头、直流检测电压表和显示器；所述控制器分别与所述总开关、所述转码电路、所述接头、所述直流检测电压表和所述显示器连接；所述接头和所述转码电路分别与待测电子装置连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈洪水，
申请(专利权)人：重庆金东电子有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆;85