一种显示面板及其测试方法技术

技术编号:14418720 阅读:86 留言:0更新日期:2017-01-12 17:59
本发明专利技术公开了一种显示面板及其测试方法。该显示面板包括第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,该测试方法包括:将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接;通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接。通过上述方式,本发明专利技术能够准确地、完整地测试显示面板内的所有信号线,为显示面板的设计验证提供真实有效数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示领域,特别是涉及一种显示面板及其测试方法
技术介绍
目前小尺寸液晶显示器大多采用GOA设计,其中,GOA设计是指利用现有的薄膜晶体管液晶显示器中的Array制程将栅极驱动(Gate)信号制作在Array基板上,实现对液晶显示器扫描的一项技术。但是,由于GOA电路内置于显示面板内,无法如外置电路那样可以实际测量到GOA电路中扫描线输出的栅极驱动信号。为了解决上述问题,现有技术的做法是:在显示面板的非显示区域且靠近GOA电路输出端引出至少一个测试焊盘,将靠近非显示区域的扫描线桥接到测试焊盘进行测试。举例来说,如图1所示,GOA电路设计在显示面板的两边,双向驱动控制显示面板中的薄膜晶体管(TFT),在显示面板的底边的非显示区域靠近GOA电路的输出端引出第一测试焊盘PAD1和第二测试焊盘PAD2,第一行扫描线G(1)和第二行扫描线G(2)分别与第一测试焊盘PAD1和第二测试焊盘PAD2连接,通过第一测试焊盘PAD1和第二测试焊盘PAD1进行测试。其中,现有技术的做法有如下缺点:只能测量有限行数的扫描线,例如第一行扫描线和第二行扫描线上的栅极驱动信号,无法测量所有水平扫描线上的栅极驱动信号,其中,当中间级出现问题时,容易出现不良分析时的判断失误。进一步,对于设置于显示面板中的数据线以及其它信号线,也具有同样的问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种显示面板及其测试方法,以解决现有技术中无法完整地测试显示面板内的信号线(例如,扫描线、数据线等)的问题。为解决上述技术问题,本专利技术采用的一个技术方案是:提供一种显示面板的测试方法,该显示面板包括基板以及设置于基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,该测试方法包括:将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接;通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接。其中,待测线路的数量为多条,并且每一待测线路分别对应设置至少一个第二引线线路,以使得能够通过同一条第一引线线路依次对多条待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。其中,第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔;将第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者进行电性连接的步骤包括:利用辐射束照射第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者的重叠区域,进而以熔接方式电性连接第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开待测线路与第一引线线路之间的电性连接的步骤包括:利用辐射束照射第二引线线路的位于第二引线线路与待测线路的连接位置以及第二引线线路与第一引线线路的连接位置之间的中间区域,进而割断第二引线线路。其中,第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于显示面板的显示区域的外围或者第一引线线路以闭合环绕方式设置于显示面板的显示区域的外围,待测线路为数据线或扫描线,电路器件为数据线连接的数据驱动电路或者与扫描线连接的扫描驱动电路。其中,第二引线线路与第一引线线路电性连接,并与待测线路绝缘间隔设置。为解决上述技术问题,本专利技术采用的另一个技术方案是:提供一种显示面板,该显示面板包括基板以及设置于基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接,进而通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。其中,待测线路的数量为多条,并且每一待测线路分别对应设置至少一条第二引线线路,以使得能够通过同一条第一引线线路依次对多条待测线路或电路器件进行测试。其中,第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的另一者的重叠区域设置成允许利用辐射束进行熔接方式,第二引线线路与待测线路的连接位置和第二引线线路与第一引线线路的连接位置之间的中间区域允许利用辐射束进行切割。其中,第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于显示面板的显示区域的外围,或者第一引线线路以闭合环绕方式设置于显示面板的显示区域的外围,待测线路为数据线或扫描线,电路器件为数据线连接的数据驱动电路或者与扫描线连接的扫描驱动电路。其中,第二引线线路与第一引线线路电性连接,并与待测线路绝缘间隔设置。本专利技术的有益效果是:区别于现有技术,本专利技术的显示面板及测试方法通过在基板上设置第一引线线路和第二引线线路,其中第二引线线路与待测线路和第一引线线路中的一者电性连接,并与待测线路和第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得第一引线线路与待测线路进行电性连接,进而通过第一引线线路对待测线路或待测线路所连接的电路器件进行测试。通过上述方式,本专利技术能够准确地、完整地测试显示面板内的所有信号线(例如,扫描线、数据线等),为显示面板的设计验证提供真实有效数据。附图说明图1是现有技术的显示面板的结构示意图;图2是本专利技术实施例的显示面板的结构示意图;图3是图2所示显示面板中SS区域的放大示意图;图4是本专利技术实施例的显示面板的测试方法的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。图2是本专利技术实施例的显示面板的结构示意图,图3是图2所示显示面板中SS区域的放大示意图。如图2和图3所示,显示面板包括基板11、设置在基板11上的待测线路12、第一引线线路13和第二引线线路14以及连接待测线路12的电路器件15。其中,第二引线线路14与待测线路12和第一引线线路13中的一者电性连接,并与待测线路12和第一引线线路13中的另一者绝缘间隔设置,且设置成允许在测试过程中进行电性连接,以使得第一引线线路13与待测线路进行电性连接,进而通过第一引线线路13对待测线路12或待测线路12所连接的电路器件15进行测试。在本实施例中,第二引线线路14与待测线路12电性连接,并与第一引线线路13绝缘间隔设置。在本实施例中,第一引线线路13的数量为多条且以分段方式设置于显示面板的显示区域的外围。具体来说,第一引线线路13的数量为四条,分别为左右引线线段和上下引线线段。其中,左右引线线段用于测试扫描线,上下引线线段用于测试数据线。本领域的技术人员可以理解,图1所示的第一引线线路13的数量和位置,其仅为举例,本专利技术不以此为限。在其它实施例中,第一引线线路13也可以以闭合环绕方式设置于显示面板的显示区域的外围。在本实施例中,待测线路12为多条扫描线,其具体包括第一行扫描线S(1)、第二行扫描线S(2)、第三行扫描线S(3)……、第N行扫描线S(n)本文档来自技高网...
一种显示面板及其测试方法

【技术保护点】
一种显示面板的测试方法,其特征在于,所述显示面板包括基板以及设置于所述基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的一者电性连接,并与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,所述测试方法包括:将所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得所述第一引线线路与所述待测线路进行电性连接;通过所述第一引线线路对所述待测线路或所述待测线路所连接的电路器件进行测试;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开所述待测线路与所述第一引线线路之间的电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的测试方法,其特征在于,所述显示面板包括基板以及设置于所述基板上的待测线路、第一引线线路和第二引线线路,其中所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的一者电性连接,并与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者绝缘间隔设置,所述测试方法包括:将所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者进行电性连接,以使得所述第一引线线路与所述待测线路进行电性连接;通过所述第一引线线路对所述待测线路或所述待测线路所连接的电路器件进行测试;在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开所述待测线路与所述第一引线线路之间的电性连接。2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述待测线路的数量为多条,并且每一所述待测线路分别对应设置至少一个所述第二引线线路,以使得能够通过同一条所述第一引线线路依次对多条所述待测线路或所述待测线路所连接的电路器件进行测试。3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者部分重叠设置且绝缘层进行间隔;所述将所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者进行电性连接的步骤包括:利用辐射束照射所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者的重叠区域,进而以熔接方式电性连接所述第二引线线路与所述待测线路和所述第一引线线路中的另一者;所述在测试完成后,断开第二引线线路,进而断开所述待测线路与所述第一引线线路之间的电性连接的步骤包括:利用辐射束照射所述第二引线线路的位于所述第二引线线路与所述待测线路的连接位置以及所述第二引线线路与所述第一引线线路的连接位置之间的中间区域,进而割断所述第二引线线路。4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述第一引线线路的数量为多条且以分段方式设置于所述显示面板的显示区域的外围或者所述第一引线线路以闭合环绕方式设置于所述显示面板的显示区域的外围,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:文松贤
申请(专利权)人:武汉华星光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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