磁记录介质基板用玻璃、磁记录介质基板和磁记录介质制造技术

本发明专利技术涉及磁记录介质基板用玻璃、磁记录介质基板和磁记录介质。提供一种改善了耐热性和颤振特性的磁记录介质基板用玻璃。一种磁记录介质基板用玻璃，其中，以氧化物基准的摩尔％表示，所述磁记录介质基板用玻璃含有：60％～75％的SiO2、10％～15％的Al2O3、7％～12％的B2O3、0～15％的MgO、3％～15％的CaO、0～10％的SrO、0～10％的BaO、0～10％的Na2O、0～10％的K2O、0～10％的Li2O、0～3％的TiO2和0～1％的ZrO2，上述12种成分的含量的合计为97％以上，MgO、CaO、SrO和BaO的含量的合计为10％～20％，Na2O、Li2O和K2O的含量的合计为1％～10％，并且共振频率3000Hz下的横向振动内摩擦与比模量的乘积的值为1.2×10‑2MNm/kg以上。

Glass for magnetic recording medium substrate, magnetic recording medium substrate and magnetic recording medium

The invention relates to a glass for a magnetic recording medium substrate, a magnetic recording medium substrate and a magnetic recording medium. Glass substrate for magnetic recording medium for improving heat resistance and flutter characteristics. A glass substrate for a magnetic recording medium which, in mol% oxide reference said the magnetic recording medium substrate with glass containing: 60% ~ 75% SiO2 and 10% ~ 15% Al2O3 and 7% ~ 12% B2O3, 0 ~ MgO, 3% ~ 15% of the 15% CaO and 0 ~ 10% SrO from 0 to 10%, BaO, 0 ~ 10% Na2O and 0 ~ 10% K2O, 0 ~ 10% Li2O and 0 ~ 3% TiO2 and 0 ~ 1% ZrO2, the content of the 12 components of the total of more than 97%, the content of MgO, CaO, SrO and BaO of the total 10% ~ 20% the contents of Na2O, Li2O and K2O, the total is 1% ~ 10%, and the transverse vibration frequency under 3000Hz and the internal friction modulus and the value of the product is 1.2 x 10 above 2MNm/kg.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及磁记录介质基板用玻璃、磁记录介质基板和磁记录介质。
技术介绍
磁记录介质具有基板和磁记录层。近年来，作为新一代的记录方式，研究了能量辅助磁记录方式(例如参见专利文献1)。该记录方式是通过施加能量而使磁记录层的矫顽力降低、并在该状态下施加外部磁场而进行记录的方式，可以在保持热稳定性的同时将磁性粒子微细化。现有技术文献专利文献专利文献1：国际公开第2013/140469号
技术实现思路
专利技术所要解决的问题在磁记录层的成膜工艺中，有时将基板加热至高温，从而要求耐热性高的玻璃基板。另外，要求玻璃基板的薄板化、高速旋转化，从而要求玻璃基板的颤振(フラッタリング)特性的改善。本专利技术鉴于上述问题而完成，主要的目的在于提供一种改善了耐热性和颤振特性的磁记录介质基板用玻璃。解决问题的手段为了解决上述问题，根据本专利技术的一个方式，提供一种磁记录介质基板用玻璃，其中，以氧化物基准的摩尔％表示，所述磁记录介质基板用玻璃含有：60％～75％的SiO2、10％～15％的Al2O3、7％～12％的B2O3、0～15％的MgO、3％～15％的CaO、0～10％的SrO、0～10％的BaO、0～10％的Na2O、0～10％的K2O、0～10％的Li2O、0～3％的TiO2和0～1％的ZrO2，上述12种成分的含量的合计为97％以上，MgO、CaO、SrO和BaO的含量的合计为10％～20％，Na2O、Li2O和K2O的含量的合计为1％～10％，并且共振频率3000Hz下的横向振动内摩擦与比模量的乘积的值为1.2×10-2MNm/kg以上。专利技术效果根据本专利技术的一个方式，提供一种改善了耐热性和颤振特性的磁记录介质基板用玻璃。附图说明图1为表示一个实施方式的磁记录介质的立体图。图2为表示一个实施方式的磁记录介质的侧视图。附图标记10 磁记录介质11 基板12 散热层13 种子层14 磁记录层15 保护层具体实施方式以下，参照附图对用于实施本专利技术的方式进行说明。在各附图中，对相同的或对应的构成标上相同的或对应的符号而省略说明。本说明书中，表示数值范围的“～”是指包含其前后的数值的范围。图1是表示一个实施方式的磁记录介质的立体图。图2是表示一个实施方式的磁记录介质的侧视图。磁记录介质10是热辅助磁记录方式的记录介质。热辅助磁记录方式是通过施加热而使磁记录层14的矫顽力降低、并在该状态下施加外部磁场而进行记录的方式，可以在保持热稳定性的同时将磁性粒子微细化。磁记录介质10除了可以在大气气氛下使用以外，还可以在惰性气氛下使用。作为惰性气氛，除了氮气气氛、氩气气氛以外，还有特别是原子量小的氦气气氛可以减小伴随旋转的气流的影响，因此优选。记录时和再现时的至少一者的磁记录介质10的转速可以为7200～20000rpm。磁记录介质10具有基板11、散热层12、种子层13、磁记录层14和保护层15。需要说明的是，磁记录介质不限于图1的构成。磁记录介质具有基板11和磁记录层14即可，可以不具有例如散热层12、种子层13和保护层15。另外，磁记录介质在基板11与磁记录层14之间还可以具有粘附层、软磁性衬垫层、中间层等。另外，磁记录介质可以在基板11的两侧具有磁记录层14。基板11为玻璃基板，由基板用玻璃形成。通常，作为基板11的颤振特性的指标d，使用基板用玻璃的比模量E/ρ与基板用玻璃的横向振动内摩擦ξ(以下，简称为“内摩擦ξ”)的乘积(d＝E/ρ×ξ)。为了抑制颤振，希望指标d大的玻璃。在此，比模量E/ρ为杨氏模量E与密度ρ之比E/ρ。温度恒定时，杨氏模量E、密度ρ(进而比模量E/ρ)根据基板用玻璃的组成而明确地确定，内摩擦ξ根据基板11的振动状态(振动频率)而变化。本专利技术人考查基板11的颤振特性，发现：基板11的转速为7200～20000rpm时，特别是转速为10000rpm以上时，在频率2700～3300Hz的频带存在的高阶的振动模式显著影响颤振特性。因此发现：为了抑制颤振，重要的是共振频率为2700～3300Hz时的内摩擦ξ大。在此，共振频率依赖于基板11的材质、形状、尺寸和转速。此外还发现：由于在2700～3300Hz的范围内，内摩擦ξ缓慢发生变化，因此可以将其中心值的3000Hz的内摩擦ξ3作为指标。另外，还发现：为了进一步抑制颤振，需要使对存在于共振频率为1200～1800Hz的频带的振动的衰减大。此时也发现：由于在1200～1800Hz的范围内，内摩擦ξ缓慢发生变化，因此可以将其中心值的1500Hz的内摩擦ξ1作为指标。即发现：重要的是共振频率1500Hz时的内摩擦ξ1大。此外，本专利技术人也考虑耐热性、耐化学品性等，发现：设定为下述所示的组成适宜作为磁记录介质用玻璃基板。基板用玻璃以氧化物基准的摩尔％表示，含有：60％～75％的SiO2、10％～15％的Al2O3、7％～12％的B2O3、0～15％的MgO、3％～15％的CaO、0～10％的SrO、0～10％的BaO、0～10％的Na2O、0～10％的K2O、0～10％的Li2O、0～3％的TiO2和0～1％的ZrO2。该基板用玻璃的上述12种成分的含量的合计为97％以上(优选98％以上，更优选99％以上)，MgO、CaO、SrO和BaO的含量的合计为10％～20％，Na2O、Li2O和K2O的含量的合计为1％～10％。基板用玻璃优选以氧化物基准的摩尔％表示含有：60％～68％的SiO2、10％～11％的Al2O3、7％～12％的B2O3、0.1％～15％的MgO、4.5％～10％的CaO、0.1％～10％的SrO、0～10％的BaO、0～10％的Na2O、0～10％的K2O、0～10％的Li2O、0～3％的TiO2和0～1％的ZrO2。该基板用玻璃的上述12种成分的含量的合计为97％以上(优选98％以上，更优选99％以上)，MgO、CaO、SrO和BaO的含量的合计为10％～20％，Na2O、Li2O和K2O的含量的合计为1％～10％。接下来，对基板用玻璃的各成分进行说明。各成分的说明中，％指摩尔％。SiO2是形成玻璃的骨架的必需成分。SiO2的含量低于60％时，耐酸性容易显著降低，玻璃化转变温度Tg容易降低，并且容易产生损伤。另外，此时，液相线温度上升，并且温度T2(粘度达到102dPa·s时的温度)和温度T4(粘度达到104dPa·s时的温度)容易降低，并容易发生失透。因此，SiO2的含量为60％以上，优选为61％以上，更优选为63％以上，特别优选为65％以上。另一方面，SiO2的含量超过75％时，温度T2和温度T4容易上升，玻璃的熔化容易变困难，澄清时的脱泡性降低而容易产生缺陷。另外，此时，比模量E/ρ容易降低。此外，此时，玻璃的50～350℃下的平均线膨胀系数α(以下，也简称为“平均线膨胀系数α”)容易变小。因此，SiO2的含量为75％以下，优选为73％以下，更优选为71％以下，特别优选为68％以下。Al2O3是提高杨氏模量、耐碱性的必需成分。Al2O3的含量低于10％时，杨氏模量E容易降低，另外，玻璃化转变温度Tg容易降低。因此，Al2O3的含量为10％以上，优选为10.2％以上，更优选为10.3％以上。另一方面，Al2O3的含量超过15％时，密度ρ本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁记录介质基板用玻璃，其中，以氧化物基准的摩尔％表示，所述磁记录介质基板用玻璃含有：60％～75％的SiO2、10％～15％的Al2O3、7％～12％的B2O3、0～15％的MgO、3％～15％的CaO、0～10％的SrO、0～10％的BaO、0～10％的Na2O、0～10％的K2O、0～10％的Li2O、0～3％的TiO2和0～1％的ZrO2，上述12种成分的含量的合计为97％以上，MgO、CaO、SrO和BaO的含量的合计为10％～20％，Na2O、Li2O和K2O的含量的合计为1％～10％，并且共振频率3000Hz下的横向振动内摩擦与比模量的乘积的值为1.2×10‑2MNm/kg以上。

【技术特征摘要】
2015.05.25 JP 2015-1058331.一种磁记录介质基板用玻璃，其中，以氧化物基准的摩尔％表示，所述磁记录介质基板用玻璃含有：60％～75％的SiO2、10％～15％的Al2O3、7％～12％的B2O3、0～15％的MgO、3％～15％的CaO、0～10％的SrO、0～10％的BaO、0～10％的Na2O、0～10％的K2O、0～10％的Li2O、0～3％的TiO2和0～1％的ZrO2，上述12种成分的含量的合计为97％以上，MgO、CaO、SrO和BaO的含量的合计为10％～20％，Na2O、Li2O和K2O的含量的合计为1％～10％，并且共振频率3000Hz下的横向振动内摩擦与比模量的乘积的值为1.2×10-2MNm/kg以上。2.如权利要求1所述的磁记录介质基板用玻璃，其中，以氧化物基准的摩尔％表示，所述磁记录介质基板用玻璃含有：60％～68％的SiO2、10％～13％的Al2O3、7％～12％的B2O3、0.1％～15％的MgO、4.5％～10％的CaO、0.1％～10％的SrO、0～10％的BaO、0～10％的Na2O、0～10％的K2O、0～10％的Li2O、0～3％的TiO2和0～1％的ZrO2。3.如权利要求1或2所述的磁记录介质基板用玻璃，其中，共振频率1500Hz下的...

【专利技术属性】
技术研发人员：秋山顺，中岛哲也，
申请(专利权)人：旭硝子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP