【技术实现步骤摘要】
本专利技术有关于一种真空吸平装置,以及含有该真空吸平装置的料片检测设备和料片移载设备。
技术介绍
自动光学检查(Automated Optical Inspection,AOI)泛指运用机器视觉做为检测标准的技术,比起公知的人眼检测具有高速高精密度的优点。应用层面可涵盖至高科技产业的研发、制造品管,以至国防、民生、医疗、环保、电力或其它的相关领域。在自动光学检测领域中,欲对料片进行检测,常见的方式是藉由将料片装设于载台上,藉由抽真空的手段对该载台提供负压,藉由载台上的气孔将料片吸附于载台上。然而,部分特殊材质的料片经由气孔吸持后,于料片的边缘常会产生翘曲的问题,导致影像侦测时所拍摄的料片影像常有失真的情形。因此,为解决上述问题,中国台湾第M449343号专利揭示一种用于平整料片的真空吸平装置,该真空吸平装置主要具有气室、载台及遮蔽治具。所述的气室包含气体导流面及真空吸引单元,所述的载台具有多数第一吸孔。其中载台设置于气室上而相邻于气体导流面,且第一吸孔连通于气体导流面。所述的遮蔽治具具有承载区。其中遮蔽治具设置于载台上,承载区对应料片的面积设置,而用以承载料片。遮蔽治具遮蔽一部分的第一吸孔,承载区具有多数第二吸孔,第二吸孔对应于另一部分的第一吸孔而连通于气体导流面,真空吸引单元对气体导流面抽气,而吸持承载区上的料片。藉由上述配置,可增进真空吸附设备整平料片的效果,解决公知容易发生料片边缘翘曲的问题。但,上述真空吸平装置虽可有效的解决料片边缘翘曲的问题,然而,所述的遮蔽治具常需要针对不同尺寸的料片个别进行客制化的设计,于实务上操作时常有不便之处。专利技术内 ...
【技术保护点】
一种真空吸平装置,用以吸附并整平料片,其特征在于,该真空吸平装置包含:一吸附载台,具有一真空吸附平面,以及多数个设置于该真空吸附平面上的吸孔;一真空气室,设置于该吸附载台相对该真空吸附平面的另一侧,该真空气室具有一相邻于该吸附载台的吸孔一侧的气体导流面,以及一或多数个对该气体导流面提供负压的真空吸引单元;以及一可调整治具,具有设置于该真空吸附平面或设置于该气体导流面一侧的第一遮板及第二遮板,该第一遮板藉由第一调整机构调整并沿第一方向移动,该第二遮板藉由第二调整机构调整并沿第二方向移动,遮蔽该真空吸附平面上的部分吸孔,以界定一料片吸附区域。
【技术特征摘要】
2015.01.05 TW 1041000481.一种真空吸平装置,用以吸附并整平料片,其特征在于,该真空吸平装置包含:一吸附载台,具有一真空吸附平面,以及多数个设置于该真空吸附平面上的吸孔;一真空气室,设置于该吸附载台相对该真空吸附平面的另一侧,该真空气室具有一相邻于该吸附载台的吸孔一侧的气体导流面,以及一或多数个对该气体导流面提供负压的真空吸引单元;以及一可调整治具,具有设置于该真空吸附平面或设置于该气体导流面一侧的第一遮板及第二遮板,该第一遮板藉由第一调整机构调整并沿第一方向移动,该第二遮板藉由第二调整机构调整并沿第二方向移动,遮蔽该真空吸附平面上的部分吸孔,以界定一料片吸附区域。2.如权利要求1所述的真空吸平装置,其特征在于,该第一遮板及该第二遮板分别相对地设置于该吸附载台的该真空吸附平面及该气体导流面的一侧。3.如权利要求1所述的真空吸平装置,其特征在于,该第一调整机构具有一或多数个固定该第一遮板的定位机构,一设置于该定位机构一侧以限制该定位机构沿一路径移动的轨道部,以及一设置于该轨道部一侧以带动该定位机构沿该路径移动的驱动装置。4.如权利要求3所述的真空吸平装置,其特征在于,该轨道部成对设置于该第一遮板的两侧,该定位机构具有分设于二轨道上的定位块,以及一设置于成对的该定位块间并锁固该第一遮板的固定板。5.如权利要求1所述的真空吸平装置,其特征在于,该第二调整机构具有一或多数个固定该第二遮板的定位机构,一设置于该定位机构一侧以限制该定位机构沿一路径移动的轨道部,以及一设置于该轨道部一侧以带动该定位机构沿该路径移动的驱动装置。6.如权利要求5所述的真空吸平装置,其特征在于,该轨道部成对设置于该第二遮板的两侧,该定位机构具有设于二轨道上的定位...
【专利技术属性】
技术研发人员:邹嘉骏,蔡鸿儒,王人杰,徐志宏,
申请(专利权)人:由田新技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾;71
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