【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学领域,具体涉及一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置。
技术介绍
光学材料的研制在光学领域属于基础研究,好的光学材料往往能够大大提升整个光学系统的性能。现有技术中,在生产光学材料时,需要对光学材料的折射率、均匀度等进行测量。但是现有的测量设备不能满足全部需要。
技术实现思路
技术目的:本技术旨在克服现有技术的缺陷,提供一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置。技术方案:一种基于CCD探测器的折射率测量装置,包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品;所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器,所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光,所述第一、二、三激光器发出的光平行,所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器;当滑块在第一位置时,第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第一光斑,第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第二光斑,第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第三光斑;当滑块在第二位置时,第一激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第四光斑,第二激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第五光斑,第三激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第六光斑。进一步地,所述测量装置还包括竖板,所述水平导轨固定在所述竖板上,所述竖板上还设有排成一条水平直线的4个固定块,所述标准样品放置在第一CCD探测器一侧的两个的固定块上,所述被测样品放置在第二CCD探测器一侧的两个固定 ...
【技术保护点】
一种基于CCD探测器的折射率测量装置,其特征在于,包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品;所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器,所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光,所述第一、二、三激光器发出的光平行,所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器;当滑块在第一位置时,第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第一光斑,第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第二光斑,第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第三光斑;当滑块在第二位置时,第一激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第四光斑,第二激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第五光斑,第三激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第六光斑。
【技术特征摘要】
1.一种基于CCD探测器的折射率测量装置,其特征在于,包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品;所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器,所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光,所述第一、二、三激光器发出的光平行,所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器;当滑块在第一位置时,第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第一光斑,第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第二光斑,第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第三光斑;当滑块在第二位置时,第一激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第四光斑,第二激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第五光斑,第三激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第六光斑。...
【专利技术属性】
技术研发人员:张启龙,
申请(专利权)人:扬州维姆科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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