一种光学折射法与位移测定法相互验证的大质量测量装置制造方法及图纸

本申请公开了一种光学折射法与位移测定法相互验证的大质量测量装置，包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元，其中，控制系统能够将通过光学传感器获得的主梁第一位移数据以及通过激光位移传感器获得的主梁第二位移数据相互验证，以准确地测定主梁的实际位移。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及一种用于测量砝码质量的测量装置。
技术介绍
现有技术中已知的砝码测量装置、尤其是用于测量重型砝码的质量比较仪所采用的称重传感器利用惠斯通电桥和杠杆并且通过质量比较法来实现砝码质量的测量。由于惠斯通电桥中的电阻阻值随温度而改变，并且通过杠杆进行放大需要获得准确的杠杆比，因此导致在测量重型砝码质量的过程中，现有技术中的质量比较仪不能得到高准确度的测量结果。基于上述原因，在现有技术中无法实现对于重量达到500千克的砝码的重复性为0.05克的测量、对于重量达到1000千克的砝码的重复性为0.5克的测量、以及对于重量达到2000千克的砝码的重复性为1克的测量。
技术实现思路
本申请的目的是解决现有技术中的质量比较仪或机械式天平不能得到高准确度的测量结果的问题。本申请公开了一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走；以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架，主梁，所述主梁被支撑在机架上，配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端，称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端，砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走，以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元，其中，控制系统能够将通过光学传感器获得的主梁第一位移数据以及通过激光位移传感器获得的主梁第二位移数据相互验证，以准确地测定主梁的实际位移。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量砝码质量的测量装置，所述测量装置包括：机架，主梁，所述主梁被支撑在机架上，配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端，称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端，砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝码运送和加载到称量系统中以及从称量系统中卸载和运走，以及控制系统，所述控制系统包括安装在机架中的光学传感器，安装在主梁上的激光位移传感器，显示器，以及与光学传感器、激光位移传感器和显示器电连接的控制单元，其中，控制系统能够将通过光学传感器获得的主梁第一位移数据以及通过激光位移传感器获得的主梁第二位移数据相互验证，以准确地测定主梁的实际位移。2.根据在前权利要求中任一项所述的测量装置，其中，主梁还包括沿垂直于主梁长度的方向延伸的连杆，连杆的一端固定到主梁底部，另一端伸入到机架中并且接附有标尺，连杆固定到主梁底部，以使得连杆能够随主梁一起摆动。3.根据在前权利要求中任一项所述的测量装置，其中，标尺包括刻度区域，刻度区域包括相对于标尺的中轴线对称布置的多格刻度。4.根据在前权利要求中任一项所述的测量装置，其中，光学传感器在机架中布置成使得光学传感器的镜头正对标尺，以读取由主梁的摆动造成的刻度变化以获得主梁第一位移数据，并且将主梁第一位移数据传送到显示器以进行实时显示。5.根据在前权利要求中任一项所述的测量装置，其中，激光位移传感器能够发射激光，主梁在距主梁中轴线等距处布置有用于反射激光的两个反光板，激...

【专利技术属性】
技术研发人员：王健，蔡常青，任孝平，李涛，胡满红，王肖磊，吉鸿磊，王翔，陈平，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11