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本申请公开了一种光学折射法与位移测定法相互验证的大质量测量装置，包括：机架；主梁，所述主梁被支撑在机架上；配衡系统，所述配衡系统加载于主梁的一端；称量系统，所述称量系统加载于主梁的另一端；砝码传送系统，所述砝码传送系统能够将标准砝码或待测砝...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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