下载一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置的技术资料

文档序号:14108010

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开了一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置,包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品;所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器,所述第一、二、三激光器发...
该专利属于扬州维姆科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过扬州维姆科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。