一种基于标准样品的折射率测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于标准样品的折射率测量装置，包括第一激光器、第二激光器、平板玻璃、平面反射镜、标准样品、被测样品、第一CCD探测器和第二CCD探测器；第一激光器和第二激光器发出不同波长的单色光，且发出的光线互相平行；第一、二激光器发出的光的一部分透过所述平板玻璃后再透过所述标准样品在第一CCD探测器上形成第一光斑和第二光斑，另一部分被平板玻璃反射后再被平面反射镜反射，之后透过平板玻璃再透过所述被测样品后在第二CCD探测器上形成第三光斑和第四光斑；控制器根据光斑之间的距离判断被测样品是否合格。本发明专利技术的测量装置测量准确，且使用方便。

A refractive index measuring device based on standard sample

The invention discloses a refraction rate measuring device based on the standard sample, including the first second laser, laser, flat glass, flat mirror, standard samples, test samples, the first second CCD detector and CCD detector; the first laser and second lasers emit different wavelengths of monochromatic light, and the light parallel to each other; first, second the laser light emitted from the part through the flat glass and then through the standard sample in the first CCD detector to form the first spot and second spot, the other part is flat glass after the reflection by the plane reflector, then through the flat glass through the sample after the formation of third spot and fourth spot in the second CCD detector; controller according to spot distance between the tested sample is qualified. The measuring device of the invention has the advantages of accurate measurement and convenient use.

【技术实现步骤摘要】
一种基于标准样品的折射率测量装置
本专利技术涉及光学领域，具体涉及一种基于标准样品的折射率测量装置。
技术介绍
光学材料在光学领域至关重要，好的光学材料能够提供特殊的光学特性。光学材料在支撑透镜等部件要保证折射率、均匀度等特性，因此光学材料在制作时需要进行检测步骤。
技术实现思路
专利技术目的：本专利技术旨在克服现有技术的缺陷，提供一种基于标准样品的折射率测量装置。技术方案：一种基于标准样品的折射率测量装置，包括第一激光器、第二激光器、平板玻璃、平面反射镜、标准样品、被测样品、第一CCD探测器和第二CCD探测器；所述第一激光器和第二激光器发出不同波长的单色光，且发出的光线互相平行；所述标准样品和被测样品为形状尺寸相同的长方体形；第一、二激光器发出的光的一部分透过所述平板玻璃后再透过所述标准样品在第一CCD探测器上形成第一光斑和第二光斑，另一部分被所述平板玻璃反射后再被平面反射镜反射，之后透过平板玻璃再透过所述被测样品后在第二CCD探测器上形成第三光斑和第四光斑；所述平面反射镜和平板玻璃平行，所述第一、二激光器发出的光线和平板玻璃呈45度角；测量装置还包括控制器，当第一光斑和第二光斑之间的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于标准样品的折射率测量装置，其特征在于，包括第一激光器、第二激光器、平板玻璃、平面反射镜、标准样品、被测样品、第一CCD探测器和第二CCD探测器；所述第一激光器和第二激光器发出不同波长的单色光，且发出的光线互相平行；所述标准样品和被测样品为形状尺寸相同的长方体形；第一、二激光器发出的光的一部分透过所述平板玻璃后再透过所述标准样品在第一CCD探测器上形成第一光斑和第二光斑，另一部分被所述平板玻璃反射后再被平面反射镜反射，之后透过平板玻璃再透过所述被测样品后在第二CCD探测器上形成第三光斑和第四光斑；所述平面反射镜和平板玻璃平行，所述第一、二激光器发出的光线和平板玻璃呈45度角；测量装置还包...

【技术特征摘要】
1.一种基于标准样品的折射率测量装置，其特征在于，包括第一激光器、第二激光器、平板玻璃、平面反射镜、标准样品、被测样品、第一CCD探测器和第二CCD探测器；所述第一激光器和第二激光器发出不同波长的单色光，且发出的光线互相平行；所述标准样品和被测样品为形状尺寸相同的长方体形；第一、二激光器发出的光的一部分透过所述平板玻璃后再透过所述标准样品在第一CCD探测器上形成第一光斑和第二光斑，另一部分被所述平板玻璃反射后再被平面反射镜反射，之后透过平板玻璃再透过所述被测样品后在第二CCD探测器上形成第三光斑和第四光斑；所述平面反射镜和平板玻璃平行，所述第一、二激光器发出的光线和平板玻璃呈45度角；测量装置还包括控制器，当第一光斑和第...

【专利技术属性】
技术研发人员：张启龙，
申请(专利权)人：扬州维姆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32