一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置，包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品；所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器；当滑块在第一位置时，第一CCD探测器上形成三个光斑；当滑块在第二位置时，第二CCD探测器上形成三个光斑。本发明专利技术的装置使用方便，测量准确。

An optical material refractive index measuring device based on CCD detector

The invention discloses an optical material refractive detector rate measuring device based on CCD, including the horizontal guide rail and set the standard sample level slider, abutment, cuboid in horizontal rails and the same with the standard sample of the shape and size of the sample; a first laser, second lasers and third laser set the the slider, the first, second, third laser 22 different monochromatic light, the laser light emitted from the first, second, third parallel to the base station is provided with a first CCD detector and CCD detector second; when the slider is in the first position, the first three spots are formed on the CCD detector; when the slider is in the second position, the formation of three a second spot on the CCD detector. The device is easy to use and accurate in measurement.

【技术实现步骤摘要】
一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置
本专利技术涉及光学领域，具体涉及一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置。
技术介绍
光学材料的研制在光学领域属于基础研究，好的光学材料往往能够大大提升整个光学系统的性能。现有技术中，在生产光学材料时，需要对光学材料的折射率、均匀度等进行测量。但是现有的测量设备不能满足全部需要。
技术实现思路
专利技术目的：本专利技术旨在克服现有技术的缺陷，提供一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置。技术方案：一种基于CCD探测器的折射率测量装置，包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品；所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器；当滑块在第一位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第一光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第二光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第三光斑本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于CCD探测器的折射率测量装置，其特征在于，包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品；所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器；当滑块在第一位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第一光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第二光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第三光斑；当滑块在第二位置时，第一激光器的光线透...

【技术特征摘要】
1.一种基于CCD探测器的折射率测量装置，其特征在于，包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品；所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器；当滑块在第一位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第一光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第二光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一CCD探测器上形成第三光斑；当滑块在第二位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第四光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第五光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第二CCD探测器上形成第六光斑。...

【专利技术属性】
技术研发人员：张启龙，
申请(专利权)人：扬州维姆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32