【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于检测测量变量的辐射度检测器。包括用于测量辐射的闪烁检测器的辐射度测量系统被用在过程计量学中,以用于测量测量变量或过程变量,诸如例如填充等级、湿度、密度、质量流等。以示例的方式,闪烁检测器用于确定电离辐射的能量和/或强度,其中电离辐射的能量和/或强度取决于测量变量。除了测量变量的测量的准确度以外,测量的高可用性在过程计量学中是重要的。测量的缺失可能导致操作者的明显成本;特别地,在安全关键的装置中,对物体和人的损害可能是结果。本专利技术基于如下的目的:提供一种用于检测测量变量的辐射度检测器,所述检测器特别是故障自动保险的而同时具有简单的设计。本专利技术通过提供具有权利要求1的特征的辐射度检测器来实现该目的。根据本专利技术的用于检测测量变量的辐射度检测器具有闪烁器,其用于以取决于电离辐射的入射的方式生成光脉冲,其中辐射入射取决于测量变量。详细地,辐射度检测器的闪烁器在电离辐射通过时被激发,并且其以光脉冲的形式再发射激发能量。特别地,闪烁器可以是闪烁晶体。此外,辐射度检测器具有多个光电传感器,其中光电传感器在每种情况下被体现为将由闪烁器生成的光脉冲转换成关联的电传感器信号。因此,生成了多个传感器信号。来自光电传感器的传感器信号在时间上相关,这是因为在闪烁器中生成的闪烁光分布在所有(或至少多数)的光电传感器之上。多个光电传感器光学地耦合到闪烁器;特别地,光电传感器可以附接到闪烁器。光电传感器可以均具有专用的读出电子装置,其中电传感器信号在每种情况下在读出电子装置之一中被形成并放大。特别地,光电传感器可以是光电倍增管(电子管)、光电二极管或硅光电倍 ...
【技术保护点】
一种用于检测测量变量的辐射度检测器(1),包括:‑用于生成光脉冲的闪烁器(2),‑多个光电传感器(3a、3b、3c),其中相应的光电传感器(3a、3b、3c)被体现为将由闪烁器(2)生成的光脉冲转换成关联的传感器信号(Sa、Sb、Sc),以及‑评价单元(4),包括‑评估部件(5),其中评估部件(5)被体现为将相应的传感器信号(Sa、Sb、Sc)评估为无错的(Sa、Sb)或错误的传感器信号(Sc),以及‑求和部件(6),其中求和部件(6)被体现为出于获得用于测量变量的测量变量信号(MG)的目的而形成无错的传感器信号(Sa、Sb)的求和传感器信号(Sum)。
【技术特征摘要】
2015.03.05 EP 15157852.31.一种用于检测测量变量的辐射度检测器(1),包括:-用于生成光脉冲的闪烁器(2),-多个光电传感器(3a、3b、3c),其中相应的光电传感器(3a、3b、3c)被体现为将由闪烁器(2)生成的光脉冲转换成关联的传感器信号(Sa、Sb、Sc),以及-评价单元(4),包括-评估部件(5),其中评估部件(5)被体现为将相应的传感器信号(Sa、Sb、Sc)评估为无错的(Sa、Sb)或错误的传感器信号(Sc),以及-求和部件(6),其中求和部件(6)被体现为出于获得用于测量变量的测量变量信号(MG)的目的而形成无错的传感器信号(Sa、Sb)的求和传感器信号(Sum)。2.根据权利要求1所述的辐射度检测器(1),其中闪烁器(2)、多个光电传感器(3a、3b、3c)和评价单元(4)设置在共同的外壳(7)中。3.根据权利要求1或2所述的辐射度检测器(1),其中评估部件(5)包括表决逻辑(8),其中表决逻辑(8)被体现为将相应的传感器信号(Sa、Sb、Sc)评估为无错的(Sa、Sb)或错误的传感器信号(Sc)。4.根据权利要求3所述的辐射度检测器(1),其中多个光电传感器(3a、3b、3c)包括至少三个光电传感器(3a、3b、3c),并且表决逻辑(8)被体现为将多个传感器信号(Sa、Sb、Sc)彼此进行比较并取决于比较结果将相应的传感器信号(Sa、Sb、Sc)评估为无错的(Sa、Sb)或错误的传感器信号(Sc)。5.根据权利要求1至4之一所述的辐射度检测器(1),其中求和部件(6)包括:-开关元件(9),其中开关元件(9)具有与评估部件(5)的信号连接,并且开关元件(9)被体现为转发相应的无错传感器信号(Sa、Sb)并且不转发相应的错误传感器信号(Sc),以及-求和元件(10),其中求和元件(10)被体现为从由开关元件(9)转发的无错传感器信号(Sa、Sb)形成求和传感器信号(Sum)。6.根据权利要求1至5之一所述的辐射度检测器(1),其中评价单元(4)
\t包括:-比较器(11),其中比较器(11)被体现为将求和传感器信号(Sum)或者通过求和传感器信号的进一步处理所形成的信号与...
【专利技术属性】
技术研发人员:D·莫曼,E·弗雷伯格,S·米勒,T·戴本蔡赫尔,
申请(专利权)人:伯托科技有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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