本实用新型专利技术公开了一种物料的检测装置及色选机。物料的检测装置包括偏振光发生器，所述偏振光发生器用于产生偏振光并照射至所述物料；采集模块，所述采集模块用于采集所述物料的反射光并根据所述反射光形成所述物料的图像；及与所述采集模块连接的处理模块，所述处理模块用于根据所述图像识别所述物料。上述的物料的检测装置中，利用偏振光对物料进行识别，若物料为具有镜面表面的物料，其反射光仍为偏振光。若物料为具有漫反射表面的物料，其反射光为非偏振光。由此，根据偏振光和非偏振光所形成的图像可识别出相应的物料，进而提高了物料的识别率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及物料分选设备领域，尤其涉及一种物料的检测装置及一种色选机。
技术介绍
目前的物料分选设备在分选物料表面具有镜面反射特征的物料和物料表面具有漫反射特征的物料的时候，难以区分物料表面具有镜面反射特征的物料和物料表面具有漫反射特征的物料，因此，目前的物料分选设备对于以上两种物料的识别率较低。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提供一种物料的检测装置及一种色选机。
本专利技术实施方式的物料的检测装置包括偏振光发生器、采集模块及处理模块。
所述偏振光发生器用于产生偏振光并照射至所述物料；所述采集模块用于采集所述物料的反射光并根据所述反射光形成所述物料的图像；所述处理模块连接所述采集模块并用于根据所述图像识别所述物料。
在某些实施方式中，所述偏振光发生器包括光源及设置于所述光源的出光方向上的线起偏器。
在某些实施方式中，所述采集模块包括分光单元、第一检偏器、第一传感器、第二检偏器及第二传感器。
所述分光单元设置在所述反射光的光路上并用于对所述反射光进行分光以分别形成第一图像光及第二图像光。
所述第一检偏器及所述第一传感器沿所述第一图像光的光路依次设置，所述第一传感器用于采集经所述第一检偏器出射的所述第一图像光以形成第一子图像。
所述第二检偏器及所述第二传感器沿所述第二图像光的光路依次设置，所述第二传感器用于采集经所述第二检偏器出射的所述第二图像光以形成第二子图像。
所述第一检偏器及所述第二检偏器中的其中一个检偏器的偏振化方向与所述偏振光的偏振方向相同，另一个检偏器的偏振化方向与所述偏振光的偏振方向垂直。
所述处理模块连接所述第一传感器及所述第二传感器并用于处理所述第一子图像及所述第二子图像以形成所述图像。
在某些实施方式中，所述检测装置包括与所述处理模块连接的剔除模块，所述处理模块用于判断识别出的所述物料与预设物料是否匹配并在识别出的所述物料与所述预设物料匹配时控制所述剔除模块剔除所述物料。
在某些实施方式中，所述物料为球状物料，所述偏振光发生器的数目为多个，多个所述偏振光发生器环绕所述球形物料排布。
在某些实施方式中，所述偏振光发生器的出光方向与所述反射光的方向之间的最大夹角大于或等于40度。
在某些实施方式中，所述物料为片状物料，所述片状物料包括反射面，所述偏振光发生器的数目为多个，一个所述偏振光发生器的出光方向与所述采集模块采集所述反射光的方向沿所述反射面的法线对称设置，相邻两个所述偏振光发生器的出光方向之间的夹角为5~10度。
本专利技术实施方式的色选机包括上述的物料的检测装置。
本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是本专利技术实施方式1的物料的检测方法的流程示意图。
图2是本专利技术实施方式1的物料的检测方法的另一流程示意图。
图3是本专利技术实施方式1的物料的检测装置的模块示意图。
图4是本专利技术实施方式1的色选机的结构示意图。
图5是本专利技术实施方式2的色选机的结构示意图。
图6是本专利技术实施方式3的色选机的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本专利技术的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
为了方便说明，下文将物料具有镜面表面的物料可称为镜面物料，将物料具有漫反射表面的物料可称为漫反射物料，但不能理解为对本专利技术的限制。
实施方式1：
请参阅图1，本专利技术实施方式的物料的检测方法包括以下步骤：
步骤S1，产生偏振光并照射至物料；
步骤S2，采集物料的反射光并根据反射光形成物料的图像；及
步骤S3，根据物料的图像识别物料。
上述的物料的检测方法中，利用偏振光对物料进行识别，若物料为具有镜面表面的物料，其反射光仍为偏振光。若物料为具有漫反射表面的物料，其反射光为非偏振光。由此，根据偏振光和非偏振光所形成的图像可识别出相应的物料，进而提高了物料的识别率。
具体地，在步骤S2中，采集物料的反射光后，将反射光的光信号转换为电信号，然后根据电信号形成物料的图像。
若反射光为偏振光，则采集到的电信号的强度较强；若反射光为非偏振光，则采集到的电信号较弱，而根据电信号的强弱所形成的图像存在差异，由此可识别出相应的物料。
本实施方式中，偏振光为线偏振光。
线偏振光易于形成且易于检测，因此，线偏振光能够进一步提高物料的识别率及降低成本。
请参阅图2，在本实施方式中，步骤S2包括：
步骤S21，对反射光进行分光以分别形成第一图像光及第二图像光；
步骤S22，采集第一图像光以形成第一子图像，及采集第二图像光以形成第二子图像；及
步骤S23，处理第一子图像及第二子图像以形成图像。
如此，通过两源信道将根据线偏振光及非线偏振光形成的图像区分，能够明显增强根据偏振光及非偏振光形成的图像之间的差异，可提高物料的识别率。
具体地，在步骤S21中，可对反射光进行反射及折射以对反射光进行分光，从而分别得到第一图像光及第二图像光。
若反射光为偏振光，反射光分光后分别得到的第一图像光及第二图像光仍为偏振光。若反射光为非偏振光，反射光分光后分别得到的第一图像光及第二图像光仍为非偏振光。
在步骤S22中，采集第一图像光及第二图像光后，可使用检偏器对第一图像光及第二图像光进行处理。
例如，可使在第一图像光的光路上的检偏器的偏振化方向与线偏振光的偏振方向平行，而在第二图像光的光路上的检偏器的偏振化方向与线偏振光的偏振方向垂直。
也就是说，若物料的反射光为线偏振光，则只能在第一图像光的光路上采集根据反射光形成的物料的图像。若物料的反射光为非线偏振光，则在第一图像光的光路上及第二图像光的光路上均能采集根据反射光形成物料的图像。如此，可分别获取根据线偏振光及非线偏振光形成的物料的图像以进行识别。
假设第一图像和第二图像为黑白传感器采集的信号，所述第一图像的检偏器偏振方向为与所述偏振光偏振方向相同，第二图像的检偏器偏振方向与所述偏振光偏振方向垂直。第一图像定义为R值，第二图像定义为G值，所形成的图像为R、G的假彩色图像。
若反射光为偏振光，则采集到的R值强度比G值强；若反射光为非偏振光，则采集到的R值强度与G值相当，根据R、G值的强弱可识别出相应的物料。
在步骤S23中，可通过图像融合技术处理将第一子图像及第二子图像融合，从而形成高质量的物料的图像，获得高分辨率的物料图像，能够明显增强根据线偏振光及非线偏振光形成的图像的差异，进而提高了物料的识别率。
请参阅图1，本实施方式中，物料的检测方法还包括以下步骤：
步骤S4，判断识别出的物料与预设物料是否匹配；若是，进入步骤S5，若否，进入步骤S6；
步骤S5，剔除物料；
步骤S6，保留物料。
如此，可根据需求将物料中的异样物料剔除，从而得到需要保留的物料。
例如，预设物料可为镜面物料，在识别出的物料为镜面物本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种物料的检测装置，其特征在于，包括：偏振光发生器，所述偏振光发生器用于产生偏振光并照射至所述物料；采集模块，所述采集模块用于采集所述物料的反射光并根据所述反射光形成所述物料的图像；及与所述采集模块连接的处理模块，所述处理模块用于根据所述图像识别所述物料。
【技术特征摘要】
1.一种物料的检测装置，其特征在于，包括：
偏振光发生器，所述偏振光发生器用于产生偏振光并照射至所述物料；
采集模块，所述采集模块用于采集所述物料的反射光并根据所述反射光形成所述物料的图像；及
与所述采集模块连接的处理模块，所述处理模块用于根据所述图像识别所述物料。
2.如权利要求1所述的物料的检测装置，其特征在于，所述偏振光发生器包括光源及设置于所述光源的出光方向上的线起偏器。
3.如权利要求2所述的物料的检测装置，其特征在于，所述采集模块包括：
设置在所述反射光的光路上的分光单元，所述分光单元用于对所述反射光进行分光以分别形成第一图像光及第二图像光；
沿所述第一图像光的光路依次设置的第一检偏器及第一传感器，所述第一传感器用于采集经所述第一检偏器出射的所述第一图像光以形成第一子图像；及
沿所述第二图像光的光路依次设置的第二检偏器及第二传感器，所述第二传感器用于采集经所述第二检偏器出射的所述第二图像光以形成第二子图像；
所述第一检偏器及所述第二检偏器中的其中一个检偏器的偏振化方向与所述偏振光的偏振方向相同，另一个检偏器的偏振化方向与所述偏振光的偏...
【专利技术属性】
技术研发人员：李广，常宏，李凯，陶俊，
申请(专利权)人：合肥美亚光电技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34
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