本实用新型专利技术涉及一种解决了现有技术中电路响应时间长、容易产生机械故障、使用寿命短或者成本高、容易产生同频干扰的问题的激光测距的校准装置及测量仪器；发射装置，用于发射波长不同的第一光波和第二光波，其中，第一光波的一部分作为外光路第一信号，第一光波的另一部分被被测目标反射折回后作为外光路第二信号，第二光波的一部分作为内光路第一信号，第二光波的另一部分作为内光路第二信号；第一光电转换装置，用于分别接收外光路第一信号以及内光路第一信号进行光电转换并分别输出；第二光电转换装置，用于分别接收外光路第二信号以及内光路第二信号进行光电转换并分别输出；鉴相器，用于进行相位比较输出消除基底参考的相位信号。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种解决了现有技术中电路响应时间长、容易产生机械故障、使用寿命短或者成本高、容易产生同频干扰的问题的激光测距的校准装置及测量仪器；发射装置，用于发射波长不同的第一光波和第二光波，其中，第一光波的一部分作为外光路第一信号，第一光波的另一部分被被测目标反射折回后作为外光路第二信号，第二光波的一部分作为内光路第一信号，第二光波的另一部分作为内光路第二信号；第一光电转换装置，用于分别接收外光路第一信号以及内光路第一信号进行光电转换并分别输出；第二光电转换装置，用于分别接收外光路第二信号以及内光路第二信号进行光电转换并分别输出；鉴相器，用于进行相位比较输出消除基底参考的相位信号。【专利说明】一种激光测距的校准装置及测量仪器
本技术属于光电测距领域，尤其涉及一种激光测距的校准装置及测量仪器。
技术介绍
激光测距，由于其测量精度高可达毫米级别，而在200米内的短距离激光测距中 得到广泛应用。基于测相位差原理的激光测距，是用调制的激光光束照射被测目标，激光光 束经被测目标反射后折回，将激光光束往返过程产生的相位变化换算成被测目标的距离， 其测量的准确性和精度受测距装置内部零件特性的影响。激光测距仪器的精度要求越高， 其电路的复杂程度与精密器件的需求就大大提高。因此，环境因素如温度以及器件使用寿 命对器件性能的影响进而导致器件产生的相位漂移，不可忽视。 现有技术一般采用内外光路的相位差补偿原理消除电路系统的附加相移，确保测 量数据不受外界环境因素影响。消除附加相移的相位差补偿原理，如下： 设测距信号先后经过内光路与外光路形成所滞后的相位差各为9内与 (p外，厶(p为仪器内部电子线路在传送信号过程中产生的附加相移，则内、外光路测距信号 O @与O4在相位器中分别于参考信号的比较结果为： 【权利要求】1. 一种激光测距的校准装置，其特征在于，包括： 发射装置，用于根据高频振荡信号调制生成并发射波长不同的第一光波和第二光波， 其中，所述第一光波的一部分作为外光路第一信号，所述第一光波的另一部分被被测目标 反射折回后作为外光路第二信号，所述第二光波的一部分作为内光路第一信号，所述第二 光波的另一部分作为内光路第二信号， 第一光电转换装置，用于分别接收外光路第一信号以及内光路第一信号进行光电转换 并分别输出； 第二光电转换装置，用于分别接收被被测目标反射折回的外光路第二信号以及内光路 第二信号进行光电转换并分别输出； 鉴相器，用于分别接收所述第一光电转换装置与所述第二光电转换装置输出的信号， 进行相位比较输出消除基底参考的相位信号。2. 根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，还包括： 混频器，用于将所述第一光电转换装置输出的内光路第一信号、外光路第一信号分别 与同一混频信号进行混频并放大后输出至所述鉴相器，还用于将所述第二光电转换装置输 出的内光路第二信号、外光路第二信号分别与同一混频信号进行混频并放大后输出至所述 鉴相器。3. 根据权利要求2所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述第一光电转换装置、 第二光电转换装置和所述混频器包含于一接收装置内，所述接收装置包括光电二极管、光 电三极管、雪崩二极管或光电倍增管。4. 根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，还包括： 振荡器，用于产生并输出所述高频振荡信号和混频信号； 和/或 放大装置，用于接收所述第一光电转换装置和第二光电转换装置的输出信号并进行放 大、输出。5. 根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，还包括第一反射面、第二 反射面、第一滤光片和第二滤光片，其中： 第一反射面，用于反射外光路第一信号和内光路第一信号至第一光电转换装置； 第一滤光片，用于过滤外光路第二信号至被测目标，并用于反射内光路第二信号至第 二光电转换装置； 第二滤光片，设置在第一滤光片与第二光电转换装置之间，并用于过滤所述内光路第 二信号； 第二反射面，设置在第二滤光片与与第二光电转换装置之间，并用于反射所述内光路 第二信号至第二光电转换装置。6. 根据权利要求5所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述第一反射面和第二 反射面为光学反射部件或光学导光部件，所述光学反射部件为反射棱镜、全反镜或其它具 备光学反射功能的光学反射部件，所述光学导光部件为光纤、光导管或其它具备光学导光 功能的光学导光部件，所述第一滤光片和第二滤光片为光学元件，所述光学元件为光学玻 璃镀膜、光学塑料镀膜或其它具备导通和截止光路信号的光学元件。7. 根据权利要求1所述的激光测距的校准装置，其特征在于，所述发射装置为发射一 种或多种波长的激光二极管、或发光二极管。8. -种激光测距的测量仪器，其特征在于：所述激光测距的测量仪器包括如权利要求 1至7任一项所述的激光测距的校准装置。【文档编号】G01S7/497GK204044355SQ201420426743【公开日】2014年12月24日 申请日期:2014年7月30日 优先权日:2014年7月30日 【专利技术者】杜学璋 申请人:杜学璋本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种激光测距的校准装置，其特征在于，包括： 发射装置，用于根据高频振荡信号调制生成并发射波长不同的第一光波和第二光波，其中，所述第一光波的一部分作为外光路第一信号，所述第一光波的另一部分被被测目标反射折回后作为外光路第二信号，所述第二光波的一部分作为内光路第一信号，所述第二光波的另一部分作为内光路第二信号， 第一光电转换装置，用于分别接收外光路第一信号以及内光路第一信号进行光电转换并分别输出； 第二光电转换装置，用于分别接收被被测目标反射折回的外光路第二信号以及内光路第二信号进行光电转换并分别输出； 鉴相器，用于分别接收所述第一光电转换装置与所述第二光电转换装置输出的信号，进行相位比较输出消除基底参考的相位信号。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杜学璋，
申请(专利权)人：杜学璋，
类型：新型
国别省市：广东;44
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