内置测高装置的测量仪器制造方法及图纸

技术编号:9306800 阅读:105 留言:0更新日期:2013-10-31 05:07
本实用新型专利技术涉及一种内置测高装置的测量仪器,该测量仪器中设置有控制测量工作的主电路,测量仪器中内置有测量其距离测站点的高度的测高装置;测高装置包括向测站点的方向发射激光信号的激光发射组件、检测和接收激光发射组件所发出的激光信号经测站点后的回光信号的激光接收检测组件、通过激光发射组件所发出的激光信号和激光接收检测组件所接收的回光信号计算距离的测高电路,测高电路分别与激光发射组件、激光接收检测组件、主电路相连接,激光发射组件设置于测量仪器的中心。本实用新型专利技术中内置了可以进行仪器高度测量的测高装置,通过其可以快速、准确的实现仪器的高度测量,可大幅度提高工作精度和工作效率。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种内置测高装置的测量仪器,该测量仪器中设置有控制测量工作的主电路,其特征在于:所述的测量仪器中内置有测量其距离测站点的高度的测高装置;所述的测高装置包括向所述的测站点的方向发射激光信号的激光发射组件、检测和接收所述的激光发射组件所发出的激光信号经所述的测站点后的回光信号的激光接收检测组件、通过所述的激光发射组件所发出的激光信号和所述的激光接收检测组件所接收的所述的回光信号计算距离的测高电路,所述的测高电路分别与所述的激光发射组件、所述的激光接收检测组件、所述的主电路相连接,所述的激光发射组件设置于所述的测量仪器的中心。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:沈晨雁顾卫丰陈祚海何波林莉
申请(专利权)人:苏州一光仪器有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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