鉴定西瓜枯萎病的InDel分子标记及其引物和应用制造技术

本发明专利技术具体涉及一种鉴定西瓜枯萎病的InDel分子标记及其引物和在西瓜抗枯萎病育种中的应用。该InDel分子标记的核苷酸序列为：TTTATTTTTTATTTTTTATTT，其引物序列：InDel1_fon1F：TTCCAAAAGTGCAGATTTC；InDel1_fon1R：CACATGGGGATTGACTAAG。本发明专利技术通过QTL初定位同样在1号染色体定位到了抗fon1的主效QTL，并结合亲本重测序制备到与西瓜枯萎病抗性紧密连锁的InDel分子标记及其引物和在西瓜抗枯萎病育种中的应用，可为西瓜枯萎病抗性提供新手段，加速西瓜枯萎病抗性性状的改良进程，提高育种的准确性和选择效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于分子生物学领域，具体设及一种鉴定西瓜枯萎病的InDel分子标记及 其引物和应用。
技术介绍
枯萎病（化sariumwilt,FW)，由半知菌亚口镶抱属菌西瓜专化型（fon)寄生引 起，是世界范围内西瓜生产中导致产量和品质降低最严重的一种真菌±传病害。目前，已报 道的fon生理小种有0、1、2和3共四种，除了化n3,不同的商业西瓜品种在一定程度上已经 整合了生理小种化nO、化nl和化n2的抗性。但是，大部分品种不抗枯萎病，病菌能够在西 瓜种植区很快的扩散和蔓延。因此，开发与枯萎病抗性紧密连锁的易于操作、成本低廉的分 子标记，不仅可W在苗期快速鉴定抗枯萎病品种/系，缩短育种周期，还有利于改良西瓜的 枯萎病抗性，为西瓜抗病育种提供技术支撑。 最近，Lambel等（2014)利用SNP标记定位了一个西瓜化nl抗性的主效的'L位 点，位于1号染色体遗传图谱的2. 3~8. 4cM，对应于1号染色体物理图谱的56050~ 6541994bp。许勇课题组也根据SNP位点开发了与化nl紧密连锁的两个CAPs/dCAPs标记， 分别为7716_fon和502124_fon，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种鉴定西瓜枯萎病的InDel分子标记，其核苷酸序列为：TTTATTTTTTATTTTTTATTT。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李娜，尚建立，马双武，王吉明，李楠楠，
申请(专利权)人：中国农业科学院郑州果树研究所，
类型：发明
国别省市：河南;41