本发明专利技术提供一种能更好地检测电火花的产生，进而能更好地将产生电火花的基板区别为不良品的绝缘检测技术。绝缘检测装置在向绝缘检测对象配线图形间的电压施加的开始至绝缘检测对象配线图形间的电压变稳定的所定时间为止的期间，检测因电压施加而产生的绝缘检测对象配线图形间的电压。在该期间，若检测到在绝缘检测对象配线图形间因产生的电火花而引起的电压降的发生，则将被检测基板判定为不良品(步骤S17、S18)。尤其，所述期间的供给电流根据绝缘检测对象配线图形中上流侧配线图形(高电位侧配线图形)上所形成的检测点的数量而进行设定(步骤S11)。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种在被检测基板上形成的配线图形间进行绝缘检测的绝缘检测装置及其相关技术。
技术介绍
在具有多个配线图形的基板(电路基板)中，通过判定从该多个配线图形中依次选择的一对配线图形相互间的绝缘状态的良好与否，来进行该基板是否为良品的绝缘检测。具体来讲，针对一对配线图形开始施加电压后，基于在该电压变稳定的所定时间一对配线图形相互间的电压以及在该所定时间一对配线图形相互间流动的电流，算出该一对配线图形相互间的电阻值，且基于该电阻值进行被检测基板的良品判定。在这种绝缘检测中，向一对配线图形相互间施加较高的电压。鉴于此，存在着在一对配线图形相互间(更详细地来讲，具有不充分绝缘状态的部分)产生电火花的同时产生因该电火花而引起的不良之情况。对此，存在一种能更准确地将产生这种电火花的基板区别为不良品的技术(参考专利文献I)。在专利文献I记载的技术中，在开始向一对配线图形施加电压的时间起至该电压变稳定的所定时间为止的期间，检测出根据电压施加而产生的一对配线图形的电压。且在该期间若检测出检测电压的电压降，则将检测对象的基板判定为不良品。但在如上所述绝缘检测中，为了缩短该绝缘检测所需的时间，优选地应尽可能缩短从开始向一对配线图形施加电压的时间起至该电压变稳定的所定时间为止的期间。鉴于此，在该期间向一对配线图形施加电压时，使较大电流在一对配线图形中流动。但在进行专利文献I记载的检测时，若针对从多个配线图形中提取的任意一对配线图形也统一流过较大电流，则会存有不能适当地检测电压降，从而不能适当地检测电火花产生的情况。【现有技术文献】【专利文献I】日本专利公开第2003-172757号公报
技术实现思路
本专利技术的课题是提供一种能更好地检测电火花的产生，进而更好地将产生电火花的基板区别为不良品的绝缘检测技术。根据一个实施形态的本专利技术，提供了一种绝缘检测装置，用于进行被检测基板的绝缘检测，所述绝缘检测装置包括:电源设备，向在所述被检测基板上形成的多个配线图形中作为绝缘检测对象配线图形而被选择的上流侧配线图形和下流侧配线图形的两配线图形间，进行电压施加；电流调整设备，调整所述电压施加时来自所述电源设备的供给电流；电压检测设备，检测根据所述电压施加而产生的所述两配线图形间的电压；电压降检测设备，在所述电压施加的开始至所述两配线图形间的所述电压变稳定的所定时间(timing)为止的期间，检测在所述两配线图形间因产生的电火花而引起的电压降的产生与否；判定设备，根据所述电压降检测设备若检测所述电压降，则将所述被检测基板判定为不良品；记忆部，记忆在所述多个配线图形的各个配线图形上形成的检测点的数量，所述电流调整设备根据在所述上流侧配线图形上形成的检测点的数量即第一检测点数量调整所述供给电流。根据一个实施例，所述电流调整设备在所述第一检测点数量大于所定数量时，将所述供给电流设定为第一电流值，在所述第一检测点数量小于所述所定数量时，将所述供给电流设定为小于所述第一电流值的第二电流值。根据一个实施例，所述电流调整设备将所述记忆设备所记忆的检测点数量分类为所定数量的组，进而将与所述第一检测点数量所属的组对应的电流值作为所述供给电流而设定，根据与较少检测点数量相对应的组而设定的电流值，小于根据与较多检测点数量相对应的另一组而设定的电流值。根据一个实施例，所述判定设备基于所述所定时间的所述两配线图形间的电压以及所述所定时间的所述两配线图形间流动的电流，算出所述两配线图形间的电阻值，且进一步进行基于所述电阻值的所述被检测基板的良好与否判定。根据一个实施形态的本专利技术，提供了一种绝缘检测方法，用于进行被检测基板的绝缘检测，所述绝缘检测方法包括:步骤a，向在所述被检测基板上形成的多个配线图形中作为绝缘检测对象配线图形而被选择的上流侧配线图形和下流侧配线图形的两配线图形间，开始电压施加，步骤b，在所述电压施加的开始至所述两配线图形间的电压变稳定的所定时间为止的期间，检测根据所述电压施加而产生的所述两配线图形间的电压，在所述期间，根据在所述上流侧配线图形上形成的检测点的数量即第一检测点数量，调整所述电压施加时的供给电流，在所述期间，若检测到在所述两配线图形间因产生的电火花而引起的电压降，则将所述被检测基板判定为不良品。根据本专利技术，能更好地检测因电火花而引起的电压降，进而能更好地检测电火花的产生。进一步能更好地检测不良的被检测基板。【附图说明】图1是示出绝缘检测装置的概略构成的示图。图2是示出被检测基板的一个示例的示图。图3A和图3B是示出电压计测定的电压随时间变化的示图。图4是示出绝缘检测装置的动作的流程图。图5是放大示出图3A的一部分的示图。1:绝缘检测装置2:电源3:电压计4、开关5:电流计90:被检测基板P11、P12、P21 至 P23、P31 至 P37:电极(检测点)PA:上流侧配线图形PB:下流侧配线图形PTl至PT5:配线图形【具体实施方式】以下，将基于附图对本专利技术的实施形态进行说明。〈1、装置构成〉图1是示出绝缘检测装置I的概略构成的概略构成图。绝缘检测装置I是在被检测基板(电路基板)上形成的多个配线图形相互间进行绝缘检测的绝缘检测装置。被检测基板例如可以是印刷配线基板、柔性(flexible)基板、多层配线基板以及半导体封装用封装基板等各种基板。如图1所示，绝缘检测装置I包括电源2、电压计3、电流计5、控制部7和记忆部8。电源2针对多个配线图形中依次选择的绝缘检测的对象配线图形(绝缘检测对象配线图形)相互间，施加较高的电压(例如，200V)。绝缘检测的对象配线图形分为两种配线图形，即在绝缘检测的电压施加时与电源2的上流侧(阳极侧或高电位侧)端子连接的上流侧配线图形PA，以及该电压施加时与电源2的下流侧(阴极侧或低电位侧)端子连接的下流侧配线图形PB。。上流侧配线图形PA与电源2的上流侧端子利用探针而电连接，下流侧配线图形PB与电源2的下流侧端子利用另外的探针而电连接。在此电源2由可变电压源构成。电源2还可将施加电压时的供给电流调整为一定值。即，电源2在供给一定值的电流(供给电流)而为配线图形PA和PB相互间的静电容量“充电”的同时，能使配线图形PA和PB相互间的电压达到任意的输出电压值Va。若配线图形PA和PB相互间的静电容量充电结束，由于从根本上讲来自电源2的电流降低为小于上述一定值的值，因此将上述一定值还称为供给电流的限定值(上限值)。且如后述，来自电源2的供给电流(详细来讲为其限定值)可设定为多个值(例如值II，12)中的任意一个。电压计3检测随电源2的电压施加而产生的绝缘检测对象配线图形PA和PB间的电压(具体来讲，上流侧配线图形和下流侧配线图形相互间的电压)的值。电流计5检测根据电源2的电压施加时在绝缘检测对象配线图形PA和PB当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种绝缘检测装置，用于进行被检测基板的绝缘检测，所述绝缘检测装置包括：电源设备，向在所述被检测基板上形成的多个配线图形中作为绝缘检测对象配线图形而被选择的上流侧配线图形和下流侧配线图形的两配线图形间，进行电压施加，电流调整设备，调整所述电压施加时来自所述电源设备的供给电流，电压检测设备，检测根据所述电压施加而产生的所述两配线图形间的电压，电压降检测设备，在所述电压施加的开始至所述两配线图形间的所述电压变稳定的所定时间(timing)为止的期间，检测在所述两配线图形间因产生的电火花而引起的电压降的产生与否，判定设备，根据所述电压降检测设备若检测所述电压降，则将所述被检测基板判定为不良品，记忆部，记忆在所述多个配线图形的各个配线图形上形成的检测点的数量，所述电流调整设备根据在所述上流侧配线图形上形成的检测点的数量即第一检测点数量调整所述供给电流。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：笠井淳，
申请(专利权)人：日本电产理德股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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