X射线无损检测设备制造技术

本发明专利技术涉及无损检测领域，公开了一种X射线无损检测设备，Y轴滑轨（3）水平固定在底座（1）上，X轴滑轨（2）与Y轴滑轨滑动连接，支架（6）固定在X轴滑轨上，Z轴滑轨（4）固定在支架上，C型臂（5）与固定块（7）转动连接，固定块与Z轴滑轨滑动连接；第一和第二伺服电机分别通过第一和第二传动杆与支架驱动连接，第三伺服电机通过第三传动杆与固定块驱动连接，第四伺服电机通过第四传动杆与C型臂驱动连接，X光机（8）和X射线平板探测器（9）分别固定在C型臂上下端，检测时载物台（10）移动到（8）和（9）之间。本设备能够通过移动光源对工件定位，且C型臂在四个方向上可以同时移动，定位迅速，检测效率较高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及工业探伤及无损检测领域，特别涉及一种X射线无损检测设备。
技术介绍
工业上利用X光检测的原理是:X射线通过物质被吸收时，可使组成物质的分子分解成为正负离子，称为电离作用，离子的多少和物质吸收的X射线量成正比。通过空气或其它物质产生电离作用，利用仪表测量电离的程度就可以计算X射线的量。由成像器转换成数字信号，再通过计算机辅助软件还原成图像以后进行判图、标注、储存等。目前的X射线检测设备中，在光源下对待检测工件进行定位时，一般是通过移动待检测工件进行左右前后上下移动来实现，如果待检测工件过大，则移动不便，而且在XYZ三个方向的移动只能是先后进行，无法同时完成，造成定位时间较长，效率低下。
技术实现思路
专利技术目的:针对现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种X射线无损检测设备，在对待检测工件进行定位时，可以通过移动光源进行定位，且光源能够同时上下左右前后移动，并能够同时在垂直平面内旋转，定位迅速，检测效率较高。技术方案:本专利技术提供了一种X射线无损检测设备，包括底座、X轴滑轨、Y轴滑轨、Z轴滑轨、能够在垂直平面内旋转的C型臂、支架、固定块、X光机X射线平板探测器、载物台、第一伺服电机、第一传动杆、第二伺服电机、第二传动杆、第三伺服电机、第三传动杆、第四伺服电机和第四传动杆；所述Y轴滑轨水平固定在所述底座上，所述X轴滑轨与所述Y轴滑轨滑动连接且相互垂直，所述支架固定在所述X轴滑轨上，所述Z轴滑轨固定在所述支架上且垂直于所述底座，所述C型臂与所述固定块转动连接，所述固定块与所述Z轴滑轨滑动连接；所述第一伺服电机通过所述第一传动杆与所述支架驱动连接，所述第二伺服电机通过所述第二传动杆与所述支架驱动连接，所述第三伺服电机通过所述第三传动杆与所述固定块驱动连接，所述第四伺服电机通过所述第四传动杆与所述C型臂驱动连接；所述X光机固定在所述C型臂的上端，所述X射线平板探测器固定在所述C型臂的下端；在检测时，所述载物台能够移动到所述X光机和所述X射线平板探测器之间。进一步地，所述的X射线无损检测设备还包含防护铅房，所述X轴滑轨、所述Y轴滑轨、所述Z轴滑轨、所述C型臂、所述支架、所述固定块、所述X光机以及所述X射线平板探测器均位于所述防护铅房外部；在检测前，所述载物台位于所述防护铅房内；在检测时，所述载物台通过所述防护铅房的屏蔽门移动到所述X光机和所述X射线平板探测器之间。防护铅房的设置有效将操作工与光源隔离开来，在载物台将待检测工件送达X光机和X射线平板探测器之间后，屏蔽门关闭，紧接着驱动机构按照设定好的程序进行移动和旋转C型臂，当C型臂到达预定位置并调整好拍摄角度之后，X光机(即光源)自动打开并拍照检测，随即储存到计算机当中；检测完毕之后，屏蔽门自动打开，载物台自动将已检测好的工件移除并检查下一待检测工件，以此类推，有效避免光源对操作工身体的辐射。进一步地，所述的X射线无损检测设备还包含人机交互控制装置，所述人机交互控制装置固定在所述防护铅房外部。人机交互控制装置与防护铅房固定在一起，方便设备的整体移动。进一步地，所述防护铅房的侧面还设有维护门。维护门的设置便于用户对设备进行安装调试和维修。进一步地，所述维护门上设有自锁机构，在所述载物台移动到所述X光机和所述X射线平板探测器之间后，所述自锁机构自动将所述维护门锁死。自锁机构能有效防止用户在设备运行时打开维护门受到光源的辐射伤害。优选地，所述载物台为转盘式载物台或滚筒式载物台。转盘式和滚筒式的载物台使得放置工件可以完全自动化，减少人力成本。有益效果:本专利技术中的X、Y、Z三轴方向的滑轨以及C型臂分别通过一个伺服电机和一个传动杆驱动，所以C型臂可以在四个方向上同时移动和转动，即四轴联动，相比于传统的单轴、双轴联动，能够更迅速的调整固定在C型臂上的X光机(即光源)和X射线平板探测器的位置，也就是说能够更加迅速地对待检测工件进行定位，大大节省了检测的时间；其中，C型臂使得X光机和X射线平板探测器能够时刻保持在同一直线上，整体结构比较紧凑，占用空间小，使得本身整体造型比较美观、小巧，移动搬运方便；另外C型臂与固定块转动连接，且该C型臂通过第四伺服机构控制能够顺时针或逆时针转动，使得该C型臂能够在垂直平面内顺时针或逆时针转动，当需要检测待检测工件的不同侧面和角度时，只需控制第四伺服电机通过传动机构驱动C型臂逆时针或顺时针旋转，此时X光机和X射线平板探测器也就跟着旋转，即实现了光源和光源探测器的旋转，如此就能够实现在待检测工件不动的情况下对其进行多方位的缺陷检测，精确查找并定位缺陷、瑕疵点(或区域)的几何位置，判断更为精准，直观；可以大幅度提高本设备对各类工件的适应能力，扩大本设备使用行业的局限性；尤其是当待检测工件较大不便移动时更加凸显本专利技术的优势，操作更加轻便简单，除此之外，本专利技术中的X光机和X射线平板探测器也可以根据检测要求进行更换以适应不同的工件，C型臂也能够上下左右前后移动，适用性更广泛。【附图说明】图1为X射线无损检测设备的立体结构示意图； 图2为X射线无损检测设备的侧视图。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术进行详细的介绍。本实施方式提供了一种X射线无损检测设备，如图1和2所示，该设备主要由底座1、X轴滑轨2、Y轴滑轨3、Z轴滑轨4、C型臂5、支架6、固定块7、第一伺服电机、第一传动杆、第二伺服电机、第二传动杆、第三伺服电机、第三传动杆、第四伺服电机、第四传动杆、X光机8、Χ射线平板探测器9以及载物台10组成，Y轴滑轨3水平固定在底座I上，X轴滑轨2与Y轴滑轨3相互垂直且滑动连接，支架6固定在X轴滑轨2上，Z轴滑轨4固定在支架6上且与底座I垂直，固定块7与Z轴滑轨4滑动连接，C型臂5与固定块7转动连接，固定块7与Z轴滑轨4滑动连接，第一伺服电机通过第一传动杆与支架6驱动连接，以驱动支架6沿X轴滑轨2左右滑动，第二伺服电机通过第二传动杆与支架6驱动连接，以驱动支架6沿Y轴滑轨3前后滑动，第三伺服电机通过第三传动杆与固定块7驱动连接，以驱动固定块7沿Z轴滑轨4上下滑动，第四伺服电机通过第四传动杆与C型臂5之间驱动连接，当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线无损检测设备，其特征在于，包括底座（1）、X轴滑轨（2）、Y轴滑轨（3）、Z轴滑轨（4）、能够在垂直平面内旋转的C型臂（5）、支架（6）、固定块（7）、X光机（8）、X射线平板探测器（9）、载物台（10）、第一伺服电机、第一传动杆、第二伺服电机、第二传动杆、第三伺服电机、第三传动杆、第四伺服电机和第四传动杆；所述Y轴滑轨（3）水平固定在所述底座（1）上，所述X轴滑轨（2）与所述Y轴滑轨（3）滑动连接且相互垂直，所述支架（6）固定在所述X轴滑轨（2）上，所述Z轴滑轨（4）固定在所述支架（6）上且垂直于所述底座（1），所述C型臂（5）与所述固定块（7）转动连接，所述固定块（7）与所述Z轴滑轨（4）滑动连接；所述第一伺服电机通过所述第一传动杆与所述支架（6）驱动连接，所述第二伺服电机通过所述第二传动杆与所述支架（6）驱动连接，所述第三伺服电机通过所述第三传动杆与所述固定块（7）驱动连接，所述第四伺服电机通过所述第四传动杆与所述C型臂（5）驱动连接；所述X光机（8）固定在所述C型臂（5）的上端，所述X射线平板探测器（9）固定在所述C型臂（5）的下端；在检测时，所述载物台（10）能够移动到所述X光机（8）和所述X射线平板探测器（9）之间。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙洋，
申请(专利权)人：苏州科耐视智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32