本实用新型专利技术提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4。本实用新型专利技术具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种电子测试装置，尤其是一种测试发射芯片的装置。
技术介绍
在当今信息膨胀的年代，无线发射芯片被越来越多的应用到各种无线终端中。在无线发射芯片生产和封装完成后，需要进行必要的测试，以确保其合格和可靠。现有的测试装置往往过于复杂，购置成本很高。或者功能过于简单，无法批量测试，使得测试效率低，测试准确性也不够好。
技术实现思路
针对现有技术中存在的不足，本技术提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。本技术采用的技术方案是:一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；微处理器Ul上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器Kl线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和Κ3的线圈另一端都接继电器供电电压；微处理器Ul通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器Ul上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器Κ2的公共端，继电器Κ2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器Kl的常闭触点，继电器Kl的公共端连接微处理器Ul的第一采样端口 ；继电器Κ3的常闭触点通过电阻Rl连接第二供电电压，继电器Κ3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻Rl和R2阻值不同；继电器Κ3的公共端连接微处理器Ul的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。进一步地，驱动芯片U2采用ULN2003。本技术的优点在于:I)搭建外围测试平台简单快捷。2)测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好，适合无线发射芯片的批量测试。3)测试中抗干扰能力强。【附图说明】图1为本技术的电原理图。【具体实施方式】下面结合具体附图和实施例对本技术作进一步说明。本技术提出的无线发射芯片简单批量测试装置，整体为一块线路板，其上的电路如图1所示，包括微处理器Ul、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座40 ;测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座40中；微处理器Ul上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器Kl线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压(如+5ν);本例中驱动芯片U2采用ULN2003，其输入端和输出端的信号关系为反相关系。微处理器Ul输出低电平时，U2的输出为高电平，则继电器Κ1、Κ2和Κ3线圈都不得电。微处理器Ul通过SPI/IIC通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器Ul上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器Κ2的公共端，继电器Κ2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端(图中的U4的PKT管脚);发射芯片U4的信号输出端连接继电器Kl的常闭触点，继电器Kl的公共端连接微处理器Ul的第一采样端口(图中Ul的ADCl管脚)；继电器Κ3的常闭触点通过电阻Rl连接第二供电电压，第二供电电压为3.3ν ;继电器Κ3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻Rl和R2阻值不同，分别用于测试发射芯片U4的睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。继电器Κ3的公共端连接微处理器Ul的第二采样端口(图中Ul的ADC2管脚)，以及发射芯片U4的供电端。测试流程:上电后微处理器Ul会立即检测SPI/IIC通信接口连接的接收芯片U3和发射芯片U4的状态。当微处理器Ul收到上位机给的START信号时，开始测试。通过控制继电器K1、K3切换，可测试发射芯片U4的输出电压LDO_OUT，睡眠电流ISLEEP和工作电流IDDRX。微处理器Ul控制继电器K2，通过控制被测芯片PKT引脚(信号发射控制端)高低电平，来使得被测的发射芯片U4发送信号或停止发送信号。比如，继电器K2线圈得电时，微处理器Ul的用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口接通发射芯片U4的PKT引脚，可输出高低电平对U4进行控制。发射芯片U4的输出信号通过继电器Kl后，再被微处理器Ul的ADCl管脚采样。通过继电器K3的切换，可分别接通电阻Rl和R2，能够测试发射芯片U4的睡眠电流和工作电流。当一颗发射芯片测试完毕后，可以从芯片座40上取下，换上一颗待测试的发射芯片继续测试。本测试装置可以对芯片批量测试，具有简单快捷的效果，搭建外围测试平台简单方便。测试时抗干扰能力强。【主权项】1.一种无线发射芯片简单批量测试装置，其特征在于，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座(40);测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座(40)中； 微处理器Ul上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器Kl线圈一端、继电器Κ2线圈一端和继电器Κ3线圈一端；继电器Kl、Κ2和Κ3的线圈另一端都接继电器供电电压； 微处理器Ul通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器Ul上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器Κ2的公共端，继电器Κ2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器Kl的常闭触点，继电器Kl的公共端连接微处理器Ul的第一采样端口 ； 继电器Κ3的常闭触点通过电阻Rl连接第二供电电压，继电器Κ3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻Rl和R2阻值不同； 继电器Κ3的公共端连接微处理器Ul的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。2.如权利要求1所述的无线发射芯片简单批量测试装置，其特征在于: 驱动芯片U2采用ULN2003。【专利摘要】本技术提供一种无线发射芯片简单批量测试装置，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座中；微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4。本技术具有测试简单快捷，稳定性好，测试效率高和准确性好等优点，适合无线发射芯片的批量测试。【IPC分类】G01R31-28【公开号】CN204595160【申请号】CN201520292556【专利技术人】吴亚军 【申请人】江苏钜芯集成电路技术有限公司【公开日】2015年8月26日【申请日】2015年5月7日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种无线发射芯片简单批量测试装置，其特征在于，包括微处理器U1、驱动芯片U2、继电器K1、K2和K3、接收芯片U3，以及一个用于安装发射芯片U4的芯片座(40)；测试时发射芯片U4可拆卸地安装于芯片座(40)中；微处理器U1上用于驱动继电器的I/O端口连接驱动芯片U2的各输入端；驱动芯片U2的三个输出端分别连接继电器K1线圈一端、继电器K2线圈一端和继电器K3线圈一端；继电器K1、K2和K3的线圈另一端都接继电器供电电压；微处理器U1通过通信接口分别连接接收芯片U3和发射芯片U4，微处理器U1上用于控制发射芯片U4信号发射的I/O端口连接继电器K2的公共端，继电器K2的常开触点连接发射芯片U4的信号发射控制端；发射芯片U4的信号输出端连接继电器K1的常闭触点，继电器K1的公共端连接微处理器U1的第一采样端口；继电器K3的常闭触点通过电阻R1连接第二供电电压，继电器K3的常开触点通过电阻R2连接第二供电电压；电阻R1和R2阻值不同；继电器K3的公共端连接微处理器U1的第二采样端口，以及发射芯片U4的供电端。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴亚军，
申请(专利权)人：江苏钜芯集成电路技术有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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