一种发射机芯片的校准方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种发射机芯片的校准方法和装置，包括：待测芯片发射正弦信号至标准芯片，以使所述标准芯片能够将所述正弦信号传输给数字信号处理芯片进行解析；所述待测芯片根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数；其中，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。根据本发明专利技术提供的一种发射机芯片的校准方法和装置能够利用芯片自身发射和接收待测芯片的信号并进行解析，取代传统校准和测试模式中的仪器，并通过固件实现校准和测试的自动化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及物联网WIFI芯片领域，尤其涉及一种发射机芯片的校准方法和装置。
技术介绍
由于芯片制造过程中器件的差异性以及温度和外部环境对于芯片内部器件工作的影响，即使同一批生产的射频芯片在性能表现上也会有一定的差异性。为了保证产品的一致性，在产品交付之前都会对WIFI射频芯片的模拟电路进行直流偏置、同相I/正交Q两路相位和幅度的校准，以纠正因为制造过程中的工艺偏差对模拟电路工作时的影响，并且也会进行性能测试已保证交付的产品符合性能要求。一般在对射频芯片进行校准和测试的时候会使用特定的仪器发送和接受特定格式的射频信号来测量射频芯片的性能。这种方法需要配备额外的仪器，增加了测试的成本。同时一台仪器只能对应一个射频芯片，如果不购入多台仪器，无法做到多片同时测试，也很难提升校准和测试的效率。
技术实现思路
技术问题有鉴于此，本专利技术要解决的技术问题是，如何提供一种发射机芯片的校准方法和装置，使发射机芯片能够进行自行校准以改善射频性能。解决方案为解决以上技术问题，本专利技术在第一方面提供一种发射机芯片的校准方法，包括：待测芯片发射正弦信号至标准芯片，以使所述标准芯片能够将所述正弦信号传输给数字信号处理芯片进行解析；所述待测芯片根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数；其中，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。在一种可能的实现方式中，在待测芯片发射正弦信号至标准芯片之后，还包括：所述标准芯片将所述正弦信号保存在所述标准芯片的rf_bist_mem模块中；所述数字信号处理芯片进行解析，包括：所述数字信号处理芯片计算所述正弦信号的直流分量和所述I/Q通道偏模；以及在所述解析之后，还包括：所述数字信号处理芯片反馈测试结果给所述测试机台，所述测试结果包括所述直流分量和所述I/Q通道偏模。在一种可能的实现方式中，在所述数字信号处理芯片反馈测试结果给所述测试机台之后，还包括：所述测试机台根据所述测试结果确定所述直流分量和所述I/Q通道偏模是否需要调整，并且当需要调整时将所述测试结果发送给所述待测芯片。在一种可能的实现方式中，在所述待测芯片发射正弦信号至标准芯片之前，还包括：所述待测芯片和所述标准芯片，所述待测芯片根据测试机台的通知，进入测试模式；在所述待测芯片中的rf_bist_mem模块写入欲发送的所述正弦信号。在一种可能的实现方式中，所述待测芯片根据测试机台的通知，发射所述正弦信号至所述标准芯片。为解决以上技术问题，本专利技术在第二方面提供一种发射机芯片的校准装置，包括：待测芯片，用于发射正弦信号至标准芯片；所述标准芯片，与所述待测芯片连接，用于将所述正弦信号传输给数字信号处理芯片进行解析；所述数字信号处理芯片，与所述标准芯片连接，用于对所述正弦信号进行解析；所述待测芯片，还用于根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数；其中，所述测试机台，与所述数字信号处理芯片和所述待测芯片连接，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。在一种可能的实现方式中，所述标准芯片还用于将所述正弦信号保存在所述标准芯片的rf_bist_mem模块中；所述数字信号处理芯片，还用于计算所述正弦信号的直流分量和所述I/Q通道偏模；以及反馈测试结果给所述测试机台，所述测试结果包括所述直流分量和所述I/Q通道偏模。在一种可能的实现方式中，所述测试机台还用于根据所述测试结果确定所述直流分量和所述I/Q通道偏模是否需要调整，并且当需要调整时将所述测试结果发送给所述待测芯片。在一种可能的实现方式中，所述待测芯片和所述标准芯片，还用于进入测试模式；以及所述待测芯片，还用于在其中的rf_bist_mem模块写入欲发送的所述正弦信号。在一种可能的实现方式中，所述待测芯片，还用于根据所述测试机台的通知，发射所述正弦信号至所述标准芯片。有益效果根据本专利技术提供的一种发射机芯片的校准方法和装置，通过待测芯片发射正弦信号至标准芯片，以使所述标准芯片能够将所述正弦信号传输给数字
信号处理芯片进行解析，并根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数，能够利用自身芯片发射和接收待测芯片的信号并进行解析，从而取代传统校准和测试模式中的仪器，并通过固件实现校准和测试的自动化。根据本专利技术提供的一种发射机芯片的校准方法和装置，通过增加标准芯片(golden芯片)能够迅速的实现多片芯片同时测试，提高测试效率并节约成本。根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明，本专利技术的其它特征及方面将变得清楚。附图说明包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本专利技术的示例性实施例、特征和方面，并且用于解释本专利技术的原理。图1示出本专利技术实施例提供的发射机芯片的校准装置的结构示意图；图2示出本专利技术实施例提供的发射机芯片的校准方法的流程图；图3示出发射机的模型图；图4示出接收机的模型图；图5示出数字基带接收通路的示意图。具体实施方式以下将参考附图详细说明本专利技术的各种示例性实施例、特征和方面。附图中相同的附图标记表示功能相同或相似的元件。尽管在附图中示出了实施例的各种方面，但是除非特别指出，不必按比例绘制附图。在这里专用的词“示例性”意为“用作例子、实施例或说明性”。这里作为“示例性”所说明的任何实施例不必解释为优于或好于其它实施例。另外，为了更好的说明本专利技术，在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本专利技术同样可以实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件未作详细描述，以便于凸显本专利技术的主旨。实施例1基于通信系统对于成本、面积、功耗和集成度的要求，零中频收发机以其相对于超外差结构收发机更简单的结构、更高的带宽、更小的面积和更低的功耗在通信系统中受到了广泛的采用。但是因为其较简单的结构，比较容易受到各种噪声的污染。比如直流偏置会导致信号恶化，并导致接收机后级饱和，而同相I/正交Q两路通道幅度或者相位的不平衡都会导致解调信号星座图的恶化。因此对于WIFI射频芯片来说，使用算法校准直流偏置和I/Q不平衡会很好的改善射频电路的性能。图1示出本专利技术实施例提供的发射机芯片的校准装置的结构示意图，如图1所示，该校准装置1包括：golden芯片11、测试机台12、待测芯片13、数字信号处理DSP芯片14。待测芯片13用于发射正弦信号至标准芯片，标准芯片例如golden芯片11，golden芯片11与所述待测芯片连接，用于将所述正弦信号传输给DSP芯片14进行解析，DSP芯片14与golden芯片11连接，用于对所述正弦信号进行解析，待测芯片13还用于根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数，其中，测试机台12与DSP芯片14和待测芯片13连接，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。在一种可能的实现方式中，测试机台12可以通过特定的引脚来引导进行发射特定信号或者接收存储信号的操作。待测芯片13的天线端将和golden芯片11的天线端相连，以发送和接收信号与golden芯片11通信。测试机台...

【技术保护点】
一种发射机芯片的校准方法，包括：待测芯片发射正弦信号至标准芯片，以使所述标准芯片能够将所述正弦信号传输给数字信号处理芯片进行解析；所述待测芯片根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数；其中，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。

【技术特征摘要】
1.一种发射机芯片的校准方法，包括：待测芯片发射正弦信号至标准芯片，以使所述标准芯片能够将所述正弦信号传输给数字信号处理芯片进行解析；所述待测芯片根据测试机台发送的测试结果，调整直流偏置参数和I/Q通道偏模参数；其中，所述测试机台发送的测试结果是根据所述数字信号处理芯片对所述正弦信号进行解析而获得的。2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，在待测芯片发射正弦信号至标准芯片之后，还包括：所述标准芯片将所述正弦信号保存在所述标准芯片的rf_bist_mem模块中；所述数字信号处理芯片进行解析，包括：所述数字信号处理芯片计算所述正弦信号的直流分量和所述I/Q通道偏模；以及在所述解析之后，还包括：所述数字信号处理芯片将测试结果反馈给所述测试机台，所述测试结果包括所述直流分量和所述I/Q通道偏模。3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，在所述数字信号处理芯片反馈测试结果给所述测试机台之后，还包括：所述测试机台根据所述测试结果确定所述直流分量和所述I/Q通道偏模是否需要调整，并且当需要调整时将所述测试结果发送给所述待测芯片。4.根据权利要求1-3中任一项所述的校准方法，其特征在于，在所述待测芯片发射正弦信号至标准芯片之前，还包括：所述待测芯片和所述标准芯片根据测试机台的通知，进入测试模式；在所述待测芯片中的rf_bist_mem模块写入欲发送的所述正弦信号。5.根据权利要求1-4中任一项所述的校准方法，其特征在于，还包括：所述待测芯片根据测试机台的通知...

【专利技术属性】
技术研发人员：梅张雄，程晟，
申请(专利权)人：北京联盛德微电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11