本发明专利技术提供一种试验装置以及其校正方法。一种试验装置，其特征在于，具备：信号发生部，发生用于输出至被试验装置的第1信号；输出部，被连接到被试验装置；路径选择部，被设置在信号发生部和输出部之间，且对多个路径的其中一个进行选择；输入部，输入来自被试验装置的第2信号；信号接收部，接收第2信号；修正值计算部，计算用于校正路径选择部具有的各路径的损失的修正值；输出侧回送部，被设置在路径选择部和输出部之间，且被连接到将第1信号回送至信号接收部侧的回送路径或者输出部的其中一个；以及输入侧回送部，被设置在信号接收部和输入部之间，且被连接到回送路径以及输入部的其中一个。
【技术实现步骤摘要】
【专利说明】相关申请的交叉引用本申请基于并主张2014年9月17日提交的日本专利申请2014-189022号的优先权，其全部内容通过引用而合并于此。
本专利技术涉及对例如便携终端的电特性进行试验的。
技术介绍
以往，作为这种试验装置已知例如，专利文献1(特开2003-18104号公报(日本))记载的移动终端试验系统。专利文献1记载的试验装置具备有:发生信号的信号发生部、切换该信号发生部和测定对象终端之间的路径的接口单元(IF单元)、在试验的实施之前代替测定对象终端而连接到IF单元的输出侧的校正用功率计(power meter)以及校正用接收机。根据该结构，以往的试验装置在试验的实施之前，使用校正用功率计以及校正用接收机，按每个路径来测定IF单元的输出，预先求出路径损失的校正值并且注册到校正表格，从而对实际的输出信号电平(level)进行修正。然而，在以往的试验装置中，例如，在具有单一或者少数的天线的测定对象终端的试验中，能够比较容易地求出校正值，但是，在对近年的CA(载波聚合(CarrierAggregat1n))或ΜΙΜΟ (多输入多输出(Multiple Input M ultiple Output))技术进行试验的情况下，存在需要庞大的校正时间的课题。在CA或M1M0技术的试验中，需要用于合成发送信号的合成器或用于分配接收信号的分配器，相应于合成器或分配器的个数增加，信号发生部或信号接收部的个数增加。将以往的IF单元的结构作为基础，用于进行CA或M1M0技术的试验的发送侧的IF单元的结构成为图13?图15所示那样。图13是表示设置了 2个信号发生部111a以及111b的情况下的IF单元110的结构的图。图14是表示设置了 4个信号发生部121a?121d的情况下的IF单元120的结构的图。图15是表示设置了 8个信号发生部131a?131h的情况下的I F单元130的结构的图。如图13?图15所示那样，伴随信号发生部增加，IF单元的结构复杂化。在图13?图15中，IF单元110、120、130具备有:可变衰减器112、切换SW(开关)113、合成器114、放大器115。因此，若在IF单元中采用这些结构，则信号的电平损失变大，存在不满足试验对象机要求的试验装置的性能的问题。作为解决该问题的对策方法，进行以下考虑。(1)设为在信号发生部能够进行大功率输出。(2)在IF单元中具备放大器。(3)在IF单元中具备放大器，且在IF单元中具备电平检测部而进行A LC(自动电平控制(Auto Level Control))，从而使试验装置的输出信号的电平精度(LevelAccuracy)提高。关于(1)，通过信号发生部输出大功率，从而能够补偿IF单元的电平损失。可是，需要具备线性性能优秀的放大器，存在功率、安装面积、以及发热增加，设备的成本变高这样的问题。进而，伴随CA数或M1M0天线数的增加，上述问题变得更加显著。此外，由于没有考虑对试验装置的输入信号，因此，存在以下问题:相应于IF单元中的电平损失量，输入信号的SN比恶化。关于(2)，能够通过在IF单元中具备的放大器来补偿IF单元中的电平损失。可是，存在以下问题:通常放大器因经时变化或温度变化而引起的放大率的变动，导致输出以及输入的电平精度恶化。关于(3)，通过放大器补偿IF单元的电平损失，通过在IF单元中具备电平检测部，从而解决在(2)中成为问题的电平精度。可是，需要具备电平检测部的结构，产生以下问题:设备安装面积变大、设备的成本增加。该问题与信号发生部的数目成比例地恶化。如上所述，在现有技术中，信号发生部或信号接收部的个数增加，用于传输信号的路径复杂化，因此，在CA或M1M0技术等的试验中，存在不能实现校正时间的缩短化的课题。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的在于，提供一种能够实现校正时间的缩短化的。本专利技术的技术方案1所涉及的试验装置具备:信号发生部(20)，发生用于输出至被试验装置(11)的第1信号；输出部(37)，被连接到所述被试验装置(11);路径选择部(30)，被设置在所述信号发生部(20)和所述输出部(37)之间，且对多个路径的其中一个进行选择；输入部(38)，输入来自所述被试验装置(11)的第2信号；信号接收部(23)，接收所述第2信号；修正值计算部(6a)，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值；输出侧回送部(31)，被设置在所述路径选择部(30)和所述输出部(37)之间，且被连接到将所述第1信号回送(loop back)至所述信号接收部(23)侧的回送路径(3a)或者所述输出部(37)的其中一个；以及输入侧回送部(34)，被设置在所述信号接收部(23)和所述输入部(38)之间，且被连接到所述回送路径(3a)以及所述输入部(38)的其中一个，其中，所述路径选择部(30)能够在输入输出间选择包含用于放大所述第1信号的放大器(305)的至少一个放大器路径(30a、30b)以及不包含所述放大器(305)的至少一个无放大器路径(30c)之中的其中一个路径，所述修正值计算部^a)在所述路径选择部(30)选择了所述无放大器路径(30c)时，在表示所述信号发生部(20)发生的所述第1信号的所述输出部(37)中的信号电平成为预先决定的校正的发送基准电平的状态的校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值。根据该结构，在本专利技术的技术方案1所涉及的试验装置中，修正值计算部基于在校正电平输出状态下信号接收部经由回送路径而接收到的信号电平，计算用于校正路径选择部具有的各路径的损失的修正值，因此，能够实现校正时间的缩短化。在本专利技术的技术方案2所涉及的试验装置中，提供一种如下的技术方案1所涉及的试验装置，所述试验装置具备:输入输出部(39)，从所述被试验装置(11)输入所述第2信号，并且将所述第1信号输出至所述被试验装置(11);分波部(36)，被连接到所述输入输出部(39)，且将从所述被试验装置(11)输入的信号和输出至所述被试验装置(11)的信号进行分波；第1切换部(32)，被设置在所述输出侧回送部(31)和所述输出部(37)之间，且将所述第1信号输出至所述输出部(37)以及所述分波部(36)的其中一个；以及第2切换部(33)，被设置在所述输入侧回送部(34)和所述输入部(38)之间，且从所述输入部(38)以及所述分波部(36)的其中一个输入所述第2信号。根据该结构，不论被试验装置是单向(simplex)通信或者双工(duplex)通信的哪一个的对应机种，本专利技术的技术方案2所涉及的试验装置都能够实现校正时间的缩短化。在本专利技术的技术方案3所涉及的试验装置中，提供一种如下的技术方案1所涉及的试验装置，所述信号发生部(20)具备:信号发生源(201)，发生信号；电平可变部(203)，使所述信号发生源(201)发生的信号的电平可变；第1输出调整部(206)，将第1控制信号输出至所述电平可变部(203)，以使相应于所述电平可变部(203)的输出电平，所述信号发生部(20)的输出电平成为预先决定的目标电平；第2输出调整部(6b)，将第2本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种试验装置，其特征在于，具备：信号发生部(20)，发生用于输出至被试验装置(11)的第1信号；输出部(37)，被连接到所述被试验装置(11)；路径选择部(30)，被设置在所述信号发生部(20)和所述输出部(37)之间，且对多个路径的其中一个进行选择；输入部(38)，输入来自所述被试验装置(11)的第2信号；信号接收部(23)，接收所述第2信号；修正值计算部(6a)，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值；输出侧回送部(31)，被设置在所述路径选择部(30)和所述输出部(37)之间，且被连接到将所述第1信号回送至所述信号接收部(23)侧的回送路径(3a)或者所述输出部(37)的其中一个；以及输入侧回送部(34)，被设置在所述信号接收部(23)和所述输入部(38)之间，且被连接到所述回送路径(3a)以及所述输入部(38)的其中一个，其中，所述路径选择部(30)能够在输入输出间选择包含用于放大所述第1信号的放大器(305)的至少一个放大器路径(30a、30b)以及不包含所述放大器(305)的至少一个无放大器路径(30c)之中的其中一个路径，所述修正值计算部(6a)在所述路径选择部(30)选择了所述无放大器路径(30c)时，在表示所述信号发生部(20)发生的所述第1信号的所述输出部(37)中的信号电平成为预先决定的校正的发送基准电平的状态的校正电平输出状态下，基于所述信号接收部(23)经由所述回送路径(3a)而接收到的信号电平，计算用于校正所述路径选择部(30)具有的各路径的损失的修正值。...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：山下纮司，菅野博文，大谷畅，大嶋真一郎，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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