接触孔的制作方法和半导体器件的湿法清洗方法技术

技术编号:11548775 阅读:110 留言:0更新日期:2015-06-03 22:44
一种接触孔的制作方法和半导体器件的湿法清洗方法。所述接触孔的制作方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上包括介质层;在所述介质层中形成接触孔;对剩余的所述介质层进行亲水化处理;对亲水化处理后的所述介质层进行湿法清洗处理。所述半导体器件的湿法清洗方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底包括待清洗层;对所述待清洗层进行亲水化处理;对亲水化处理后的所述待清洗层进行湿法清洗处理。本发明专利技术可以有效提高湿法清洗效果,最终提高半导体器件的性能。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种接触孔的制作方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上包括介质层;在所述介质层中形成接触孔;对剩余的所述介质层进行亲水化处理;对亲水化处理后的所述介质层进行湿法清洗处理。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄敬勇张海洋
申请(专利权)人:中芯国际集成电路制造上海有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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