一种光刻胶剥离液及其应用制造技术

技术编号:11491144 阅读:205 留言:0更新日期:2015-05-21 12:18
本发明专利技术公开了一种用于去除光阻残留物的清洗液及其组成。这种光阻残留物的清洗液含有(a)季胺氢氧化物,(b)醇胺,(c)溶剂,(d)聚醚脂肪酸酯。该清洗液能够明显的降低对金属的腐蚀速率,尤其是对金属铝基本没有腐蚀;同时能够更为有效地去除晶圆上的光阻残留物,在半导体晶圆清洗等领域具有良好的应用前景。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于去除光阻残留物的清洗液,其包含季胺氢氧化物,醇胺,有机溶剂,其特征在于,还含有聚醚脂肪酸酯。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:何春阳刘兵孙广胜黄达辉
申请(专利权)人:安集微电子科技上海有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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