内存的检测方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种内存的检测方法，该校验方法包括：在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据，并通过预定位数的CRC校验算法对提取的第一数据进行计算，得到第一校验码；在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输出内存的数据中提取第二数据，并通过预定位数的CRC校验算法对提取的数据进行计算，得到第二校验码；将第一校验码和第二校验码进行对比，根据对比结果确定内存的工作情况。本发明专利技术通过在旁路模式下对内存进行实时的检测，能够避免内存检测过程中对主干线上的数据处理造成影响，且不影响系统性能；还通过对输入和输出的同一数据进行相同的校验处理，增加内存检测的精准度，并及时的发现内存中存在的问题。

【技术实现步骤摘要】
内存的检测方法和装置
本专利技术涉及计算机领域，具体来说，涉及一种内存的检测方法和装置。
技术介绍
随着网络技术的房展，网络中所需检测与处理的信息量越来越大，因此，使用大容量数据的内存已成为必然趋势。在网络安全领域，由于网络安全设备对数据内容的敏感性，因此，内存芯片工作的正常与否直接影响着数据后续的检测与处理，也就是说，目前对于内存的检测显得十分必要和紧迫。而对于内存所出现的错误来说，根据错误产生的原因可分为硬错误和软错误，其中，硬错误是由硬件的损害或缺陷所引起的，因此硬错误所引起的数据不正确也是无法纠正的；而对于软错误来说，其是随机出现的，例如在内存附近突然出现电子干扰等干扰因素时，就很容易造成内存软错误的发生，而这类错误就需要内存的实时校验来检测。而目前常用的内存校验方法可包括内存奇偶校验与内存错误检查和纠正(ECC)校验。其中，对于内存奇偶校验来说，其主要是通过在原来数据位的基础上增加一个数据位的方式来检查当前8为数据的正确性，但随着数据位的增加，用来检验的数据位也成倍增加，因此当数据量非常大时，该校验算法所占用的资源就会非常多，而当出现校验错误时，系统就会中断，甚至会导致系统瘫痪。而对于ECC校验来说，其也是通过在原来的数据位上外加校验为来实现的，虽然其通过每次只增加一位校验位的方式克服了奇偶校验的数据位成倍增加所带来的问题，但是，带ECC校验的内存需要进行复杂的设置，并且，其在校验过程中需要主板的支持，并且，还需要在基本输入输出系统(BIOS)中进行相应的设置，那么在使用ECC校验内存的过程中，就会对系统的性能造成很大的影响，而这对于需要高速处理数据的网络安全设备则是完全不可取的；此外，带ECC校验的内存，其在价格上也并不占优势，比普通的内存要昂贵的多，显然，这并不符合企业级的生产。针对相关技术中在对内存进行校验时影响系统的性能的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
针对相关技术中在对内存进行校验时存在影响系统性能的问题，本专利技术提出一种内存的检测方法和装置，能够在旁路模式下对内存的工作情况进行实时的检测，避免了内存检测对系统的性能造成影响。本专利技术的技术方案是这样实现的：根据本专利技术的一个方面，提供了一种内存的检测方法。该检测方法包括：在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据，并通过预定位数的循环冗余校验码(CRC)的校验算法对提取的第一数据进行计算，得到第一校验码；在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输出内存的数据中提取第二数据，并通过预定位数的CRC校验算法对提取的数据进行计算，得到第二校验码；将第一校验码和第二校验码进行对比，根据对比结果确定内存的工作情况。其中，在接收到数据输入内存的信号的情况下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据。另外，在将第一校验码和第二校验码进行对比，并根据对比结果来确定内存的工作情况时，可在对比结果为第一校验码和第二校验码不同的情况下，纪录一次内存异常；并判断内存异常的次数是否达到预定的阈值；在内存异常的次数达到预先设定的阈值的情况下，确定内存工作异常。此外，在对内存进行检测时，可在预定的时间内对内存进行检测。此外，该检测方法进一步包括：根据内存所在系统的性能和/或内存检测精度要求，确定CRC校验算法的位数、以及提取规则。根据本专利技术的另一方面，提供了一种内存的检测装置。该检测装置包括：第一计算模块，用于在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据，并通过预定位数的CRC校验算法对提取的第一数据进行计算，得到第一校验码；第二计算模块，用于在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输出内存的数据中提取第二数据，并通过预定位数的CRC校验算法对提取的数据进行计算，得到第二校验码；分析模块，用于将第一校验码和第二校验码进行对比，根据对比结果确定内存的工作情况。其中，第一计算模块可包括提取模块，用于在旁路模式、且接收到数据输入内存的信号的情况下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据。此外，分析模块可包括：记录模块，用于在对比结果为第一校验码和第二校验码不同的情况下，纪录一次内存异常；判断模块，用于判断内存异常的次数是否达到预定的阈值；分析子模块，用于在内存异常的次数达到预先设定的阈值的情况下，确定内存工作异常。另外，该检测装置用于在预定的时间内对内存进行检测。此外，该检测装置进一步包括：确定模块，用于根据内存所在系统的性能和/或内存检测精度要求，确定CRC校验算法的位数、以及提取规则。本专利技术通过在旁路模式下对内存进行实时的检测，能够避免内存检测过程中对主干线上的数据处理造成影响，且不影响系统性能；还通过对输入和输出的同一数据进行相同的校验处理，增加内存检测的精准度，并及时的发现内存中存在的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是根据本专利技术实施例的内存的校验方法的流程图；图2是根据本专利技术实施例的报文数据的处理流程图；图3是根据本专利技术一具体实施例的内存的校验方法的流程图；图4是根据本专利技术实施例的内存的校验装置的框图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。根据本专利技术的实施例，提供了一种内存的检测方法。如图1所示，根据本专利技术实施例的检测方法包括：步骤S101，在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据，并通过预定位数的CRC校验算法对提取的第一数据进行计算，得到第一校验码；步骤S103，在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输出内存的数据中提取第二数据，并通过预定位数的CRC校验算法对提取的数据进行计算，得到第二校验码；步骤S105，将第一校验码和第二校验码进行对比，根据对比结果确定内存的工作情况。通过本专利技术的上述方案，通过在旁路模式下对内存进行实时的检测，能够避免内存检测过程中对主干线上的数据处理造成影响，且不影响系统性能；还通过对输入和输出的同一数据进行相同的校验处理，增加内存检测的精准度，并及时的发现内存中存在的问题。为了更好的理解本专利技术的上述技术方案，下面结合一具体实施例对本专利技术的上述技术方案进行详细阐述。如图2所示的报文数据处理流程图，当有数据需要写入内存时，首先接收需要写入内存的数据，并将接收到的数据发送至写入内存控制模块，其中，写入内存控制模块用于在接收到需要写入内存的报文的情况下，产生报文写入内存信号以及时序传送给内存错误检测模块和内存；而当有数据从内存读出时，则是由读出内存控制模块接收从内存中读出的数据，其中，读出内存控制模块用于在接收到从内存中读出的数据的情况下，产生报文读出内存信号以及时序并传送给内存错误检测模块以及报文后续处理模块。通过以上描述可以看出，内存错误检测模块可以在接收到数据输入/输出内存的信号的情况下，对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存的检测方法，其特征在于，包括：在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据，并通过预定位数的循环冗余校验码CRC的校验算法对提取的所述第一数据进行计算，得到第一校验码；在所述旁路模式下，根据所述预定的提取规则从即将输出所述内存的数据中提取第二数据，并通过所述预定位数的CRC校验算法对提取的所述数据进行计算，得到第二校验码；将所述第一校验码和所述第二校验码进行对比，根据对比结果确定所述内存的工作情况。

【技术特征摘要】
1.一种内存的检测方法，其特征在于，包括：在旁路模式下，根据预定的提取规则从即将输入内存的数据中提取第一数据，并通过预定位数的循环冗余校验码CRC的校验算法对提取的所述第一数据进行计算，得到第一校验码；在所述旁路模式下，根据所述预定的提取规则从即将输出所述内存的数据中提取第二数据，并通过所述预定位数的CRC校验算法对提取的所述数据进行计算，得到第二校验码；将所述第一校验码和所述第二校验码进行对比，根据对比结果确定所述内存的工作情况；将所述第一校验码和所述第二校验码进行对比，根据所述对比结果确定所述内存的工作情况包括：在所述对比结果为所述第一校验码和所述第二校验码不同的情况下，纪录一次内存异常；判断所述内存异常的次数是否达到预定的阈值；在所述内存异常的次数达到所述预定的阈值的情况下，确定所述内存工作异常；其中，在接收到数据输入所述内存的信号的情况下，根据所述预定的提取规则从即将输入所述内存的数据中提取所述第一数据；在预定的时间内对所述内存进行检测。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法进一步包括：根据所述内存所在系统的性能和/或内存检测精度要求，确定所述CRC校验算法的位数、以及所述提取规则。3.一种内存的检测装置，其特征在于，包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯蕊，
申请(专利权)人：曙光信息产业北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11