内存检测方法和内存检测装置制造方法及图纸

一种内存检测方法和内存检测装置。方法包括以下步骤：对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作(S101)；对进行写入操作的基本单元进行回读检测，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元(S102)。本内存检测方法和内存检测装置，通过对内存物理单元上的基本单元进行间隔写入操作，在对执行写入操作后的基本单元进行回读时，能够及时发现存在故障而互相影响的相邻基本单元，从而提高了内存检测的准确性，提高了内存和设备的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】内存检测方法和内存检测装置
本专利技术涉及信息
，特别涉及一种内存检测方法和内存检测装置。
技术介绍
随着存储芯片集成度的不断提高，芯片内部存储单元间相互干扰问题变得越来越突出，而内存是否可靠对设备的可靠性起到至关重要的作用。现有的内存检测方法，按照逻辑地址依次递增或依次递减的顺序，对内存进行写入和回读检测，然而，逻辑地址依次递增或依次递减进行写入和回读的过程中，在物理结构上相邻的单元可能写入相同的数据，而当物理结构上相邻的单元数据相同(即电荷相同)时，通常不会相互影响进而产生数据变化，因此无法检测到其中的失效单元，导致检测结果不准确，进而影响到内存和设备的可靠性。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种内存检测方法和内存检测装置，用以解决现有技术无法及时发现失效的存储单元，进而影响到内存和设备可靠性的问题。本专利技术实施例提供一种内存检测方法，包括：对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作；对进行写入操作的基本单元进行回读检测，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元。本专利技术实施例提供一种内存检测装置，包括：写入模块，用于对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作；回读检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：间隔设定列数逐行、或者，间隔设定行数逐列对内存物理单元中的基本单元进行写入操作，直至遍历所述内存物理单元中的全部基本单元，所述基本单元用来表示所述内存物理单元中的最小存储单元，即所述内存物理单元中最基本的存储结构；对每个所述基本单元进行写入操作后，立刻进行回读检测操作，或者，对至少一行或一列基本单元进行写入操作后，对所述至少一行或一列进行写入操作的基本单元进行回读检测操作，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元；所述间隔设定列数逐行、或者，间隔设定行数逐列对内存物理单元中的基本单元进行写入操作之前，还包括：对所述内存物理单元中的基本单元进行初始化操作；对初始化操作后的基本单元进行读取操作，以确定读取数值与初始化数值不同的基本单元。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设定列数为n，n大于0且小于等于每行中基本单元的个数，或者，所述设定列数为2m，m为大于0的整数，且2m小于等于每行中基本单元的个数；所述设定行数为n，n大于0且小于等于每列中基本单元的个数，或者，所述设定行数为2m，m为大于等于0的整数，且2m小于等于每列中基本单元的个数。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述间隔设定列数逐行对所述基本单元进行写入操作，直至遍历所述内存物理单元中的全部基本单元，包括：以所述内存物理单元中第一行的起始位置为起点，间隔设定列数逐行对所述基本单元进行写入操作；当对所述内存物理单元中的最后一行进行写入操作后，返回所述第一行进行写入操作，或者，以所述起始位置的下一个基本单元为起点，间隔设定列数逐行对所述基本单元进行写入操作。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述间隔设定行数逐列对所述基本单元进行写入操作，直至遍历所述内存物理单元中的全部基本单元，包括：以所述内存物理单元中第一列的起始位置为起点，间隔设定行数逐列对所述基本单元进行写入操作；当对所述内存物理单元中的最后一列进行写入操作后，返回所述第一列进行写入操作，或者，以所述起始位置的下一个基本单元为起点，间隔设定行数逐列对所述基本单元进行写入操作。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述写...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶荣标，张志龙，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：
国别省市：