内存检测方法和内存检测装置制造方法及图纸

一种内存检测方法和内存检测装置。方法包括以下步骤：对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作(S101)；对进行写入操作的基本单元进行回读检测，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元(S102)。本内存检测方法和内存检测装置，通过对内存物理单元上的基本单元进行间隔写入操作，在对执行写入操作后的基本单元进行回读时，能够及时发现存在故障而互相影响的相邻基本单元，从而提高了内存检测的准确性，提高了内存和设备的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】内存检测方法和内存检测装置
本专利技术涉及信息
，特别涉及一种内存检测方法和内存检测装置。
技术介绍
随着存储芯片集成度的不断提高，芯片内部存储单元间相互干扰问题变得越来越突出，而内存是否可靠对设备的可靠性起到至关重要的作用。现有的内存检测方法，按照逻辑地址依次递增或依次递减的顺序，对内存进行写入和回读检测，然而，逻辑地址依次递增或依次递减进行写入和回读的过程中，在物理结构上相邻的单元可能写入相同的数据，而当物理结构上相邻的单元数据相同(即电荷相同)时，通常不会相互影响进而产生数据变化，因此无法检测到其中的失效单元，导致检测结果不准确，进而影响到内存和设备的可靠性。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种内存检测方法和内存检测装置，用以解决现有技术无法及时发现失效的存储单元，进而影响到内存和设备可靠性的问题。本专利技术实施例提供一种内存检测方法，包括：对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作；对进行写入操作的基本单元进行回读检测，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元。本专利技术实施例提供一种内存检测装置，包括：写入模块，用于对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作；回读检测模块，用于对进行写入操作的基本单元进行回读检测，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元。本专利技术实施例提供的内存检测方法和内存检测装置，通过对内存物理单元上的基本单元进行间隔写入操作，在对执行写入操作后的基本单元进行回读时，能够及时发现存在故障而互相影响的相邻基本单元，从而提高了内存检测的准确性，提高了内存和设备的可靠性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术提供的内存检测方法第一实施例的流程图；图2a为本专利技术提供的间隔2列进行逐行写入操作的执行顺序示意图；图2b为本专利技术提供的间隔2列进行逐行写入操作内存物理单元的数据变化示意图；图3a为本专利技术提供的间隔4列进行逐行写入操作的执行顺序示意图；图3b为本专利技术提供的间隔4列进行逐行写入操作内存物理单元的数据变化示意图；图4a为本专利技术提供的间隔3列进行逐行写入操作的执行顺序示意图；图4b为本专利技术提供的间隔3列进行逐行写入操作内存物理单元的数据变化示意图；图5为本专利技术提供的内存检测装置第一实施例的结构图；图6为本专利技术提供的内存检测装置第一实施例的结构图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术提供的内存检测方法第一实施例的流程图，如图1所示，该方法包括：S101、对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作；S102、对进行写入操作的基本单元进行回读检测，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元。本专利技术实施例提供的内存检测方法中涉及的内存，可以是基站、无线网络控制器、服务器、核心网设备等通信设备上的内存，还可以是手机、计算机等终端设备上的内存。本专利技术实施例中涉及的内存物理单元可以是上述各种设备中的整个内存，也可以是上述各种设备的内存中的某一块物理存储体(物理存储体的数量通常以BANK表示)。基本单元用来表示内存物理单元中的最小存储单元，即内存物理单元中最基本的存储结构。每个基本单元中存储一个数据信息0或1(即未充电荷或充满电荷)，基本单元呈矩阵状排列。如果内存物理单元存在设计缺陷，则会导致某些基本单元失效，而失效的基本单元会影响或干扰相邻的基本单元，失效的基本单元及其相邻的受到影响的基本单元内的电荷会发生变化，即失效的基本单元及其相邻的受到影响的基本单元内存储的数据可能从1变成0，或者从0变成1，由此引发内存数据错误。然而，同行或同列的相邻基本单元，如果其数值均为0或均为1(即都未充电荷或充满电荷)时，通常不会相互影响而导致存储的数据发生变化。而如果同行或同列相邻的基本单元一个数据为1，另一个数据为0，则可能会出现数据为1的基本单元上的电荷流向数据为0的基本单元的情况。据此，本专利技术提供的内存检测方法，对内存物理单元中的基本单元进行间隔写入操作，以使相邻的基本单元中的数据不同，由于失效的基本单元在与相邻的基本单元存储数据不同的情况下，会由于失效的基本单元的影响而导致失效的基本单元和相邻的基本单元存储数据发生变化，因此，在写入操作之后再进行回读检测操作时，可以通过回读的数据与写入数据是否不一致来确定失效的基本单元。本专利技术实施例提供的内存的检测方法，如果基本单元的初始值为0，则可以对基本单元进行写1操作；如果基本单元的初始值为1，则可以对基本单元进行写0操作。对基本单元进行间隔写入操作可以逐行进行，在每行中间隔一定列数进行写入操作，所谓逐行进行间隔写入操作可以是指：在对任一行中的一个基本单元进行写入操作后，跳过设定列数再进行写入操作，直到该行末尾未进行写入操作的基本单元个数小于设定间隔列数为止，再对下一行进行间隔写入操作；对基本单元进行间隔写入操作还可以逐列进行，具体可以是：在对任一列中的一个基本单元进行写入操作后，跳过设定行数再进行写入操作，直到该列末尾未进行写入操作的基本单元个数小于设定间隔行数为止，再对下一列进行间隔写入操作。以逐行进行写入操作为例，间隔的列数可以为n，n大于0，且小于等于每行中基本单元的个数。还有另外一种实现方式：考虑到在实际进行检测操作时，通常需要根据逻辑地址进行寻址获知基本单元在内存中的实际的物理位置，而逻辑地址通常是二进制的，因此，间隔的列数可以选取，2m为大于0的整数，且2m小于等于每行中基本单元的个数。逐列进行写入操作时，间隔的行数也可以为n或2m。仍以逐行进行写入操作为例，由于在每行中进行的是间隔写入操作，因此当第一次遍历所有行之后(一次遍历是指：从第一行开始进行写入操作直至完成最后一行的写入操作)，每行中仍有至少一半的基本单元没有进行写入操作。因此，可以进行第二次遍历，对每行中没有进行写入操作的基本单元进行间隔写入操作，直至对所有内存物理单元中的基本单元完成写入操作。需要说明的是，遍历的次数取决于间隔的列数，例如：当间隔的列数为2时，只需经过两次遍历便可以完成对内存物理单元中的所有基本单元的写入操作。间隔列数越大，所需的遍历操作次数越多。可以看出，本专利技术实施例提供的内存检测方法中，在对任意大小的内存物理单元进行检测时，如果逐行进行写入操作，则可以通过至少两次遍历实现对该内存物理单元中的所有基本单元进行检测，而在每一次遍历过程中检测的基本单元的物理地址都是连续的。因此，在进行内存检测时，可以将整个内存按照空间结构划分为任意块内存物理单元(其中每一块内存物理单元可以是一个BANK或几个BANK)，可以逐块对内存物理单元进行检测(对于每块内存物理单元进行至少两次遍历以实现对该块内存物理单元中所有基本单元进行检测)，从本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：间隔设定列数逐行、或者，间隔设定行数逐列对内存物理单元中的基本单元进行写入操作，直至遍历所述内存物理单元中的全部基本单元，所述基本单元用来表示所述内存物理单元中的最小存储单元，即所述内存物理单元中最基本的存储结构；对每个所述基本单元进行写入操作后，立刻进行回读检测操作，或者，对至少一行或一列基本单元进行写入操作后，对所述至少一行或一列进行写入操作的基本单元进行回读检测操作，以确定写入数值与回读数值不同的基本单元；所述间隔设定列数逐行、或者，间隔设定行数逐列对内存物理单元中的基本单元进行写入操作之前，还包括：对所述内存物理单元中的基本单元进行初始化操作；对初始化操作后的基本单元进行读取操作，以确定读取数值与初始化数值不同的基本单元。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设定列数为n，n大于0且小于等于每行中基本单元的个数，或者，所述设定列数为2m，m为大于0的整数，且2m小于等于每行中基本单元的个数；所述设定行数为n，n大于0且小于等于每列中基本单元的个数，或者，所述设定行数为2m，m为大于等于0的整数，且2m小于等于每列中基本单元的个数。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述间隔设定列数逐行对所述基本单元进行写入操作，直至遍历所述内存物理单元中的全部基本单元，包括：以所述内存物理单元中第一行的起始位置为起点，间隔设定列数逐行对所述基本单元进行写入操作；当对所述内存物理单元中的最后一行进行写入操作后，返回所述第一行进行写入操作，或者，以所述起始位置的下一个基本单元为起点，间隔设定列数逐行对所述基本单元进行写入操作。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述间隔设定行数逐列对所述基本单元进行写入操作，直至遍历所述内存物理单元中的全部基本单元，包括：以所述内存物理单元中第一列的起始位置为起点，间隔设定行数逐列对所述基本单元进行写入操作；当对所述内存物理单元中的最后一列进行写入操作后，返回所述第一列进行写入操作，或者，以所述起始位置的下一个基本单元为起点，间隔设定行数逐列对所述基本单元进行写入操作。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述写...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶荣标，张志龙，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：
国别省市：