一种内存测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术适用于计算机技术领域，提供了一种内存测试装置，包括测试主板、中央处理器、芯片组以及内存插槽，中央处理器以及芯片组设置于测试主板的TOP面，内存插槽设置于所述测试主板的BOT面，且内存插槽包括至少一台式电脑内存插槽和至少一笔记本电脑内存插槽，台式电脑内存插槽和笔记本电脑内存插槽具有相同的外接电源。借此，本发明专利技术能够同时测试台式电脑内存和笔记本电脑内存，避免撞件风险，操作方便，提高生产效率，缩减生产成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机领域，尤其涉及一种内存测试装置。
技术介绍
在现有的内存制造过程中，厂家对内存产品进行质量测试检验所使用的测试平台一般为台式电脑主板或笔记本电脑主板，其通常具有以下缺点这类测试设备并非工业化设备，其使用寿命较短，生产测试设备所投放的费用巨大；主板的内存插座和CPU (Central Processing Unit,中央处理器)及Chipset (芯片组)都在同一面，在测试时进行插拔操作不方便并存在撞件风险；不能同时测试台式电脑内存 和笔记本电脑内存，生产效率较低；主板的内存VDD (内存工作电压)和VREF电压(内存基准电压)是不可指定设置，无法对不同特性的内存设定特定的电压图形进行测试，产品测试后的质量达不到预期的效果。综上可知，现有的内存测试装置在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。
技术实现思路
针对上述的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种内存测试装置，能够在定指内存工作电压和内存基准电压下或在波动内存工作电压值下进行测试内存，并且能够同时测试台式电脑内存和笔记本电脑内存，避免撞件风险，操作方便，提高生产效率，缩减生产成本。为了实现上述目的，本专本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存测试装置，包括测试主板、中央处理器、芯片组以及内存插槽，其特征在于，所述中央处理器以及所述芯片组设置于所述测试主板的TOP面，所述内存插槽设置于所述测试主板的BOT面，且所述内存插槽包括至少一台式电脑内存插槽和至少一笔记本电脑内存插槽，所述台式电脑内存插槽和所述笔记本电脑内存插槽具有相同的外接电源。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张卫民，陈金锋，
申请(专利权)人：记忆科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：