【技术实现步骤摘要】
本专利技术实施例涉及半导体技术，尤其涉及测试方法以及可编程处理器。
技术介绍
存储器已广泛地被使用。为确保存储器的可靠性，上市前需要对存储器进行测试。现有技术中CPU通过承载在操作系统之上的测试程序对存储器进行测试，测试过程中对存储器进行访问能够达到的最大频率相对较低。
技术实现思路
为提高测试过程中对存储器进行访问能够达到的最大频率，提供了测试方法和可编程处理器。第一方面，提供了一种测试方法，可编程处理器确定至少一个存储器；所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试。现有技术中，对存储器进行测试是通过软件线程实现的。具体来说，测试程序是承载在操作系统之上的应用程序。CPU需要先通过编译器将承载在操作系统之上的测试程序转化为计算机指令，然后再执行测试程序对应的计算机指令。因此，现有技术执行测试程序的效率较低。上述技术方案中，可编程处理器运行至少一个硬件线程，硬件线程可以直接调用计算机指令。因此，上述技术方案可以提升测试过程中对存储器进行访问能够达到的最大频率，进而提高测试程序的执行效率。在所述第一方面提供的所述测试方法的第一种可能的实现方式中...
【技术保护点】
一种测试方法，其特征在于，包括：可编程处理器确定至少一个存储器；所述可编程处理器运行至少一个硬件线程对所述至少一个存储器进行测试。
【技术特征摘要】
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