面板时间延迟检测电路制造技术

本发明专利技术提供一种面板时间延迟检测电路，其应用于触控面板的基线校正，包括检测放大器、比较器以及校正单元。检测放大器接收来自触控面板的电极的电容基线检测信号，检测放大器将电容基线检测信号转换为检测结果信号。比较器将检测结果信号与参考信号做比较，据此产生比较信号。校正单元依据比较信号产生控制信号，并将控制信号传送至检测放大器，用以控制检测放大器校正检测结果信号。当检测结果信号大于参考信号时，检测放大器依据控制信号而将电容基线检测信号减去校正信号，以使检测放大器产生的检测结果信号低于一临界值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触控面板，且特别是一种应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路。
技术介绍
请参照图1，图1是传统的电容触控面板的示意图。触控面板1包括触控界面11、驱动电路12与检测电路13。触控界面11通常具有多个彼此交错的电极，驱动电路12提供驱动信号TX至触控界面11的其中一个轴向的电极。检测电路13则用以检测触控界面11的另一个轴向的电极的电容值（或电容值变化）。例如：如图1所示，检测电路13检测触控界面11的另一个轴向的电极的电容基线检测信号RX。因为触控界面11的尺寸，不同位置的电极所受到驱动信号TX和产生电容基线检测信号RX的信号传递路径不仅不相同，路径长度也不相同。依据信号传递的不同长度，虽然使用相同的驱动信号TX，不同路径长度所造成的电阻-电容延迟（RC delay）（或称为时间延迟）会不同，使得所产生的电容基线检测信号RX会有明显差异。请同时参照图1和图2，图2是传统的电容触控面板的电容基线检测信号与校正信号的波形图。如图1所示，路径P1的长度明显比路径P2的长度还短，因此，在时间轴上，检测电路13所量到对应于路径P1的检测信号会早于对应于路径P2的检测信号。另外，具有较短路径的检测信号可能会较短促（rush）且具有较大的峰值。如图2所示，路径P1的信号的峰值大于路径P2的信号的峰值，且相对而言路径P2的信号较平缓。另外，较短路径所对应的检测信号的信号变化范围可能会较容易超出电路预设的动态范围（dynamic range）。如图2所示，在临界值Th以下的信号变化范围是预设的动态范围，路径P1的信号的一部分大于临界值Th，此部分是溢出信号（overflow或loss signal），传统的检测电路13会把溢出信号截掉，使得检测信号造成失真。为了达到基线校正的目的，传统的作法是提供一个校正信号，对每一个不同路径的检测信号做校正，如图2所示的校正信号的波形，校正信号的波形是在检测信号的时间轴的位置提供一个抑制（或扣抵）的信号，例如图2的校正信号由第一电平Va改变为第二电平Vb。不论是路径P1或路径P2都可减去一个相同的校正信号，避免产生检测信号超出动态范围的情况。然而，不同路径的检测信号在时间轴上的位置并不相同，使得校正信号可能无法对应不同路径所产生的位于不同时间轴上的检测信号。因此，由于触控面板的尺寸对检测信号的路径所造成的差异，传统的校正方式不容易对触控面板上所有路径的检测信号进行校正。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路，以对触控面板进行实时的基线校正。本专利技术实施例提供一种应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路，包括检测放大器、比较器以及校正单元。检测放大器接收来自触控面板的电极的电容基线检测信号，检测放大器将电容基线检测信号转换为检测结果信号。比较器耦接检测放大器，并将检测结果信号与参考信号做比较，据此产生比较信号。校正单元耦接检测放大器以及比较器，校正单元依据比较信号产生控制信号，并将控制信号传送至检测放大器，用以控制检测放大器校正检测结果信号。当检测结果信号大于参考信号时，检测放大器依据控制信号而将电容基线检测信号减去校正信号，以使检测放大器产生的检测结果信号低于一临界值。综上所述，本专利技术实施例提供一种应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路，其可对触控面板进行实时的基线校正。所述面板时间延迟检测电路可提供电阻-电容延迟的实时监测，且是自动的、适应性的校正。所述面板时间延迟检测电路是独立的检测机制，方便地结合至现有的触控面板的检测电路的架构中。为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，但是此等说明与所附图式仅是用来说明本专利技术，而非对本专利技术的权利要求范围作任何的限制。附图说明图1是传统的电容触控面板的示意图。图2是传统的电容触控面板的电容基线检测信号与校正信号的波形图。图3是本专利技术实施例提供的应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路的电路图。图4是本专利技术另一实施例提供的应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路的电路图。【符号说明】1：触控面板11：触控界面12：驱动电路13：检测电路P1、P2：路径TX、Vdrv：驱动信号RX、SS：电容基线检测信号Th：临界值E：电极C、Cm、Cint：电容3、4：面板时间延迟检测电路31、41：检测放大器32、42：比较器33、43：校正单元34：模拟/数字转换器Vout：检测结果信号Vref：参考信号Kflag：比较信号CK：控制信号Dout：数字信号415：电流镜单元411：第一电流源412：第二电流源413：第一开关414：第二开关I1：第一电流I2：第二电流A：第一端B：第二端VDD：供应电压N1、N2、N3：N型晶体管P1、P2、P3：P型晶体管biasa、biasb：偏压GND：接地具体实施方式〔应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路的实施例〕请参照图3，图3是本专利技术实施例提供的应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路的电路图。应用于触控面板基线校正的面板时间延迟检测电路3包括检测放大器31、比较器32、校正单元33与模拟/数字转换器34。检测放大器31连接触控面板的电极，在此的触控面板是电容式触控面板。检测放大器31检测触控面板的电极的电容，所述电容可以是自容或互容。如图3所示，电容C的一端接收驱动信号Vdrv，电容C的另一端连接电极E，电极E以电路的节点表示，其代表触控面板的其中一个电极。本专利技术并不限定所述电极的形状，面板时间延迟检测电路3是用于连接至电极E以检测电容值。比较器32耦接检测放大器31，校正单元33耦接检测放大器31以及比较器32。模拟/数字转换器34耦接检测放大器31。模拟/数字转换器34将检测放大器31产生的检测结果信号Vout转换为数字信号Dout。在本实施例中，模拟/数字转换器34随着触控面板所使用的触控检测的算法而设计，本领域的普通技术人员可以根据实际需要而改变模拟/数字转换器34，本专利技术并不因此限定。检测放大器31接收来自触控面板的电极E本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面板时间延迟检测电路，应用于触控面板的基线校正，其特征在于，所述面板时间延迟检测电路包括：一检测放大器，接收来自所述触控面板的一电极的一电容基线检测信号，所述检测放大器将所述电容基线检测信号转换为一检测结果信号；一比较器，耦接所述检测放大器，所述比较器将所述检测结果信号与一参考信号做比较，据此产生一比较信号；以及一校正单元，耦接所述检测放大器与所述比较器，所述校正单元依据所述比较信号产生一控制信号，并将所述控制信号传送至所述检测放大器，用以控制所述检测放大器校正所述检测结果信号；其中，当所述检测结果信号大于所述参考信号时，所述检测放大器依据所述控制信号而将所述电容基线检测信号减去一校正信号，以使所述检测放大器产生的所述检测结果信号低于一临界值。

【技术特征摘要】
2013.10.09 TW 1021365201.一种面板时间延迟检测电路，应用于触控面板的基线校正，其特征
在于，所述面板时间延迟检测电路包括：
一检测放大器，接收来自所述触控面板的一电极的一电容基线
检测信号，所述检测放大器将所述电容基线检测信号转换为一检测
结果信号；
一比较器，耦接所述检测放大器，所述比较器将所述检测结果
信号与一参考信号做比较，据此产生一比较信号；以及
一校正单元，耦接所述检测放大器与所述比较器，所述校正单
元依据所述比较信号产生一控制信号，并将所述控制信号传送至所
述检测放大器，用以控制所述检测放大器校正所述检测结果信号；
其中，当所述检测结果信号大于所述参考信号时，所述检测放
大器依据所述控制信号而将所述电容基线检测信号减去一校正信
号，以使所述检测放大器产生的所述检测结果信号低于一临界值。
2.根据权利要求1所述的面板时间延迟检测电路，其特征在于，所述
参考信号代表所述临界值，所述面板时间延迟检测电路使所述检测
放大器产生的所述检测结果信号低于所述参考信号。
3.根据权利要求1所述的面板时间延迟检测电路，其特征在于，所述
面板时间延迟检测电路还包括：
一模拟/数字转换器，耦接所述检测放大器，将所述检测结果信
号转换为一数字信号。
4.根据权利要求1所述的面板时间延迟检测电路，其特征在于，所述
检测放大器包括：
至少一电流源，产生一电流，所述电流代表所述校正信号；
至少一开关单元，耦接所述电流源与所述校正单元，接收所述
校正单元的所述控制信号，并依据所述控制信号控制所述电流源是
否耦接所述触控面板的所述电极；
一电流镜单元，所述电流镜单元具有一第一端与一第二端，所
述电流镜单元的第一端用以耦接于所述电极，所述电流镜单元对由
所述电极所接收的所述电容基线检测信号做相位反转，并于所述电
流镜单元的第二端产生所述检测结果信号，其中所述检测结果信号
与所述电容基线检测信号的相位相反；以及
一电容，所述电容的第一端连接所述电流镜单元的第二端，所
述电容的第二端连接一接地；
其中，当所述检测结果信号大于所述参考信号时，所述开关单
元依据所述控制信号而将所述电容基线检测信号减去所述电流源的
所述电流。
5.根据权利要求1所述的面板时间延迟检测电路，其特征在于，所述
检测放大器包括：
一第一电流源，所述第一电流源耦接一供应电压，并产生一第
一电流；
一第二电流源，所述第二电流源耦接一接地，并产生一第二电
流，所述第一电流与所述第二电流代表所述校正信号；
一第一开关单元，耦接所述第一电流源与所述校正单元，所述
第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑智仁，徐建昌，
申请(专利权)人：奕力科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71